納米科學(xué)研發(fā)界S次推出的全自動(dòng)化原子力顯微鏡 加入人工智能 自動(dòng)更換探針 自動(dòng)識(shí)別掃碼 自動(dòng)激光校準(zhǔn)

- 原子力顯微鏡（AFM)有納米級(jí)分辨率成像以及電，磁，熱和機(jī)器性能測(cè)量的能力。 - 納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡（SICM)。 - 倒置光學(xué)顯微鏡（IOM）便于透明材料...

NX-3DM的傾斜式Z軸掃描器設(shè)計(jì)讓探針能夠掃描到光刻膠的側(cè)壁和側(cè)凹結(jié)構(gòu)。

NX-HDM的自動(dòng)缺陷檢查功能(Park ADR)可加速和改良識(shí)別、掃描和分析媒介和基體缺陷的流程。

Park Systems推出業(yè)內(nèi)噪聲ZD的全自動(dòng)化工業(yè)級(jí)原子力顯微鏡——XE-Wafer。該自動(dòng)化原子力顯微鏡系統(tǒng)旨在為全天候生產(chǎn)線上的亞米級(jí)晶體（尺寸200 mm和300 mm）提供線上高分辨率表面...

Park XE7帶有業(yè)內(nèi)Z全面的測(cè)量模式。這些模式不僅能滿足您目前的需求，也考慮到未來(lái)不斷變化的需求。再者，XE7具有市場(chǎng)上Z為開(kāi)放性的設(shè)計(jì)，允許您整合其他附件和儀器，從而滿足您特殊的研究需求。

Park XE15具備多個(gè)特殊功能，是共享實(shí)驗(yàn)室處理各類樣品、研究員進(jìn)行多變量實(shí)驗(yàn)、失效分析師研究晶片等的不二選擇。合理的價(jià)格搭配強(qiáng)健的性能設(shè)置，使其成為業(yè)內(nèi)性價(jià)比zui高的大型樣品原子力顯微鏡。

ParkNX20擁有業(yè)界Z為便捷的設(shè)計(jì)和自動(dòng)界面，讓你在使用時(shí)無(wú)需花費(fèi)大量的時(shí)間和精力，也不用為此而時(shí)時(shí)不停的指導(dǎo)初學(xué)者。借助這一系列特點(diǎn)，您可以更加專注于解決更為重大的問(wèn)題，并為客戶提供及時(shí)且富有洞...

Park NX10為您帶來(lái)ZG納米級(jí)分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有。無(wú)論是從樣品設(shè)定還是到全掃描成像、測(cè)量與分析，Park NX10都可以在保證您專注于創(chuàng)新研究工作的同時(shí)提供高精度的數(shù)據(jù)。

NX-Hivac可將用戶所需的輸入操作Z簡(jiǎn)化，用戶可以更快地掃描從而提高實(shí)驗(yàn)室的實(shí)驗(yàn)成果。

專為超大納米平板掃描器測(cè)量而設(shè)計(jì)的自動(dòng)化原子力顯微鏡系統(tǒng)