當(dāng)半導(dǎo)體工藝不斷逼近物理極限,測(cè)量技術(shù)如何突破邊界?
當(dāng)芯片良率與研發(fā)效率成為制勝關(guān)鍵,精準(zhǔn)檢測(cè)如何驅(qū)動(dòng)產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新?
2025年3月26-28日,Park Systems攜全新半導(dǎo)體解決方案登陸SEMICON China,邀您親臨E6展館6455號(hào)展位,共同探索未來(lái)微觀世界的無(wú)限可能!
? NX-TSH 400TF
半導(dǎo)體Tape Frame封裝納米計(jì)量解決方案
- Tape Frame無(wú)縫兼容:
NX-TSH400TF支持薄膜Tape Frame樣品的直接測(cè)量,實(shí)現(xiàn)高效無(wú)損的操作流程。
- 納米級(jí)測(cè)量精度:
實(shí)現(xiàn)晶圓圖案臨界尺寸(CD)、深度及表面粗糙度的納米級(jí)精確測(cè)量。
- 精準(zhǔn)量化的3D形貌:
完整量化 Cu Pad Recess、Ox層粗糙度等納米級(jí)測(cè)量細(xì)節(jié),滿足 Hybrid Bonding等先進(jìn)封裝的量測(cè)需求。
- 全流程自動(dòng)化:
集成晶圓自動(dòng)傳輸系統(tǒng),涵蓋自動(dòng)定位、測(cè)量與分析等,確保工業(yè)級(jí)測(cè)量吞吐量。
- 超穩(wěn)定測(cè)量環(huán)境:
采用多級(jí)隔離技術(shù),有效抑制顆粒污染、噪聲、環(huán)境振動(dòng)及靜電干擾,保障測(cè)量重復(fù)性與穩(wěn)定性。
FX300 IR
納米級(jí)紅外光譜與原子力顯微鏡聯(lián)用技術(shù),
支持高精度化學(xué)表征。
? AFM與紅外光譜聯(lián)用系統(tǒng)升級(jí)分析
?PiFM納米級(jí)分子分析能力, 能夠提供~5 nm空間分辨率的紅外光譜分析。
? 自動(dòng)化IR激光校準(zhǔn)系統(tǒng)
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銷售熱線: 400-878-6829
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Park北京分公司
北京市海淀區(qū)彩和坊路8號(hào)天創(chuàng)科技大廈518室
Park上海實(shí)驗(yàn)室
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Park廣州實(shí)驗(yàn)室
廣州市天河區(qū)五山路200號(hào)天河北文創(chuàng)苑B座211
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