并非所有金屬顆粒都具有相同的危害性，例如，在對大量失效電池進行拆解分析后發(fā)現(xiàn)，相對于不銹鋼，銅的危害性更高。主要是因為銅離子更容易在負(fù)極析出，析出后的生長方式呈現(xiàn)枝晶狀，很容易刺穿隔膜。并且，銅的電導(dǎo)率比鐵高了一個數(shù)量級，一旦銅枝晶刺穿隔膜，極易導(dǎo)致電池內(nèi)部短路，進一步導(dǎo)致電池過熱甚至起火。為了有效評估金屬顆粒的危害性，需要知道顆粒的詳細(xì)成分，而光學(xué)顯微鏡只能區(qū)分金屬和非金屬，但具體是哪類金屬則無從得知。

根據(jù)光反射原理的分析，要求濾膜上的金屬顆粒要反光發(fā)亮。由于污染物顆粒在零件加工過程中暴露于液體、高溫和摩擦環(huán)境中，因此它們的表面會因為腐蝕等原因而不反光，呈現(xiàn)暗色。這些金屬顆粒在光學(xué)顯微鏡下，會被錯誤地分類為非金屬顆粒。在如下示例中，顯示了三個顆粒(鋅，鋼和鋁)，這些顆粒通過光學(xué)顯微鏡確認(rèn)為非金屬。然而，SEM+EDX 分析顯示了這些顆粒的金屬性質(zhì)。

3.3 對小尺寸顆粒的統(tǒng)計準(zhǔn)確性較低

光學(xué)顯微鏡的分辨率較低（相比電子顯微鏡要低 2-3 個數(shù)量級），其對小尺寸顆粒的測試準(zhǔn)確性也較低。以下與 SEM+EDX 統(tǒng)計結(jié)果的比較，顯示了光學(xué)顯微鏡的錯誤分類有多嚴(yán)重。由汽車供應(yīng)商提供的同一片濾膜，分別進行了光學(xué)顯微鏡的顆粒分析以及 SEM+EDX 的測試分析，并進行了比較。結(jié)果顯示，通過光學(xué)顯微鏡檢測的金屬顆粒數(shù)，不到實際金屬顆粒的 1/60。

3.4 無法分析顆粒的可能來源

鋰電池清潔度分析的意義，一方面是對清潔度的水平進行評估，另一方面，希望通過對金屬顆粒的分析，確定其產(chǎn)生原因，并回溯至對應(yīng)的生產(chǎn)工序，進行針對性的管控，從而提升產(chǎn)線的清潔度水平。

由以上分析可知，光學(xué)顯微鏡提供的關(guān)于金屬顆粒形態(tài)和成分的信息有限，無法分析顆粒的可能來源，對清潔度水平的提升幫助有限。

因此，全自動鋰電清潔度分析方案應(yīng)運而生。Phenom ParticleX 以臺式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ)，可以全自動對顆?；螂s質(zhì)進行快速識別、分析和分類統(tǒng)計，為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。小編將在下一篇為大家詳細(xì)講述。

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