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2025-01-10 10:50:14德國布魯克納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)nanoIR3-s: 2015年Anasys發(fā)布了zui新一代產(chǎn)品nanoIR2-s，在廣受歡迎的第二代納米紅外光譜系統(tǒng)的基礎(chǔ)上增加了散射近場光學(xué)成像和光譜功能（s-SNOM）。實(shí)現(xiàn)了同一平臺兼具AFM-IR和s-SNOM兩種技術(shù)。儀器的空間分辨率達(dá)到10nm，廣泛用于各種聚合物、有機(jī)無機(jī)復(fù)合材料、生物樣本、半導(dǎo)體、等離子體、納米天線等。

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技術(shù)線上論壇| 10月18日《納米傅里葉紅外光譜儀（nano-FTIR）的技術(shù)特點(diǎn)與前沿應(yīng)用》

Quantum Design中國子公司 351
2021-10-14

納米紅外光譜儀文章

納米紅外光譜儀：微塑料檢測的“顯微鏡”

在當(dāng)今的環(huán)境科學(xué)研究中，微塑料污染已成為全球性的生態(tài)問題。這些微小的塑料顆粒，尤其是納米級別的微塑料（NPs），因其尺寸小、難以被傳統(tǒng)檢測手段識別，給環(huán)境監(jiān)測和污染治理帶來了巨大挑戰(zhàn)。

瑞科和利（北京）科技有限公司 150
2025-02-20
納米紅外光譜 AFM-IR 檢測微塑料
Bruker納米紅外光譜儀優(yōu)點(diǎn)及應(yīng)用范圍

 爾迪儀器 1019
2021-11-26

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納米紅外光譜儀問答

2021-11-26 14:53:36Bruker納米紅外光譜儀優(yōu)點(diǎn)及應(yīng)用范圍: Bruker 公司的Anasys nanoIR3型納米紅外光譜測量系統(tǒng)，是一款基于原子力顯微鏡（AFM）的納米表征工具。其采用獨(dú)有專利的光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)（PTIR，也稱AFM-IR），使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限，提高至10納米級別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國R&D100大獎。 Bruker納米紅外光譜儀主要由紅外光源、光闌、干涉儀（分束器、動鏡、定鏡）、樣品室、檢測器以及各種紅外反射鏡、激光器、控制電路板和電源組成?？梢詫悠愤M(jìn)行定性和定量分析，廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥化工、地礦、石油、煤炭、環(huán)保、海關(guān)、寶石鑒定、刑偵鑒定等領(lǐng)域。由于超高空間分辨率的紅外光譜采集和化學(xué)成分成像，被公認(rèn)為近十來年光譜領(lǐng)域最大的技術(shù)進(jìn)步。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國R&D100大獎。在廣受歡迎的第二代納米紅外光譜系統(tǒng)的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)快速掃描功能，光譜采集速度＜ 1s/光譜；專利的輕敲模式納米紅外將空間分辨率提高至 10nm以上，并大大提高紅外成像速度，并使得較軟的生物材料等軟物質(zhì)的化學(xué)成像實(shí)現(xiàn)質(zhì)的飛躍。優(yōu)點(diǎn)： ·消除研究人員的擔(dān)憂--與FTIR光譜完全吻合，沒有吸收峰的任何偏移 ·基于專利保護(hù)的脈沖共振增強(qiáng)技術(shù)：實(shí)現(xiàn)單分子層超薄樣品化學(xué)分析 ·專利技術(shù)實(shí)現(xiàn)智能的光路優(yōu)化調(diào)整，無需擔(dān)心光路偏差拖延你的實(shí)驗(yàn)進(jìn)度 ·最準(zhǔn)確的定性微區(qū)化學(xué)表征，得到美國國家標(biāo)準(zhǔn)局NIST,橡樹嶺國家實(shí)驗(yàn)室等美國權(quán)威機(jī)構(gòu)的認(rèn)可 ·簡單易用的操作，被三十多位企業(yè)用戶和過百位學(xué)術(shù)界用戶所選擇需要bruker其他型號的產(chǎn)品，可撥打電話021-61552797咨詢上海爾迪儀器科技有限公司產(chǎn)品資料介紹Bruker納米紅外光譜儀支持全系列掃描探針顯微鏡模式Contact Mode（接觸模式）Tapping Mode（輕敲模式）Lateral Force Microscope（橫向力/摩擦力顯微鏡）Phase Imaging（相位成像）Magnetic Force Microscopy (磁力顯微鏡)Electrostatic Force Microscopy (靜電力顯微鏡)Conductive Atomic Force Microscopy (導(dǎo)電原子力顯微鏡)Kelvin Probe Force Microscopy (開爾文探針力顯微鏡)Force Curve Spectroscopy（力曲線）Liquid Imaging（液態(tài)環(huán)境掃描）Heater-Cooler Imaging（高低溫環(huán)境掃描）SThM（掃描熱顯微鏡）Nano-TA（納米熱分析）LCR（洛倫茲納米力學(xué)分析）

2025-04-15 16:00:17紅外光譜儀注意事項(xiàng)有哪些？: 紅外光譜儀作為一種重要的分析工具，廣泛應(yīng)用于化學(xué)、材料、環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域。其通過測量樣品對紅外光的吸收情況，能夠獲得分子結(jié)構(gòu)、化學(xué)成分等信息。為了確保紅外光譜儀的測試結(jié)果準(zhǔn)確性和儀器的長期穩(wěn)定運(yùn)行，使用時需要特別注意一些事項(xiàng)。本文將詳細(xì)探討紅外光譜儀使用過程中常見的注意事項(xiàng)，幫助用戶更好地進(jìn)行操作和維護(hù)。紅外光譜儀的校準(zhǔn)非常關(guān)鍵。在進(jìn)行任何實(shí)驗(yàn)前，確保儀器已通過適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行校準(zhǔn)。儀器的校準(zhǔn)不僅可以保證測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，還能避免因設(shè)備偏差而導(dǎo)致的誤差。在校準(zhǔn)過程中，需要選擇適合實(shí)驗(yàn)需求的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，嚴(yán)格遵循廠商提供的操作手冊進(jìn)行操作，避免人為因素引入的不確定性。樣品的處理和準(zhǔn)備也是影響測試結(jié)果的重要因素。紅外光譜儀通常要求樣品具有良好的均勻性和適當(dāng)?shù)暮穸?。對于液體樣品，可以使用特定的液體池，避免氣泡和雜質(zhì)的干擾；固體樣品則需要均勻研磨或切割，確保樣品表面光滑，以減少光譜信號的畸變。樣品的純度也對測試結(jié)果產(chǎn)生直接影響，因此，在使用前，好對樣品進(jìn)行必要的預(yù)處理，去除其中的雜質(zhì)。除了樣品本身，環(huán)境因素對紅外光譜儀的測試結(jié)果也具有不容忽視的影響。紅外光譜儀的精度很大程度上依賴于測試環(huán)境的溫濕度條件。過高或過低的溫度、濕度變化過大的環(huán)境都會影響儀器的性能，甚至可能導(dǎo)致不準(zhǔn)確的結(jié)果。因此，在進(jìn)行測量時，應(yīng)將儀器放置在溫濕度控制較為穩(wěn)定的環(huán)境中，以確保儀器能夠正常工作。在操作過程中，使用者還需注意紅外光譜儀的定期維護(hù)與清潔。儀器的光學(xué)部件，如透鏡和反射鏡，容易受到灰塵和污染物的影響，這會導(dǎo)致光學(xué)性能下降，影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。因此，定期清潔光學(xué)元件，特別是鏡頭和光源區(qū)域，是保持儀器高效運(yùn)行的基本保障。也需要定期檢查儀器的光源和探測器，確保它們的穩(wěn)定性和靈敏度。為了延長紅外光譜儀的使用壽命，避免頻繁發(fā)生故障，操作人員應(yīng)嚴(yán)格遵循廠商的操作規(guī)范。對于不同型號的儀器，使用手冊中往往會提供專門的維護(hù)指南，用戶應(yīng)根據(jù)儀器的具體要求進(jìn)行保養(yǎng)。定期的檢查和專業(yè)的維修保養(yǎng)是防止設(shè)備故障和延長其使用周期的重要手段。紅外光譜儀的應(yīng)用也需要操作人員具備一定的專業(yè)知識。正確理解和分析紅外光譜圖是至關(guān)重要的，特別是在復(fù)雜樣品分析時，用戶需要具備較強(qiáng)的化學(xué)分析能力和數(shù)據(jù)解析能力。否則，可能會導(dǎo)致錯誤的結(jié)論，從而影響后續(xù)的實(shí)驗(yàn)或應(yīng)用。紅外光譜儀作為精密的實(shí)驗(yàn)工具，使用時需要細(xì)致關(guān)注多個方面，從校準(zhǔn)、樣品處理、環(huán)境控制到定期維護(hù)等，均是確保測量準(zhǔn)確性和儀器性能的重要因素。專業(yè)的操作與細(xì)心的保養(yǎng)能大程度地發(fā)揮其優(yōu)勢，確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的可靠性。

2025-04-15 16:00:17傅立葉紅外光譜儀步驟哪些必不可少？: 傅立葉紅外光譜儀步驟傅立葉紅外光譜儀（FTIR）作為現(xiàn)代分析化學(xué)中常見且重要的儀器之一，廣泛應(yīng)用于材料分析、化學(xué)成分鑒定以及污染監(jiān)測等領(lǐng)域。通過對紅外光譜的解析，F(xiàn)TIR能夠準(zhǔn)確地揭示樣品的分子結(jié)構(gòu)和功能基團(tuán)。本文將詳細(xì)介紹傅立葉紅外光譜儀的操作步驟，從樣品準(zhǔn)備到數(shù)據(jù)分析的整個過程，幫助用戶更好地理解和掌握該技術(shù)的實(shí)際應(yīng)用。樣品準(zhǔn)備與處理傅立葉紅外光譜儀的使用首先要求樣品的充分準(zhǔn)備。根據(jù)樣品的物理狀態(tài)（固態(tài)、液態(tài)或氣態(tài)），處理方法有所不同。在處理固態(tài)樣品時，通常需要將其磨成細(xì)粉，混合少量的KBr（氯化鉀）粉末，并通過壓片法制備成薄片，保證其透光性。液體樣品則可以直接滴加到紅外窗片上，或通過配制成薄膜來進(jìn)行測試。氣體樣品一般通過氣體池進(jìn)行分析，確保測試氣體的流動性和均勻性。在進(jìn)行樣品準(zhǔn)備時，操作人員需要特別注意避免樣品的污染或揮發(fā)。因?yàn)檫@些因素會直接影響的光譜結(jié)果，導(dǎo)致誤差。因此，樣品準(zhǔn)備過程中應(yīng)確保清潔操作，并使用高質(zhì)量的化學(xué)試劑。設(shè)備設(shè)置與校準(zhǔn) 傅立葉紅外光譜儀的操作需要先進(jìn)行必要的設(shè)備設(shè)置與校準(zhǔn)。打開儀器并進(jìn)行自檢，確保所有硬件運(yùn)行正常。接著，根據(jù)不同的樣品類型，選擇適當(dāng)?shù)墓庾V范圍和掃描模式。FTIR通常工作在4000 cm-1至400 cm-1的紅外區(qū)域，用戶應(yīng)根據(jù)實(shí)驗(yàn)要求設(shè)置合適的掃描次數(shù)和分辨率。在進(jìn)行數(shù)據(jù)采集之前，校準(zhǔn)是確保實(shí)驗(yàn)精度的重要步驟。常見的校準(zhǔn)方法包括使用標(biāo)準(zhǔn)的波長校準(zhǔn)片，或進(jìn)行背景掃描。背景掃描是指在沒有樣品的情況下，對環(huán)境進(jìn)行一次測量，獲得背景光譜。這樣，后續(xù)樣品測試時能夠扣除環(huán)境的影響，提高測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。數(shù)據(jù)采集與分析當(dāng)樣品準(zhǔn)備完畢，儀器設(shè)置完成后，開始進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。傅立葉紅外光譜儀通過紅外光源照射樣品，樣品對不同波長的紅外光具有不同的吸收特性，得到樣品的吸收光譜。在測試過程中，儀器會將光譜信息通過傅立葉變換算法轉(zhuǎn)化為可供分析的數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)采集完畢后，用戶需要對光譜圖進(jìn)行詳細(xì)的分析。檢查光譜的主要吸收峰，這些峰值對應(yīng)的是樣品分子中的特定化學(xué)鍵。通過與已知的標(biāo)準(zhǔn)譜庫進(jìn)行比對，分析樣品的成分和結(jié)構(gòu)。不同化學(xué)基團(tuán)會在紅外光譜上產(chǎn)生特定的吸收峰，例如，C=O、N-H、C-H等基團(tuán)的吸收特征非常明顯，能夠幫助用戶迅速定位到樣品的分子結(jié)構(gòu)。結(jié)果驗(yàn)證與報告為確保實(shí)驗(yàn)結(jié)果的可靠性，用戶需對結(jié)果進(jìn)行驗(yàn)證?？梢酝ㄟ^對比不同批次樣品的光譜結(jié)果，或者使用其他分析方法（如GC-MS、NMR）進(jìn)行輔助驗(yàn)證。如果光譜數(shù)據(jù)與已知標(biāo)準(zhǔn)相符，則可以確認(rèn)樣品的成分與結(jié)構(gòu)。在完成數(shù)據(jù)分析后，生成的報告需詳細(xì)記錄實(shí)驗(yàn)條件、樣品信息、光譜圖及分析結(jié)論。報告的準(zhǔn)確性對于后續(xù)的科研工作或質(zhì)量控制至關(guān)重要。總結(jié) 傅立葉紅外光譜儀作為一種強(qiáng)大的分析工具，其操作過程雖有一定復(fù)雜性，但通過合理的樣品準(zhǔn)備、設(shè)備設(shè)置、數(shù)據(jù)采集與分析，可以得到高精度的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。精確的操作步驟和科學(xué)的分析方法是確保結(jié)果準(zhǔn)確性的關(guān)鍵。通過對傅立葉紅外光譜技術(shù)的掌握，不僅能夠提高實(shí)驗(yàn)效率，更能為材料分析和化學(xué)研究提供有力的支持。

2024-11-20 16:17:53紅外光譜儀有哪些功能？如何做好清潔保養(yǎng)？: 紅外光譜儀如何清潔：保持儀器性能的關(guān)鍵紅外光譜儀作為一種精密的分析儀器，在化學(xué)、制藥、環(huán)境監(jiān)測等多個領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用。由于其高度敏感的性質(zhì)，任何污漬、灰塵或其他污染物都可能影響其測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。因此，定期且正確的清潔紅外光譜儀，不僅能延長儀器的使用壽命，還能確保測試數(shù)據(jù)的可靠性。本文將詳細(xì)介紹如何清潔紅外光譜儀，幫助用戶正確維護(hù)這一高精密儀器。一、清潔前的準(zhǔn)備工作在進(jìn)行任何清潔操作之前，首先要確保紅外光譜儀已完全關(guān)閉，并拔掉電源插頭。斷電不僅是為了安全，也能避免在清潔過程中不小心操作引發(fā)儀器損壞。隨后，準(zhǔn)備一些必要的清潔工具，如超細(xì)纖維布、專用清潔液、氣吹器、鏡頭紙以及棉簽等。這些工具能夠有效地清除表面污漬和細(xì)小灰塵，同時不會對儀器造成損傷。二、清潔外部表面紅外光譜儀的外部表面通常會積累灰塵、指紋等污漬。為避免這些污染物影響儀器的外觀和操作，應(yīng)使用超細(xì)纖維布進(jìn)行擦拭。超細(xì)纖維布具有良好的吸附性能，可以輕松清除表面灰塵，且不容易刮傷儀器表面。如果污漬較為頑固，可以輕輕噴灑一些專業(yè)的清潔液，然后用布擦拭干凈。對于一些細(xì)小的縫隙和按鈕等難以觸及的部位，可以使用氣吹器清除灰塵。氣吹器的氣流能夠有效去除細(xì)小顆粒，避免用手觸碰而可能帶來的污染或刮傷。三、清潔光學(xué)部件紅外光譜儀的光學(xué)部件，如鏡頭、透鏡和光纖等，是影響測量結(jié)果精度的重要因素。因此，這些部件的清潔需要特別小心。通常，可以使用專用鏡頭紙和少量的清潔液，輕輕擦拭光學(xué)鏡頭。務(wù)必避免使用硬物或過于濕潤的布料，以免損壞光學(xué)表面。在清潔過程中，要注意操作的輕柔度，并避免過度摩擦。鏡頭上的指紋或污漬可以通過鏡頭紙輕松去除，但如有較頑固的污染物，可以借助棉簽沾少量清潔液進(jìn)行擦拭。四、清潔內(nèi)部部件紅外光譜儀的內(nèi)部部件，如光源、探測器和光學(xué)模塊，通常需要專業(yè)人員進(jìn)行清潔。如果需要自己進(jìn)行內(nèi)部清潔，應(yīng)非常小心?？梢允褂脷獯灯鬏p輕吹去內(nèi)部積塵，避免使用任何液體清潔劑，以免液體進(jìn)入儀器內(nèi)部造成損壞。如果發(fā)現(xiàn)有較大的污漬或污垢，建議尋求專業(yè)的維護(hù)服務(wù)，以確保不會影響儀器的性能。五、定期檢查與維護(hù)除了日常的清潔工作外，紅外光譜儀還需要定期進(jìn)行維護(hù)檢查。這包括校準(zhǔn)光譜儀、檢查光源的穩(wěn)定性和探測器的靈敏度等。定期的專業(yè)維護(hù)不僅能確保儀器的精度和穩(wěn)定性，還能幫助發(fā)現(xiàn)潛在的問題，防止出現(xiàn)故障。

2023-06-05 09:39:20傅立葉變換紅外光譜儀測定粉塵中游離二氧化硅含量: 關(guān)鍵詞：紅外光譜儀定量檢測游離二氧化硅在電力、煤炭等行業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，粉塵中游離二氧化硅含量較高,粉塵的分散度也比較高，即多為呼吸性粉塵，因此對作業(yè)人員的危害較大，主要包括鼻炎、咽炎、氣管炎、支氣管炎等呼吸系統(tǒng)疾病。因此，加強(qiáng)對粉塵中游離二氧化硅含量的檢測是一件非常重要和緊迫的工作。以往檢測均采用“焦磷酸重量法”，該方法存在操作步驟復(fù)雜、使用試劑種類繁多、檢測周期長、準(zhǔn)確性差、試驗(yàn)室條件要求苛刻等一系列問題，難以滿足現(xiàn)場批量檢測的要求。為了提高檢測的準(zhǔn)確性，實(shí)現(xiàn)批量檢測的目的，可選用FTIR920型傅立葉變換紅外光譜儀來檢測粉塵中游離二氧化硅含量。檢測原理：α-石英在紅外光譜中于 12.5μm（800cm-1）、12.8μm（780cm-1）及 14.4（694cm-1）μm處出現(xiàn)特異性強(qiáng)的吸收帶，在一定范圍內(nèi)，其吸光度值與α-石英質(zhì)量成線性關(guān)系。通過測量吸光度，進(jìn)行定量測定。儀器配置：制樣準(zhǔn)備：瓷坩堝和坩堝鉗；箱式電阻爐或低溫灰化爐；十萬分之一天平；200目過濾篩；濾紙、稱量紙若干；無水乙醇；手套、脫脂棉、小藥勺、玻璃取樣瓶；游離二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)品(純度高于95%)；采集的粉塵樣品。樣品的采集：根據(jù)測定目的，樣品的采集方法參見 GBZ 159 和 GBZ/T 192.2 或 GBZ/T 192.1，濾膜上采集的粉塵量大于 0.1mg 時，可直接用于本法測定游離二氧化硅含量。測定：1、樣品處理準(zhǔn)確稱量采有粉塵的濾膜上粉塵的質(zhì)量（G）。然后將受塵面向內(nèi)對折 3 次，放在瓷坩堝內(nèi)，置于低溫灰化爐或電阻爐（小于 600℃）內(nèi)灰化，冷卻后，放入干燥器內(nèi)待用。稱取 250mg 溴化鉀和灰化后的粉塵樣品一起放入瑪瑙乳缽中研磨混勻后，連同壓片模具一起放入干燥箱（110℃±5℃）中10min。將干燥后的混合樣品置于壓片模具中，加壓25MPa，持續(xù) 3min，制備出的錠片作為測定樣品。同時，取空白濾膜一張，同樣處理，作為空白對照樣品。2、石英標(biāo)準(zhǔn)曲線的繪制精確稱取不同質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)α-石英塵（0.01mg ~1.00mg），分別加入250mg 溴化鉀，置于瑪瑙乳缽中充分研磨均勻，按上述樣品制備方法做出透明的錠片。將不同質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)石英錠片置于樣品室光路中進(jìn)行掃描，紅外軟件以 X 軸橫坐標(biāo)記錄 1000cm-1~600cm-1 的譜圖，在 900cm-1 處校正零點(diǎn)和 100%，以 Y 軸縱坐標(biāo)表示吸光度。以 800cm-1、780cm-1 及 694cm-1 三處的吸光度值為縱坐標(biāo)，以石英質(zhì)量（mg）為橫坐標(biāo)，繪制三條不同波長的α-石英標(biāo)準(zhǔn)曲線，并求出標(biāo)準(zhǔn)曲線的回歸方程式。在無干擾的情況下，一般選用 800 cm-1標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行定量分析。3、樣品測定分別將樣品錠片與空白對照樣品錠片置于樣品室光路中進(jìn)行掃描，記錄800cm-1（或 694cm-1）處的吸光度值，重復(fù)掃描測定 3 次，測定樣品的吸光度均值減去空白對照樣品的吸光度均值后，由α-石英標(biāo)準(zhǔn)曲線得樣品中游離二氧化硅的質(zhì)量（m）。計(jì)算按以下公式計(jì)算粉塵中游離二氧化硅的含量：SiO2(F)= m/G× 100公式中：SiO2（F）——粉塵中游離二氧化硅（α-石英）的含量，%；m——測得的粉塵樣品中游離二氧化硅的質(zhì)量，mg；G——粉塵樣品質(zhì)量，mg。注意事項(xiàng)1、本法的α-石英檢出量為 0.01mg；相對標(biāo)準(zhǔn)差（RSD）為 0.64%~1.41%。2、粉塵粒度大小對測定結(jié)果有一定影響，因此，樣品和制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的石英塵應(yīng)充分研磨，使其粒度小于 5μm 者占 95%以上，方可進(jìn)行分析測定。3、灰化溫度對煤礦塵樣品定量結(jié)果有一定影響，若煤塵樣品中含有大量高嶺土成分，在高于 600℃灰化時發(fā)生分解，于 800cm-1 附近產(chǎn)生干擾，如灰化溫度小于 600℃時，可消除此干擾帶。4、在粉塵中若含有粘土、云母、閃石、長石等成分時，可在 800cm-1 附近產(chǎn)生干擾，則可用 694cm-1 的標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行定量分析。5、為降低測量的隨機(jī)誤差，實(shí)驗(yàn)室溫度應(yīng)控制在 18℃~24℃，相對濕度小于 50%為宜。制備石英標(biāo)準(zhǔn)曲線樣品的分析條件應(yīng)與被測樣品的條件完全一致，以減少誤差。