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小角X射線散射技術(shù):研究納米尺度微結(jié)構(gòu)的重要手段

來源:馬爾文帕納科 更新時間:2024-04-02 18:00:07 閱讀量:1170
導(dǎo)讀:小角/廣角散射技術(shù)原理及應(yīng)用范圍

本文由醫(yī)藥行業(yè)應(yīng)用專家陳麗供稿


本文摘要

本文將簡單介紹研究納米尺度微結(jié)構(gòu)的重要手段:小角X射線衍射(Small Angle X-Ray Scattering, SAXS)技術(shù)原理及相關(guān)產(chǎn)品。


X射線衍射與小角X射線散射


     X射線是具備相應(yīng)波長的電磁波或帶有相應(yīng)能量的光子束。X射線的波長和能量介于γ-射線和紫外線之間。其波長范圍為0.01-10nm;對應(yīng)的能量范圍為0.125-125Kev。

小角散射(Small Angle X-ray Scattering,SAXS):如果樣本具有不同電子密度的周期性結(jié)構(gòu),X射線被不相干散射,散射 X 射線的角度就與入射 X 射線的角度相差很小(一般2θ≤ 5°),稱為小角X射線散射效應(yīng)。主要用于研究亞微米尺度的固態(tài)及液態(tài)樣品結(jié)構(gòu)。


小角散射效益來自物質(zhì)內(nèi)部1~100nm量級范圍內(nèi)電子密度的起伏,通過對小角X射線散射圖或散射曲線的計算和分析即可推導(dǎo)出微結(jié)構(gòu)的形狀、大小、分布及含量等信息。這些微結(jié)構(gòu)可以是孔洞、粒子、缺陷、材料中的晶粒、非晶粒子結(jié)構(gòu)等。


廣角散射(Wide Angle X-ray Scattering,WAXS):如果樣本具有周期性結(jié)構(gòu)(晶區(qū)),X射線被相干散射,入射光和散射光之間沒有波長的改變,這個過程稱為 廣角X射線衍射。主要用于研究較晶體結(jié)構(gòu)和非晶體結(jié)構(gòu)。


與小角散射相比,廣角散射的散射角度較大,可以覆蓋從幾度到幾十度的范圍。通過檢測廣角散射信號,可以獲得關(guān)于晶體晶格參數(shù)、晶胞體積、顆粒尺寸和顆粒形貌等信息。


SAXS -  WAXS表征


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>>> 關(guān)于

的使命是通過對材料進行化學(xué)、物性和結(jié)構(gòu)分析,打造出更勝一籌的客戶導(dǎo)向型創(chuàng)新解決方案和服務(wù),從而提高效率和產(chǎn)生可觀的經(jīng)濟效益。通過利用包括人工智能和預(yù)測分析在內(nèi)的Z近技術(shù)發(fā)展,我們能夠逐步實現(xiàn)這一目標。這將讓各個行業(yè)和組織的科學(xué)家和工程師可解決一系列難題,如Z大程度地提高生產(chǎn)率、開發(fā)更高質(zhì)量的產(chǎn)品,并縮短產(chǎn)品上市時間。

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