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2025-01-21 09:33:05微納幾何量計(jì)量技術(shù): 微納幾何量計(jì)量技術(shù)在微米或納米尺度上精確測(cè)量物體形狀、尺寸、位置等幾何特性。涉及高精度儀器、先進(jìn)方法和嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn)，實(shí)現(xiàn)微小結(jié)構(gòu)精確量化和分析。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、微納加工、生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域，推動(dòng)科技進(jìn)步和產(chǎn)業(yè)發(fā)展，對(duì)科學(xué)研究和技術(shù)創(chuàng)新具有重要意義。

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微納幾何量計(jì)量技術(shù)資訊

《幾何量測(cè)量實(shí)驗(yàn)室工程技術(shù)規(guī)程》編制進(jìn)度計(jì)劃時(shí)間表已確認(rèn)

一個(gè)完整的測(cè)量過程應(yīng)包括被測(cè)對(duì)象、計(jì)量單位、測(cè)量方法和測(cè)量精度等四個(gè)要素。被測(cè)對(duì)象包括長(zhǎng)度、角度、表面粗糙度、形狀相位置誤差以及螺紋、齒輪的各個(gè)幾何參數(shù)等。

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2020-01-08
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微納幾何量計(jì)量技術(shù)問答

2023-02-05 09:13:27納克微束祝您元宵節(jié)快樂！: 萬(wàn)家燈火，歡樂元宵！納克微束祝大家好夢(mèng)皆圓！

2023-02-01 14:56:12蔡司激光共聚焦顯微鏡-微納器件的表征分析: 對(duì)微納器件進(jìn)行表征時(shí)，常關(guān)注的便是器件的表面形貌和三維尺寸信息，比如粗糙度、深度、體積等，這些都是評(píng)價(jià)微納加工工藝的重要指標(biāo)。然而，在進(jìn)行表面三維的分析工作中，我們可能常遇到這樣的苦惱：　　光學(xué)明場(chǎng)無法直接定位到亞微米級(jí)缺陷結(jié)構(gòu)!　　樣品結(jié)構(gòu)太復(fù)雜，微弱信號(hào)無法捕獲，難以準(zhǔn)確測(cè)量尺度信息!　　三維接觸式測(cè)量經(jīng)常會(huì)損傷柔軟樣品，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確!　　今天，友碩小編將從下面幾個(gè)角度來看看蔡司激光共聚焦顯微鏡如何幫助你更好地解決這些問題?！　∈Х治觯憾喑叨榷嗑S度原位分析!　　器件表面往往存在一些特殊的結(jié)構(gòu)或缺陷，比如亞微米尺度的劃痕，這些特征難以在光學(xué)明場(chǎng)下被直接觀察到。C-DIC(圓微分干涉)觀察模式可以讓樣品表面亞微米尺度的微小起伏都可以呈現(xiàn)出浮雕效果，幫助我們快速定位并開展下一步的分析工作?！　　?不同觀察方式下晶圓表面缺陷　　在定位到感興趣區(qū)域后，可以直接切換到共聚焦模式，進(jìn)行表面三維形貌掃描，并進(jìn)行尺寸測(cè)量及分析，無需轉(zhuǎn)移樣品即可完成樣品多尺度多維度的表征。　　▲共聚焦三維圖像及深度測(cè)量　　對(duì)于某些樣品，暗場(chǎng)和熒光模式也是一種很好定位方法，表面起伏的結(jié)構(gòu)在暗場(chǎng)下尤其明顯，如藍(lán)寶石這類能發(fā)熒光的晶圓，利用熒光成像也能幫助我們快速地定位到失效結(jié)構(gòu)。甚至，共聚焦還可以和電鏡或者雙束電鏡(FIB)(點(diǎn)擊查看)實(shí)現(xiàn)原位關(guān)聯(lián)，在共聚焦顯微鏡下進(jìn)行定位后轉(zhuǎn)移樣品到電鏡下進(jìn)行更高分辨的表征分析?！　∩罟杩涛g：結(jié)構(gòu)深，信號(hào)弱，蔡司激光共聚焦顯微鏡有辦法!　　深硅刻蝕的樣品通常為窄而深的溝壑結(jié)構(gòu)。接觸式測(cè)量(如臺(tái)階儀)無法接觸到溝壑底部測(cè)得信息，而由于結(jié)構(gòu)特殊造成了反射光信號(hào)損失，常規(guī)白光干涉或者顯微明場(chǎng)無法捕獲底面的微弱信號(hào)。因此，不得不對(duì)樣品進(jìn)行裂片分析，這不僅破壞了樣品，而且還使分析流程復(fù)雜化?！　∥骱髮W(xué)張先鋒老師用蔡司激光共聚焦顯微鏡對(duì)深163.905 μm，寬3.734μm的刻蝕坑進(jìn)行成像，高靈敏探測(cè)器、大功率激光及Z Brightness Correction技術(shù)可以幫助成功檢測(cè)到底部的微弱信號(hào)，完成大深寬比(近50：1)樣品的三維形貌表征與測(cè)量，輕松實(shí)現(xiàn)無損檢測(cè)分析。

2023-06-08 17:52:34邀請(qǐng)函｜飛納電鏡邀您參加微納科技與先進(jìn)材料創(chuàng)新大會(huì) 2023: 復(fù)納INVITATION微納科技與先進(jìn)材料創(chuàng)新大會(huì)（2023）將于 6 月 10 日 - 12 日在重慶舉辦。本次會(huì)議旨在凝聚優(yōu)勢(shì)力量、加強(qiáng)納米科學(xué)與微納制造技術(shù)的基礎(chǔ)研究與應(yīng)用研究，促進(jìn)多學(xué)科交叉融合，促進(jìn)先進(jìn)材料產(chǎn)業(yè)化的發(fā)展。時(shí)間：2023 年 6 月 10 日 - 12 日地點(diǎn)：重慶兩江云頂大酒店復(fù)納科技展位號(hào)：7 號(hào)新興的微納材料在電子、通信和物聯(lián)網(wǎng)、能源存儲(chǔ)、化工和燃料生產(chǎn)、醫(yī)療保健、藥物輸送等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。納米材料的性質(zhì)與其組成和表面形貌有很大的關(guān)系，復(fù)納科技擁有一系列高精尖的分析檢測(cè)儀器與先進(jìn)的解決方案，可以對(duì)納米材料進(jìn)行分析表征和改性。歡迎各位老師同行蒞臨【7】號(hào)展位，和我們一起探討交流！莊思濛復(fù)納科技產(chǎn)品經(jīng)理報(bào)告時(shí)間：6月12日 16:05-16:25本次會(huì)議中，復(fù)納科技產(chǎn)品經(jīng)理莊思濛將在“微納技術(shù)在新能源電池領(lǐng)域中的應(yīng)用技術(shù)”分會(huì)場(chǎng)帶來《電池粉末原子層沉積包覆改性及原位電鏡表征方案》的主題報(bào)告。1、Phenom-飛納臺(tái)式掃描電鏡飛納臺(tái)式掃描電鏡操作簡(jiǎn)單，效率高，成像質(zhì)量高，其優(yōu)異的低真空模式可實(shí)現(xiàn)無需噴金直接觀察不導(dǎo)電樣品。最新的第二代場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 Phenom Pharos G2 分辨率優(yōu)于 1.5nm，是分辨率最高的臺(tái)式掃描電鏡，是納米材料表征的強(qiáng)有力工具。Phenom Pharos G2飛納臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Phenom XL G2飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室卓越版Phenom ProX飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)2、Forge Nano-原子層沉積系統(tǒng)ALD 原子層沉積技術(shù)已被證明可用于多種組分以及納米結(jié)構(gòu)的制備，包括單原子 / 團(tuán)簇催化劑、鋰電材料表面包覆等等。Forge Nano 設(shè)備基于 ALD 工藝可實(shí)現(xiàn)從毫克到千噸級(jí)的粉末包覆處理量，能夠有效提高電池化學(xué)性能與安全性。3、DENSsolutions-TEM 原位實(shí)驗(yàn)方案DENS 產(chǎn)品可以為 TEM 樣品施加外界刺激，實(shí)現(xiàn)在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種條件，捕捉 TEM 樣品在真實(shí)環(huán)境下的動(dòng)態(tài)現(xiàn)象。目前提供的四種原位實(shí)驗(yàn)方案：Wildfire TEM 原位加熱方案、Lightning TEM 原位熱電方案、Climate TEM 原位氣相加熱方案和 Stream TEM 原位液相加熱 / 加電方案。Wildfire 原位加熱樣品桿Lightning 原位熱電樣品桿Lightning 原位熱電樣品桿Stream 原位液相加熱/加電樣品桿Climate 原位氣相加熱樣品桿4、VSParticle-全自動(dòng)納米研究平臺(tái)VSParticle 設(shè)備采用火花燒蝕制備納米顆粒的技術(shù)，可對(duì)產(chǎn)生的顆粒進(jìn)行粒徑的控制，從而獲得不同粒徑中位值的單分散納米氣溶膠。此外該技術(shù)也能用于進(jìn)行快速打印以及粉末表面的納米沉積。歡迎各位老師蒞臨展位與我們探討交流，我們將隨時(shí)為您提供專業(yè)的解答與支持，現(xiàn)場(chǎng)也有精美小禮品相送噢！

2025-02-01 15:10:13體視顯微鏡需要計(jì)量嗎: 體視顯微鏡需要計(jì)量嗎？在科學(xué)研究和實(shí)驗(yàn)室工作中，體視顯微鏡是一種常見的工具，廣泛應(yīng)用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、工程學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域。隨著顯微技術(shù)的發(fā)展，體視顯微鏡在許多精密工作中發(fā)揮著重要作用。體視顯微鏡是否需要計(jì)量？這一問題在實(shí)際應(yīng)用中具有較大的討論空間。本文將圍繞這一主題展開分析，深入探討體視顯微鏡在不同應(yīng)用場(chǎng)景中的計(jì)量需求，解析為何在一些專業(yè)實(shí)驗(yàn)中，精確的計(jì)量對(duì)結(jié)果的可靠性和精度至關(guān)重要。體視顯微鏡的基本原理與功能體視顯微鏡，也被稱為立體顯微鏡，通常由兩個(gè)光學(xué)系統(tǒng)組成，能夠提供三維影像。與普通光學(xué)顯微鏡不同，體視顯微鏡的主要特點(diǎn)是具有較大的工作距離和較低的放大倍數(shù)，適合觀察較大物體的表面結(jié)構(gòu)。通過這種顯微鏡，用戶可以在高倍率下清晰觀察樣本的形態(tài)、表面細(xì)節(jié)以及微小的結(jié)構(gòu)變化。在許多實(shí)驗(yàn)和研究中，體視顯微鏡不僅是用于觀察的工具，還被用來進(jìn)行一些需要精確操作的工作。例如，生物學(xué)家用其觀察細(xì)胞樣本，工程師用其檢查微小的部件或焊點(diǎn)。為什么體視顯微鏡需要計(jì)量？體視顯微鏡的一個(gè)顯著優(yōu)點(diǎn)是可以幫助科研人員更精確地觀察到樣本的三維結(jié)構(gòu)。要確保觀察到的圖像和數(shù)據(jù)的精度，必須要有相應(yīng)的計(jì)量手段。這是因?yàn)?，盡管體視顯微鏡能夠清晰展示樣本的表面結(jié)構(gòu)，但在某些應(yīng)用場(chǎng)景下，樣本的微小尺寸和位置變化可能會(huì)對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果產(chǎn)生影響。例如，在對(duì)微型器件進(jìn)行質(zhì)量控制時(shí)，測(cè)量其尺寸、位置偏差或幾何形態(tài)是至關(guān)重要的。如果體視顯微鏡沒有經(jīng)過精確的計(jì)量，可能會(huì)導(dǎo)致誤差，影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。因此，體視顯微鏡的計(jì)量不僅涉及到顯微鏡本身的光學(xué)系統(tǒng)校準(zhǔn)，還包括樣品坐標(biāo)、放大倍率、焦距等多個(gè)參數(shù)的精確設(shè)定。體視顯微鏡計(jì)量的實(shí)現(xiàn)方式為了確保體視顯微鏡的精度，科研人員通常會(huì)使用一些輔助工具進(jìn)行計(jì)量。這些工具包括微米計(jì)、標(biāo)準(zhǔn)尺寸的參照物以及圖像分析軟件。通過這些工具，可以有效地校準(zhǔn)顯微鏡的放大倍率、焦距和視野范圍，確保每一次測(cè)量都具有高度的可靠性和一致性。在一些高精度領(lǐng)域，如集成電路生產(chǎn)、微電子學(xué)研究等，體視顯微鏡的計(jì)量工作尤為重要。計(jì)量過程中，通過對(duì)顯微鏡的焦距進(jìn)行精細(xì)調(diào)整，配合圖像處理軟件進(jìn)行尺寸分析，可以大限度地降低人為誤差和設(shè)備誤差的影響。結(jié)語(yǔ) 體視顯微鏡在很多領(lǐng)域的應(yīng)用中確實(shí)需要計(jì)量，尤其是在精密操作和高精度研究中。通過對(duì)顯微鏡進(jìn)行嚴(yán)格的校準(zhǔn)，科研人員能夠確保觀測(cè)和測(cè)量的準(zhǔn)確性，從而提升實(shí)驗(yàn)結(jié)果的可靠性。隨著技術(shù)的不斷發(fā)展，體視顯微鏡的計(jì)量方法也在不斷優(yōu)化，以滿足更高標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)需求。

2025-02-01 18:10:12金相顯微鏡需要計(jì)量嗎: 金相顯微鏡作為材料科學(xué)中重要的分析工具，在金屬、合金及其他固體材料的微觀結(jié)構(gòu)研究中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。它通過放大材料表面的細(xì)節(jié)，幫助研究人員觀察到微觀層面的組織結(jié)構(gòu)，如晶粒、晶界、夾雜物等。對(duì)于金相顯微鏡的使用，計(jì)量這一環(huán)節(jié)是否必要，成為了許多人關(guān)注的話題。本文將深入探討金相顯微鏡是否需要進(jìn)行計(jì)量，以及為什么計(jì)量對(duì)于確保其精確性和可靠性至關(guān)重要。一、金相顯微鏡的作用與應(yīng)用領(lǐng)域金相顯微鏡廣泛應(yīng)用于冶金、材料工程、電子工程等領(lǐng)域，特別是在金屬材料、合金、陶瓷等材料的質(zhì)量控制和分析中。通過顯微鏡的高倍率放大作用，研究人員可以直觀地看到材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)，如晶粒的大小、形態(tài)、分布以及其他雜質(zhì)的情況。這些信息對(duì)于判斷材料的性能、預(yù)測(cè)其應(yīng)用壽命及優(yōu)化材料性能至關(guān)重要。二、金相顯微鏡需要計(jì)量的原因確保測(cè)量精度金相顯微鏡的計(jì)量是保證測(cè)量數(shù)據(jù)精確性的關(guān)鍵步驟。如果顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)、標(biāo)定尺寸等參數(shù)沒有經(jīng)過嚴(yán)格的計(jì)量和校準(zhǔn)，其得到的圖像和測(cè)量結(jié)果可能存在誤差，進(jìn)而影響材料分析的準(zhǔn)確性。因此，定期的計(jì)量與校準(zhǔn)是不可或缺的。提升測(cè)量穩(wěn)定性金相顯微鏡的計(jì)量能夠保證在不同時(shí)間、不同使用條件下，儀器的性能穩(wěn)定可靠。隨著顯微鏡的使用時(shí)間增加，鏡頭、光源等可能會(huì)出現(xiàn)偏差，影響其性能表現(xiàn)。因此，通過定期的計(jì)量檢查，可以有效避免儀器性能的波動(dòng)，確保其長(zhǎng)期穩(wěn)定性。符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)與質(zhì)量認(rèn)證要求在某些工業(yè)領(lǐng)域，特別是航空航天、汽車制造、半導(dǎo)體等行業(yè)，金相顯微鏡的使用必須符合一定的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)際認(rèn)證要求。為了確保這些標(biāo)準(zhǔn)的遵守，金相顯微鏡必須進(jìn)行嚴(yán)格的計(jì)量，以保證儀器測(cè)量的結(jié)果能夠滿足質(zhì)量控制的嚴(yán)格需求。提高操作效率與質(zhì)量控制能力定期進(jìn)行計(jì)量和校準(zhǔn)能夠確保金相顯微鏡在使用中的操作效率和準(zhǔn)確性。計(jì)量可以幫助操作人員及時(shí)發(fā)現(xiàn)儀器存在的偏差或故障，從而減少因設(shè)備問題而產(chǎn)生的測(cè)量誤差，提高工作效率。三、如何進(jìn)行金相顯微鏡的計(jì)量金相顯微鏡的計(jì)量主要包括以下幾個(gè)方面：放大倍率的校準(zhǔn)：通過標(biāo)準(zhǔn)樣本或標(biāo)定尺對(duì)顯微鏡的放大倍率進(jìn)行校準(zhǔn)，確保其放大的尺寸與實(shí)際尺寸一致。視場(chǎng)尺寸的測(cè)量：根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)圖像或樣本，確認(rèn)顯微鏡視場(chǎng)的實(shí)際尺寸，以保證圖像的準(zhǔn)確性。對(duì)焦系統(tǒng)的檢查：確保顯微鏡的對(duì)焦系統(tǒng)工作正常，能夠清晰準(zhǔn)確地呈現(xiàn)材料的微觀結(jié)構(gòu)。光源強(qiáng)度的穩(wěn)定性：檢查并校準(zhǔn)光源的強(qiáng)度，避免因光源波動(dòng)導(dǎo)致的圖像偏差。四、總結(jié) 金相顯微鏡作為重要的分析工具，其計(jì)量工作不僅關(guān)系到其測(cè)量精度與穩(wěn)定性，還直接影響到實(shí)驗(yàn)結(jié)果的可靠性。無論是為了確保精度、提高測(cè)量穩(wěn)定性，還是為了符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，定期的計(jì)量與校準(zhǔn)都顯得尤為重要。因此，金相顯微鏡的計(jì)量不僅是一項(xiàng)技術(shù)工作，更是保障科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中質(zhì)量控制的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。