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2025-01-10 17:04:37器件 - 微納光學(xué)器件檢測(cè): 微納光學(xué)器件檢測(cè)是對(duì)微納米尺度光學(xué)器件的性能、結(jié)構(gòu)和質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè)的技術(shù)。它涉及利用高精度儀器，如光譜儀、顯微鏡等，對(duì)器件的光學(xué)特性、表面形貌、尺寸精度等進(jìn)行測(cè)量與分析。這些檢測(cè)對(duì)于確保微納光學(xué)器件在光通信、光傳感、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的應(yīng)用性能至關(guān)重要。通過(guò)檢測(cè)，可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)并糾正制造過(guò)程中的缺陷，提升器件的可靠性和穩(wěn)定性。

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器件 - 微納光學(xué)器件檢測(cè)資訊

直播預(yù)告丨《可隨身攜帶的AFM，一個(gè)針尖進(jìn)行上千次掃描！便攜式原子力顯微鏡在各領(lǐng)域的應(yīng)用》

在本報(bào)告中，將重點(diǎn)介紹nGauge便攜式原子力顯微鏡，并結(jié)合來(lái)自國(guó)內(nèi)外科研院所和工業(yè)用戶的實(shí)際使用情況，探討nGauge便攜式原子力顯微鏡在各領(lǐng)域的應(yīng)用。

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2022-06-29
nGauge便攜式原子力顯微鏡器件 - 微納光學(xué)器件檢測(cè)

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器件 - 微納光學(xué)器件檢測(cè)問(wèn)答

2023-02-01 14:56:12蔡司激光共聚焦顯微鏡-微納器件的表征分析: 對(duì)微納器件進(jìn)行表征時(shí)，常關(guān)注的便是器件的表面形貌和三維尺寸信息，比如粗糙度、深度、體積等，這些都是評(píng)價(jià)微納加工工藝的重要指標(biāo)。然而，在進(jìn)行表面三維的分析工作中，我們可能常遇到這樣的苦惱：　　光學(xué)明場(chǎng)無(wú)法直接定位到亞微米級(jí)缺陷結(jié)構(gòu)!　　樣品結(jié)構(gòu)太復(fù)雜，微弱信號(hào)無(wú)法捕獲，難以準(zhǔn)確測(cè)量尺度信息!　　三維接觸式測(cè)量經(jīng)常會(huì)損傷柔軟樣品，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確!　　今天，友碩小編將從下面幾個(gè)角度來(lái)看看蔡司激光共聚焦顯微鏡如何幫助你更好地解決這些問(wèn)題。　　失效分析：多尺度多維度原位分析!　　器件表面往往存在一些特殊的結(jié)構(gòu)或缺陷，比如亞微米尺度的劃痕，這些特征難以在光學(xué)明場(chǎng)下被直接觀察到。C-DIC(圓微分干涉)觀察模式可以讓樣品表面亞微米尺度的微小起伏都可以呈現(xiàn)出浮雕效果，幫助我們快速定位并開展下一步的分析工作?！　　?不同觀察方式下晶圓表面缺陷　　在定位到感興趣區(qū)域后，可以直接切換到共聚焦模式，進(jìn)行表面三維形貌掃描，并進(jìn)行尺寸測(cè)量及分析，無(wú)需轉(zhuǎn)移樣品即可完成樣品多尺度多維度的表征?！　　簿劢谷S圖像及深度測(cè)量　　對(duì)于某些樣品，暗場(chǎng)和熒光模式也是一種很好定位方法，表面起伏的結(jié)構(gòu)在暗場(chǎng)下尤其明顯，如藍(lán)寶石這類能發(fā)熒光的晶圓，利用熒光成像也能幫助我們快速地定位到失效結(jié)構(gòu)。甚至，共聚焦還可以和電鏡或者雙束電鏡(FIB)(點(diǎn)擊查看)實(shí)現(xiàn)原位關(guān)聯(lián)，在共聚焦顯微鏡下進(jìn)行定位后轉(zhuǎn)移樣品到電鏡下進(jìn)行更高分辨的表征分析?！　∩罟杩涛g：結(jié)構(gòu)深，信號(hào)弱，蔡司激光共聚焦顯微鏡有辦法!　　深硅刻蝕的樣品通常為窄而深的溝壑結(jié)構(gòu)。接觸式測(cè)量(如臺(tái)階儀)無(wú)法接觸到溝壑底部測(cè)得信息，而由于結(jié)構(gòu)特殊造成了反射光信號(hào)損失，常規(guī)白光干涉或者顯微明場(chǎng)無(wú)法捕獲底面的微弱信號(hào)。因此，不得不對(duì)樣品進(jìn)行裂片分析，這不僅破壞了樣品，而且還使分析流程復(fù)雜化?！　∥骱髮W(xué)張先鋒老師用蔡司激光共聚焦顯微鏡對(duì)深163.905 μm，寬3.734μm的刻蝕坑進(jìn)行成像，高靈敏探測(cè)器、大功率激光及Z Brightness Correction技術(shù)可以幫助成功檢測(cè)到底部的微弱信號(hào)，完成大深寬比(近50：1)樣品的三維形貌表征與測(cè)量，輕松實(shí)現(xiàn)無(wú)損檢測(cè)分析。

2025-09-30 16:45:22微庫(kù)侖儀怎么檢測(cè): 微庫(kù)侖儀是一種用于檢測(cè)微量電荷和微小電流的精密儀器，廣泛應(yīng)用于電化學(xué)研究、電池性能測(cè)試以及科學(xué)實(shí)驗(yàn)中。正確掌握微庫(kù)侖儀的檢測(cè)方法，對(duì)于確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和儀器的穩(wěn)定性具有重要意義。本文將系統(tǒng)介紹微庫(kù)侖儀的檢測(cè)原理、操作步驟以及注意事項(xiàng)，幫助實(shí)驗(yàn)人員和技術(shù)工程師實(shí)現(xiàn)高效且的測(cè)量。一、微庫(kù)侖儀的工作原理微庫(kù)侖儀主要通過(guò)測(cè)量電化學(xué)反應(yīng)中產(chǎn)生或消耗的微小電荷量，來(lái)反映反應(yīng)過(guò)程的電流變化。其核心原理基于庫(kù)侖定律，即通過(guò)積分電流隨時(shí)間的累積量，獲得總電荷。儀器內(nèi)部通常配備高靈敏度放大器、積分器以及顯示系統(tǒng)，能夠?qū)⑽采踔良{安級(jí)別的電流信號(hào)轉(zhuǎn)換為可讀數(shù)值。理解其工作原理，有助于用戶在實(shí)際檢測(cè)中避免誤差，提高數(shù)據(jù)可靠性。二、微庫(kù)侖儀的檢測(cè)步驟儀器準(zhǔn)備在使用微庫(kù)侖儀前，應(yīng)確保儀器已接通電源并完成自檢程序。檢查電極連接線是否完好，避免接觸不良造成數(shù)據(jù)波動(dòng)。對(duì)儀器進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，以保證初始讀數(shù)為零。樣品處理樣品的處理方式直接影響檢測(cè)結(jié)果。對(duì)于液態(tài)電化學(xué)樣品，應(yīng)保持溶液均勻，避免氣泡或雜質(zhì)干擾。固態(tài)樣品則需確保表面平整和導(dǎo)電性良好，以獲得穩(wěn)定的電流信號(hào)。參數(shù)設(shè)置根據(jù)實(shí)驗(yàn)要求，設(shè)定微庫(kù)侖儀的積分時(shí)間、靈敏度和掃描模式。積分時(shí)間過(guò)短可能導(dǎo)致信號(hào)丟失，而過(guò)長(zhǎng)則可能增加背景噪聲。靈敏度選擇應(yīng)根據(jù)樣品電荷量的大小進(jìn)行調(diào)整，確保讀數(shù)清晰可辨。檢測(cè)過(guò)程將樣品與電極系統(tǒng)連接，啟動(dòng)檢測(cè)程序。觀察儀器顯示的電流曲線或電荷累積曲線，記錄關(guān)鍵數(shù)據(jù)。整個(gè)過(guò)程應(yīng)保持環(huán)境穩(wěn)定，避免溫度、濕度或電磁干擾對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。數(shù)據(jù)處理與分析檢測(cè)結(jié)束后，對(duì)獲得的電荷曲線進(jìn)行積分或進(jìn)一步分析，以計(jì)算反應(yīng)效率、電池容量或其他指標(biāo)。通過(guò)重復(fù)實(shí)驗(yàn)并對(duì)比結(jié)果，可提高數(shù)據(jù)的可靠性和可重復(fù)性。三、檢測(cè)注意事項(xiàng) 微庫(kù)侖儀在高精度檢測(cè)中對(duì)環(huán)境和操作要求嚴(yán)格。應(yīng)避免強(qiáng)電磁干擾及機(jī)械振動(dòng)，確保儀器穩(wěn)定性。定期對(duì)電極和儀器進(jìn)行清潔和維護(hù)，防止污染影響測(cè)量精度。在實(shí)驗(yàn)記錄中，應(yīng)詳細(xì)標(biāo)注樣品狀態(tài)、儀器參數(shù)和實(shí)驗(yàn)環(huán)境，以便后續(xù)分析和對(duì)比。四、總結(jié) 微庫(kù)侖儀的檢測(cè)不僅依賴儀器本身的精度，更需要操作人員掌握正確的使用方法和實(shí)驗(yàn)技巧。通過(guò)科學(xué)設(shè)置參數(shù)、規(guī)范操作流程以及嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臄?shù)據(jù)處理，可以大限度地發(fā)揮微庫(kù)侖儀的性能，獲得可靠且精確的電荷測(cè)量結(jié)果。在電化學(xué)實(shí)驗(yàn)和高精密研究中，掌握微庫(kù)侖儀的檢測(cè)方法，是實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)成功和數(shù)據(jù)準(zhǔn)確的關(guān)鍵保障。

2023-06-14 13:32:00基于升級(jí)的分區(qū)EDGE器件的行為，升級(jí)自發(fā)微流體乳化液滴芯片的設(shè)計(jì)見解: 微流體控制系統(tǒng)OB1 MK3The pressures, and thereby the flows, were controlled through a microfluidic control system (Elveflow OB1, MK3, Elveflow?, France), and droplet formation was monitored by using an inverted microscope (Axiovert 200 MAT, Carl Zeiss B.V., The Netherlands), which was connected to a high-speed camera (FASTCAM SA-Z, Photron Limited, Japan).Sten ten Klooster, Claire Berton-Carabin, Karin Schro?n, Design insights for upscaling spontaneous microfluidic emulsification devices based on behavior of the Upscaled Partitioned EDGE device, Food Research International, 2023, 164: 112365. https://doi.org/10.1016/j.foodres.2022.112365.微流體乳化技術(shù)有可能以一種微妙的方式產(chǎn)生具有控制液滴大小的能力。為了支持這一點(diǎn)，我們提供了基于分區(qū)EDGE (UPE)器件性能的升級(jí)指南，使用菜籽油作為待分散相，乳清蛋白作為乳化劑。UPE5x1器件(11000個(gè)5 × 1μm的液滴形成單位(DFUs))以0.3 mL/h的速度產(chǎn)生3.5μm的液滴(CV 3.2%);UPE10x2 (8000 DFUs為10 × 2μm)在0.5 mL/h下產(chǎn)生7μm液滴(CV 3.2%)，在更高的壓力下，在4 mL/h下產(chǎn)生32μm液滴(CV 3 - 4%)。與文獻(xiàn)中報(bào)道的其他設(shè)備(例如，Microchannel, Tsukuba和Millipede, Harvard)相比，這些液滴的生產(chǎn)率相對(duì)較高?；谶@些結(jié)果和文獻(xiàn)中的其他結(jié)果，我們得出結(jié)論:(1)選擇連續(xù)相通道尺寸時(shí)，需要允許液滴逐漸填充該通道，而不會(huì)顯著降低液滴形成單元上的壓力;(2)分散相供給通道設(shè)計(jì)應(yīng)創(chuàng)造較寬的穩(wěn)定液滴形成的壓力范圍;(3)通過(guò)對(duì)所用原料的選擇，可以獲得較高的生產(chǎn)率;低粘度分散相和增加界面張力而不會(huì)負(fù)面影響器件潤(rùn)濕性的乳化劑是優(yōu)選的(例如，乳清蛋白優(yōu)于Tween 20)。

2023-02-05 09:13:27納克微束祝您元宵節(jié)快樂(lè)！: 萬(wàn)家燈火，歡樂(lè)元宵！納克微束祝大家好夢(mèng)皆圓！

2022-12-05 13:11:13TOF-SIMS在光電器件研究中的應(yīng)用系列之三: 一、引言光伏發(fā)電新能源技術(shù)對(duì)于實(shí)現(xiàn)碳中和目標(biāo)具有重要意義。近年來(lái)，基于有機(jī)-無(wú)機(jī)雜化鈣鈦礦的光電太陽(yáng)能電池器件取得了飛速的發(fā)展，目前報(bào)道的最高光電轉(zhuǎn)化效率已接近26%。鹵化物鈣鈦礦材料具有無(wú)限的組分調(diào)整空間，因此表現(xiàn)出優(yōu)異的可調(diào)控的光電性質(zhì)。然而，由于多組分的引入，鈣鈦礦材料生長(zhǎng)過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)多相競(jìng)爭(zhēng)問(wèn)題，導(dǎo)致薄膜初始組分分布不均一，這嚴(yán)重降低了器件效率和壽命。圖1. 鈣鈦礦晶體結(jié)構(gòu)二、TOF-SIMS應(yīng)用成果由于目前用于高性能太陽(yáng)能電池的混合鹵化物過(guò)氧化物中的陽(yáng)離子和陰離子的混合物經(jīng)常發(fā)生元素和相分離，這限制了器件的壽命。對(duì)此，北京理工大學(xué)材料學(xué)院陳棋教授等人研究了二元（陽(yáng)離子）系統(tǒng)鈣鈦礦薄膜(FA1-xCsxPbI3，F(xiàn)A：甲酰胺)，揭示了鈣鈦礦薄膜材料初始均一性對(duì)薄膜及器件穩(wěn)定性的影響。研究發(fā)現(xiàn)，薄膜在納米尺度的不均一位點(diǎn)會(huì)在外界刺激下快速發(fā)展，導(dǎo)致更為嚴(yán)重的組分分布差異化（如圖2所示），最終形成熱力學(xué)穩(wěn)定的物相分離，并貫穿整個(gè)鈣鈦礦薄膜，造成材料退化和器件失活。該研究成果以題為“Initializing Film Homogeneity to Retard Phase Segregation for Stable Perovskite Solar Cells”發(fā)表在Science期刊。[1]圖2. 二元 FAC 鈣鈦礦的降解機(jī)制。（A-H）鈣鈦礦薄膜的組分初始分布和在外界刺激下的演變行為。（I-N）熱力學(xué)驅(qū)動(dòng)下，鈣鈦礦薄膜的物相分離現(xiàn)象的TOF-SIMS表征TOF-SIMS作為重要的表面分析方法，具有高檢測(cè)靈敏度（ppm-ppb）、高質(zhì)量分辨率(M/DM>16000)和高空間分辨率(16000)和高空間分辨率(