引言
納米材料的性能往往和其晶粒大小有關(guān),而X射線衍射是測定納米材料晶尺寸的有效方法之一。
晶粒尺寸Dhkl (可理解為一個完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計算:
Dhkl:晶粒尺寸,垂直于晶面hkl方向
β: hkl晶面的半高寬(或展寬)
θ:hkl晶面的bragg角度
λ:入射X光的波長,一般Cu靶為1.54埃
K:常數(shù)(晶粒近似為球形,K=0.89;其他K=1)
實例 納米TiO2晶粒尺寸14nm
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