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銅牌會員 第 11 年
上海爾迪儀器科技有限公司
認證：工商信息已核實
- 產(chǎn)品分類
- 品牌分類
- （ 美國）美國必能信
- （ 意大利）意大利Copan
- （ 日本）日本堅山
- （ 美國）賽默飛世爾
- （ 德國）德國布魯克
- （ 日本）日本堅山
- （ 日本）日本堀場
- （ 德國）德國relyon
- （ 德國）Diener
- （ 浦東新區(qū)）Rexy
- （ 浦東新區(qū)）LAC
- （ 德國）德國好樂
- （ 日本）日本雅馬拓
- （ 韓國）韓國杰奧特
- （ 韓國）JEIO TECH
- （ 日本）日本KDF
- （ 德國）克呂士
- （ 法國）Laselec
- （ 日本）日本三菱化學
- （ 德國）德國美墨爾特
- （ 德國）Pink
- （ 意大利）意大利Steelco
- （ 德國）Dataphysics
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儀企號
爾迪儀器
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友情鏈接
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- 品牌：德國布魯克
- 型號：FilmTek 2000 PAR-SE
- 產(chǎn)地：歐洲 德國
Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE ——用于幾乎所有先進薄膜或產(chǎn)品晶片測量的先進多模計量
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Bruker FilmTek CD橢偏儀價格：面議- 品牌：德國布魯克
- 型號： FilmTek CD
- 產(chǎn)地：歐洲 德國
FilmTekTM CD光學臨界尺寸系統(tǒng)是我們解決方案，可用于1x nm設計節(jié)點及更高級別的全自動化、高通量CD測量和高級薄膜分析。該系統(tǒng)同時提供已知和完全未知結(jié)構(gòu)的實時多層堆疊特性和CD測量。 ...
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- 品牌：德國布魯克
- 型號：FilmTek 2000M TSV
- 產(chǎn)地：歐洲 德國
FilmTek? 2000M TSV計量系統(tǒng)為半導體封裝應用提供了速度和精度組合。該系統(tǒng)為各種封裝工藝和相關結(jié)構(gòu)的高通量測量提供了測量性能和精度，包括表征抗蝕劑厚度、硅通孔（TSV）、銅柱、凸塊和再分...
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- 品牌：德國布魯克
- 型號：FilmTek 2000 PAR-SE
- 產(chǎn)地：歐洲 德國
FilmTek? 2000標準桿數(shù)-SE光譜橢圓偏振儀/多角度反射儀系統(tǒng)結(jié)合了FilmTek技術，為從研發(fā)到生產(chǎn)的幾乎所有薄膜測量應用提供了業(yè)界領先的精度、精度和多功能性。其標準的小點測量尺寸和模式識...
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