x射線晶體定向儀
YX-2H8型X射線晶體定向儀
ALL-5800B型多角度X射線晶體定向儀
Omega/Theta XRD - X射線晶體定向儀
Omega/Theta XRD - X射線晶體定向儀
產(chǎn)品介紹:
Freiberg Instruments的單晶XRD定向儀
主要里程碑:
◆ 1961 - EFG GmbH公司由X-ray Ing.集團(tuán)亞瑟·布拉達(dá)切克和他的兒子漢斯·布拉達(dá)切克創(chuàng)立。
◆ 1969 - 研制了世界上首臺(tái)基于集成電路的x射線檢測(cè)計(jì)數(shù)裝置,名為 COUNTIX 130。
◆ 1989 - 開發(fā) Omega-Scan 方法
BOSCH 要求提供圓形石英毛坯的定向測(cè)量系統(tǒng) - 振蕩器產(chǎn)量從 50% 提高到 95%
◆ 2005 - 將 Omega 轉(zhuǎn)移到其他材料,如SiC、藍(lán)寶石、GaN、GaAS、Si、Ni基高溫合金
◆ 2010 - 推出用于晶體取向測(cè)量的臺(tái)式 X 射線衍射儀 ( DDCOM )
全 球售出 約 150臺(tái)石英分選系統(tǒng)
◆ 2015 - X 射線技術(shù)和 EFG GmbH 合并到 Freiberg Instruments GmbH
傳承60年德國(guó)工匠精神-三代X射線工程師

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):
◆ 采用Omega-scan掃描方法(專 利技術(shù))
◆ 測(cè)試速度快: 5s
◆ 測(cè)角精度高: 0.003
◆ 兼具XRD定向功能以及Flat/Norch功能
◆ 磨拋定向解決方案
◆ 擁有晶錠粘接轉(zhuǎn)移的專 利技術(shù)(堆垛 stacking)專為SiC工業(yè)設(shè)計(jì),被多家SiC襯底頭部企業(yè)青睞,如:II-VI Advanced Materials, SiCrystal等,國(guó)外四分之三的碳化硅制造商依賴Freiberg Instruments公司的晶體取向測(cè)量技術(shù),極大提高了生產(chǎn)效率,提升產(chǎn)品質(zhì)量。
◆ Mapping 面掃功能,搖擺曲線測(cè)定
◆ 易于集成到工藝線中
◆ MES和/或SECS/GEM接口
◆ 傾斜的典型標(biāo)準(zhǔn)偏差(例如:Si 100):< 0.003 °,小于< 0.001 °
Omega/Theta X射線衍射儀是一個(gè)全自動(dòng)的垂直三軸衍射儀,用于使用Omega-Scan和Theta-Scan方法對(duì)各種晶體進(jìn)行取向測(cè)定和搖擺曲線測(cè)量。大而寬敞的設(shè)計(jì)可以容納長(zhǎng)度達(dá)450毫米、重量達(dá)30公斤的樣品和樣品架。
所有的測(cè)量都是自動(dòng)化的,可以從用戶友好的軟件界面上的訪問。使用Omega掃描,可以在晶體旋轉(zhuǎn)時(shí)(5秒)確定完整的晶格方向。Theta掃描更加靈活,但每次掃描只能得到一個(gè)取向成分。
傾斜角可以以非常高的精度確定;使用Theta掃描可以達(dá)到0.001°。對(duì)于所有其他晶體方向,精度取決于與表面垂直的角差。
該系統(tǒng)是模塊化的,已經(jīng)配備了許多不同的擴(kuò)展,用于特殊的目的,如形狀或平面的確定、繪圖和不同的樣品架。樣品的傾斜是通過光學(xué)測(cè)量檢測(cè)出來的,并可用于校正所產(chǎn)生的方向。
單晶衍射儀定向儀:
◆ 全自動(dòng)完整的單晶體晶格取向測(cè)量
◆ 使用歐米茄掃描法進(jìn)行超快速的晶體取向測(cè)量
◆ 自動(dòng)搖動(dòng)曲線測(cè)量功能
◆ 衍射儀的角度分辨率:0.1角秒。
◆ 樣品尺寸可達(dá)450毫米
◆ 適用于生產(chǎn)質(zhì)量控制和研究

用戶友好,成本效益高:
◆ 方便的樣品處理,易于操作
◆ 先進(jìn)的、用戶友好的軟件
◆ 能源消耗和運(yùn)行成本低
◆ 模塊化設(shè)計(jì),靈活性強(qiáng)
◆ 各種升級(jí)選項(xiàng)
◆ 根據(jù)用戶的要求進(jìn)行定制
選配功能:
◆ 自動(dòng)Mapping面掃功能
◆ Omega/Theta – 晶錠粘接轉(zhuǎn)移的專利技術(shù)(堆垛 stacking)
◆ Omega/Theta - 搖擺曲線測(cè)量
◆ Omega/Theta - 定制的樣品臺(tái)
◆ 用于樣品形狀測(cè)量的激光掃描儀
◆ 光學(xué)檢測(cè),用于平面和凹槽檢測(cè)
◆ 額外的樣品旋轉(zhuǎn)軸用于3D繪圖
◆ 二級(jí)通道切割準(zhǔn)直器(分析器)
◆ 用于樣品調(diào)整的設(shè)備
報(bào)價(jià):面議
已咨詢301次X射線晶體定向儀
報(bào)價(jià):面議
已咨詢432次X射線晶體定向儀
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已咨詢1374次X射線衍射儀XRD
報(bào)價(jià):¥2000000
已咨詢162次X射線衍射儀(XRD)
報(bào)價(jià):面議
已咨詢562次X射線晶體定向儀
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已咨詢1830次X射線衍射儀(XRD)
報(bào)價(jià):面議
已咨詢2492次X射線衍射儀
報(bào)價(jià):面議
已咨詢2993次X射線衍射儀
MDpicts溫度依賴型壽命測(cè)試系統(tǒng)該設(shè)備可對(duì)材料電學(xué)特性進(jìn)行非接觸、無損傷的單點(diǎn)測(cè)量??傮w而言,MD-PICTS設(shè)備適用于多種材料及不同制備階段的測(cè)量,涵蓋硅原料、裸片、各類中間制備階段樣品,以及砷化鎵(GaAs)、磷化銦(InP)等化合物半導(dǎo)體。
HTpicts專門用于寬禁帶半導(dǎo)體中的少子壽命和深能級(jí)缺陷檢測(cè),用于寬禁帶材料在高溫區(qū)間的非接觸、無損傷的溫度依賴型測(cè)量,涵蓋少子壽命、電學(xué)特性表征及深能級(jí)缺陷研究。
用于生產(chǎn)和研究實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用的MDpicts pro(高分辨率變溫少子壽命測(cè)試儀系統(tǒng))。全自動(dòng)設(shè)備,以非接觸、無破壞方式繪制材料的電輸運(yùn)特性。
用于科研及生產(chǎn)應(yīng)用的MDpicts pro(原位變溫缺陷能級(jí)表征系統(tǒng))。使用非接觸式光電導(dǎo)率衰減法、深能級(jí)瞬態(tài)譜(DLTS)技術(shù),尤其針對(duì)溫度依賴的載流子壽命測(cè)量系統(tǒng)(面掃和單點(diǎn))。
自動(dòng)化晶圓定向檢測(cè)系統(tǒng),在線式晶圓取向圖譜分析,完全符合晶圓廠標(biāo)準(zhǔn)
自動(dòng)化碳化硅晶錠粘接定向儀,Ingot XRD SiC 兼具高產(chǎn)能與高精度,助力先進(jìn)碳化硅晶圓高效生產(chǎn)
晶錠自動(dòng)化單晶定向系統(tǒng),可使現(xiàn)有設(shè)備滿足 200 毫米及 300 毫米規(guī)格晶錠的高級(jí)外徑 / 缺口技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
高質(zhì)量且耐用的分析X射線管 為X射線衍射儀、晶體定向儀配套使用。本產(chǎn)品的通用性強(qiáng),可以在國(guó)內(nèi)外多種儀器上替代進(jìn)口同類產(chǎn)品使用,需復(fù)雜調(diào)試即可穩(wěn)定適配,為實(shí)驗(yàn)分析提供可靠支持。