理學的XRD設(shè)備

理學全自動多功能X射線衍射儀

理學SmartLab全自動多功能衍射儀以用戶易用性為設(shè)計目標，結(jié)合了可靠的硬件和智能軟件。

理學智能多功能X射線衍射儀

理學SmartLab SE是一款功能極為多樣的多用途 X 射線衍射儀，配備有內(nèi)置的智能引導系統(tǒng)。

理學臺式 X 射線衍射儀

理學MiniFlex 臺式 X 射線衍射儀是一款多功能粉末衍射分析儀器，能夠測定：晶相鑒定（物相鑒定）與定量分析、結(jié)晶度百分比、微晶尺寸和應(yīng)變、晶格參數(shù)精修、里特韋爾德（Rietveld）精修以及分子結(jié)構(gòu)。

理學小角 X 射線散射系統(tǒng)

理學NANOPIX mini是小角X 射線散射（SAXS）系統(tǒng)，專門設(shè)計用于為質(zhì)量控制（QC）以及研發(fā)（R&D）應(yīng)用自動提供納米顆粒粒度分布分析。

硅負極材料的晶粒尺寸和顆粒尺寸計算

負極材料硅是一種高容量材料。為了提高電池壽命，必須將粒徑控制在幾十納米以內(nèi)。在粒徑小于或等于 100nm 的情況下，可利用 X 射線衍射儀（XRD）計算晶粒尺寸，通過 X 射線小角散射儀（SAXS）計算顆粒尺寸。

研究正極材料NCM燒結(jié)時的相變行為

正極材料可通過固相法燒制合成。采用原位 X 射線衍射儀（XRD）可以在樣品升溫的同時進行測量，從而得以詳細研究燒結(jié)過程。

使用XSPA-400 ER高能分辨率檢測器測量正極材料NCM

在使用銅靶 XRD 中，由于含有過渡金屬元素正極材料衍射圖的背底通常很高，因此微量雜質(zhì)相峰的檢測比較困難。與傳統(tǒng)檢測器相比，XSPA-400 ER 使用高能量分辨率來減少來自樣品的 X 射線熒光并降低背底強度，從而進一步提高測量的靈敏度。

使用BVS方法推斷化合價和鋰離子擴散路徑

普通正極材料的化合價會影響電池性能。因此我們常常采用 X 射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜（XAFS）和化學分析用電子譜（ESCA）對這些材料進行分析。使用 X 射線衍射儀（XRD）及價鍵和理論（BVS）方法，可以根據(jù)原子間距離推斷化合價。此外，應(yīng)用 BVS 方法還可以通過確定鋰離子易于變成單價離子的原子間距離來推斷擴散路徑。