TESCAN VEGA COMPACT 秉承了前一代 VEGA 系列電鏡的優(yōu)異性能，是一款入門級(jí)，但是功能強(qiáng)大的分析型鎢燈絲掃描電鏡。緊湊簡約的配置、優(yōu)化的成像能力以及集成的元素成分分析功能，VEGA...

TESCAN MIRA 是 TESCAN 推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡，配置有高亮度肖特基場發(fā)射電子槍，在TESCAN 的 Essence? 操作軟件的同一個(gè)窗口中實(shí)現(xiàn)了 SEM 成像和實(shí)時(shí)元素分...

TESCAN VEGA 第四代鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence? 電鏡操控軟件系統(tǒng)，將掃描形貌圖像與元素實(shí)時(shí)分析集成于同一個(gè)掃描窗口中。這種組合大大簡化了樣品表面形貌的采集及所含元素的...

通用組合水平式檢測干涉儀（數(shù)字化相移分析系列）是一款高性能模塊化組合激光檢測干涉儀。它依據(jù)可模塊化組合的設(shè)計(jì)理念和通過不同的組合模式，靈活地滿足不同的檢測需求。進(jìn)而在結(jié)構(gòu)簡單、適用于多種被測面的前提下...

現(xiàn)場GX球面檢測干涉儀（數(shù)字化相移分析系列）是一種高性能模塊化組合檢測干涉儀。它采用國內(nèi)外SC的組合式激光干涉模塊作為核心部件，主要用于檢測高精度快速球面和曲率半徑球面面形。通過模塊化的設(shè)計(jì)理念，針對(duì)...

無應(yīng)力平面檢測干涉儀（數(shù)字化相移分析系列）是高性能模塊化組合檢測干涉儀中的一種，它采用國內(nèi)外SC的組合式激光干涉儀作為核心部件，主要用于GX檢測高精度平面，該產(chǎn)品包括光源、主機(jī)、成像以及鏡頭和相移等四...

Leica EM UC7超薄切片機(jī)可以在室溫進(jìn)行半薄和超薄切片，為光學(xué)顯微鏡，透射電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡和原子力顯微鏡提供WM的切片?？杉友bLeica EM FC7冷凍超薄切片系統(tǒng)...

Leica EM TIC 3X通過離子槍激發(fā)獲得的離子束，以垂直于樣品側(cè)面縱向轟擊樣品，可獲得高質(zhì)量無應(yīng)力“切割”截面，以用于掃描電子顯微鏡（SEM），顯微結(jié)構(gòu)分析（EDS，WDS，Auger，EBS...

徠卡EM TXP 標(biāo)靶面制備系統(tǒng)具有定點(diǎn)修塊拋光功能，是用鋸，磨，銑削，拋光樣品后，供掃描電鏡，透射電鏡，和LM技術(shù)檢測。 帶有一體化體視鏡，用于精確定位及對(duì)較細(xì)微難以觀察的目標(biāo)位置進(jìn)行樣品處理...

為保持競爭力，持續(xù)改進(jìn)生產(chǎn)、保持低缺陷率以 及滿足客戶要求都極具挑戰(zhàn)性。徠卡開發(fā)的 S9 體視顯微鏡系列可幫助您應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)。該系列顯微鏡具有出色的光學(xué)品質(zhì)，采用 FusionOptics 融合光學(xué)技...

通過采用FusionOptics?變焦，Leica顯微系統(tǒng)建立了一個(gè)新的立體顯微鏡檢查標(biāo)準(zhǔn)。曾經(jīng)認(rèn)為在光學(xué)領(lǐng)域不能實(shí)現(xiàn)的都可以通過實(shí)現(xiàn)。放大倍率為7.8X-160X，物鏡0.63X-5X，以及眾多可供...

使用徠卡 EM RES102，使您的樣品具備ZG水平的靈活性，具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結(jié)構(gòu)。獨(dú)特的離子束研磨系統(tǒng)結(jié)合了在一個(gè)單工作臺(tái)面單元上制備TEM、SEM和LM樣品的特點(diǎn)。 各種樣...

Leica DVM6是有徠卡自主研發(fā)、顛覆傳統(tǒng)的革命性產(chǎn)品。工業(yè)質(zhì)量控制領(lǐng)域?qū)暧^成像、顯微成像和圖像處理均有著Z嚴(yán)格的的要求，創(chuàng)新的數(shù)字技術(shù)將使其尤為收益。DVM6不僅具備出眾的光學(xué)品質(zhì)，還在量化分...

Leica DM4 M——工業(yè)測量正置金相顯微鏡?？膳浣幼詣?dòng)掃描臺(tái)進(jìn)行多視場非金屬夾雜物和顆粒度分析、汽車清潔度分析系統(tǒng)。具備明場、暗場、偏光、干涉等多種觀察方式?？奢p松調(diào)用之前的顯微鏡設(shè)置并通過獨(dú)特...

徠卡 DM2700 M 正置金相顯微鏡由高質(zhì)量的徠卡光學(xué)元件以及ZX進(jìn)的通用白光 LED 照明組成。對(duì)于金相學(xué)、地球科學(xué)、法醫(yī)檢查以及材料質(zhì)控和研究來說，它是進(jìn)行所有類型常規(guī)檢查的理想工具。徠卡 DM...

對(duì)于多相（基體+其他相）的材料，如果通過觀察檢驗(yàn)，形層還存在，那么就需要利用振動(dòng)拋光機(jī)（PRESI VIBROTECH 300 Vibratory Polisher）再進(jìn)行20~30分鐘的振動(dòng)拋光以充...