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J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)

 
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J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)(LA)
  • 品牌:美國ASI
  • 型號:J200(LA)
  • 產地:美洲 美國
  • J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)(LA)術可靠性提升到一個新高度,可應用于礦物元素定量分析、鋯石U-Pb定年、礦物熔體和流體包裹體分析、微區(qū)同位素分析和定年技術研究等地質研究領域,并在所有采樣點上實現(xiàn)一致...

J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)
  • 品牌:美國ASI
  • 型號:J200
  • 產地:美洲 美國
  • J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術向高精度、高準確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破,為了準確定量的分析元素和同位素,需要高精度的、與測量樣品相匹配的標準物質,ICP源的顆粒能完全被消解