- 2026-03-05 13:35:21原子力顯微鏡(AFM)
- 原子力顯微鏡(AFM)是一種高分辨率的掃描探針顯微鏡,用于研究材料表面的納米級形貌。它通過探測針尖與樣品表面原子間的相互作用力來繪制表面形貌圖。AFM具有高精度、非破壞性、適用范圍廣等優(yōu)點(diǎn),可用于研究固體表面結(jié)構(gòu)、吸附層、薄膜及生物分子等。它不僅能提供樣品表面的三維形貌圖像,還能測量表面粗糙度、摩擦力等性質(zhì),在材料科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。
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