-
銅牌會(huì)員 第 6 年
上海波銘科學(xué)儀器有限公司
認(rèn)證:工商信息已核實(shí)
- 產(chǎn)品分類
- 品牌分類
- 光譜探測(cè)系統(tǒng)
- CMOS相機(jī)
- 光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
- 光源/激光器
- 光譜儀
- 光電探測(cè)器
- 電子數(shù)據(jù)采集器
- 光學(xué)平臺(tái)
- 電動(dòng)位移臺(tái)
- 手動(dòng)位移臺(tái)
- 調(diào)整架
- 光學(xué)元件
- 激光器和激光量測(cè)
- 光學(xué)平臺(tái)和光學(xué)機(jī)械
- 光譜系統(tǒng)
- 光電探測(cè)系統(tǒng)
- 電學(xué)測(cè)試儀表
- 低溫和探針臺(tái)
- 半導(dǎo)體材料測(cè)試
- 探針臺(tái)顯微鏡系統(tǒng)(含測(cè)試機(jī))
-
儀企號(hào)
上海波銘科學(xué)儀器有限公司
-
汞探針測(cè)試價(jià)格:面議- 品牌:上海波銘
- 產(chǎn)地:上海 浦東新區(qū)
LEI Model2017B,通過汞探針接觸方法,對(duì)各類半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進(jìn)行測(cè)試,特別適合GaN.SiC等化合物材料。
-
汞CV測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格:面議- 品牌:上海波銘
- 產(chǎn)地:上海 浦東新區(qū)
汞CV測(cè)試系統(tǒng),用于對(duì)外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測(cè)試;
-
CV-1500非接觸CV測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格:面議- 品牌:上海波銘
- 產(chǎn)地:上海 浦東新區(qū)
CV-1500,用于測(cè)試界面和介電層的科研平臺(tái),基于SDIZLCorona-Kelvin技術(shù),可以進(jìn)行非接觸C-V/I-V測(cè)試。







