高溫四探針測試儀采用直排四探針法設(shè)計原理測量。主要用于評估半導體薄膜和薄片的導電性能，參考美國 A.S.T.M 標準設(shè)計。重復性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參數(shù)的精確度，同時抗干擾能...

華測半導體封裝材料高溫絕緣電阻測試儀，運用三電極法設(shè)計原理測量。高溫絕緣電阻測試儀設(shè)計符合《GB/T10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗方法》標準設(shè)計開發(fā)。

華測高低溫介電溫譜儀-60℃~450℃，公司開發(fā)的高低溫阻抗、介電測量系統(tǒng)軟件將高溫測試平臺、高溫測試夾具與WK6500系列、Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A、...

Huace-800高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置...

Huace-800高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。高溫四探針測試儀配置各類測...

高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。 高溫四探針測試儀配置各類...

高低溫介電溫譜儀用于分析寬頻、高低溫條件下被測樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線。可廣泛應(yīng)用...

測量塞貝克系數(shù)和電阻（電阻率）的儀器——塞貝克系數(shù)電阻測試儀。華測儀器的HC-RD-1000可以同時測定樣品在-100°C至+1500°C溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。

高溫介電測試夾具根據(jù)國際標準 ASTM D150 方法，采用平行板電極原理設(shè)計。電極由上電極、下電極以及保護電極組成。上下電極具有良好的同心度和平行度，保護電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測試數(shù)據(jù)更...

█多功能真空加熱爐，一體爐膛設(shè)計、可實現(xiàn)、高溫、真空、氣氛環(huán)境下進行測試 █采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提高測試精度，

北京華測高溫介電溫譜測試儀，主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學性能測試，系統(tǒng)包含高溫爐膛， 阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜 Co-Co 圖，...

高溫四探針測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同...

高溫四探針測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同...

高溫絕緣電阻測試儀采用三電極測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析絕緣材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計...

Huace-800高溫絕緣電阻測試儀采用三電極測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析絕緣材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。...

Huace-800高溫絕緣電阻測試儀采用三電極測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析絕緣材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。...