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分享 | 半導(dǎo)體行業(yè)要求的“快”速檢測

來源:巴斯德儀器(蘇州)有限公司 更新時(shí)間:2025-05-06 18:05:46 閱讀量:147
導(dǎo)讀:分享 | 半導(dǎo)體行業(yè)要求的“快”速檢測
隨著智能機(jī)、云計(jì)算、人工智能和物聯(lián)網(wǎng)等高新技術(shù)的普及,半導(dǎo)體市場需求迅速增長,“快”速檢測被急切需求著。


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三豐的高精度影像測量機(jī),長期服務(wù)于全球制造業(yè)而獲得的經(jīng)驗(yàn)積累,為半導(dǎo)體行業(yè)上、中、下游快速的測量需求提供了理想的解決方案。

01


倒裝芯片檢測方案


倒裝芯片(Flip chip)廣泛應(yīng)用于高端物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備等電子產(chǎn)品中,是構(gòu)建智能化產(chǎn)品的基礎(chǔ)單元之一。
芯片表面的平整程度會(huì)影響其連接效果,大多數(shù)半導(dǎo)體廠商會(huì)以倒裝主板中心點(diǎn)為原點(diǎn),中心線為軸線,對(duì)各測量部位相對(duì)于原點(diǎn)的X方向和Y方向的差的絕對(duì)值(坐標(biāo)差)進(jìn)行評(píng)價(jià)分析,測量坐標(biāo)差。

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芯片表面凸點(diǎn)繁多,線路板布線復(fù)雜,接觸式測量難以實(shí)現(xiàn)快速的批量檢測,按照一般的非接觸式的測量方法,通常是對(duì)每個(gè)測量部位先對(duì)焦再測量,耗費(fèi)的時(shí)間太長。
  • TAF功能高效對(duì)應(yīng)坐標(biāo)差檢測

影像測量機(jī)QV Pro的TAF激光自動(dòng)追蹤功能,對(duì)于芯片這類非平整表面(且高度差變化不大)進(jìn)行掃描時(shí),無需停頓式對(duì)焦,從而大大提高了測量效率。

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TAF:激光自動(dòng)跟蹤對(duì)焦,工作原理是通過物鏡中的同軸激光進(jìn)行自動(dòng)對(duì)焦,使Z軸實(shí)時(shí)追蹤到被測物的高度變化,自動(dòng)進(jìn)行高度調(diào)整,保證對(duì)焦清晰。

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  • 表面細(xì)微3D形狀的高精度測量
此外,在多層基板IC組件的測量中,如需測量配線的線寬和線距、過孔直徑、表面粗糙度時(shí),還可使用白光干涉儀WLI,利用與工件之間產(chǎn)生的白光干涉,可實(shí)現(xiàn)細(xì)微領(lǐng)域的表面分析(粗糙度等)以及形狀(數(shù)微米的不規(guī)則)的高精度3D測量。

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倒裝芯片IC組件

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02


蝕刻機(jī)-噴淋頭

測量方案



噴淋頭(Shower Head)是組裝在硅晶片干刻蝕設(shè)備電極內(nèi)的裝置,主要功能是向反應(yīng)腔室供應(yīng)等離子體,表面分布著密集的氣體供給孔。每個(gè)孔的尺寸會(huì)直接影響到刻蝕機(jī)上所產(chǎn)生的等離子體均勻性。

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噴淋頭的主要測量項(xiàng)目是表面密集分布的孔的直徑、基于基準(zhǔn)的坐標(biāo)位置及平面度等。測量孔如此繁多,通常的影像檢測時(shí)間會(huì)讓測量者等到崩潰,更難以適應(yīng)“半導(dǎo)體行業(yè)”的“快”需求,而使用影像測量機(jī)的“飛測功能——STREAM模式”。

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工作臺(tái)可以保持無停頓的移動(dòng)來測量噴頭眾多孔尺寸或異物侵入檢測,實(shí)現(xiàn)了優(yōu)于普通模式的5倍效率的測量,為高效測量需求的行業(yè)帶來福音。

03


汽車半導(dǎo)體 IGBT模塊

檢測方案



IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)是變頻器的核心晶體管。主流的IGBT是半導(dǎo)體零件的集合體,是新能源汽車的核心部件之一。

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該產(chǎn)品的測量通常需要涉及到多個(gè)針腳的位置和高度的測量。影像測量儀QV Pro標(biāo)配的頻閃照明,其高效的對(duì)焦動(dòng)作以及快速準(zhǔn)確的位置測量,非常適合用于此類工件的測量。

在獲得準(zhǔn)確結(jié)果的同時(shí),無論是表面高度測量還是邊緣對(duì)焦,甚至是多點(diǎn)同時(shí)對(duì)焦都能輕松對(duì)應(yīng)。

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三豐量具量儀 敬上
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