- 2025-04-25 14:14:59全自動(dòng)薄膜體積電阻率測(cè)試儀
- 全自動(dòng)薄膜體積電阻率測(cè)試儀是一種專業(yè)設(shè)備,用于精確測(cè)量薄膜材料的體積電阻率。該儀器采用先進(jìn)的電子技術(shù),能自動(dòng)完成測(cè)試過(guò)程,包括施加電壓、測(cè)量電流、計(jì)算電阻率等步驟。具有測(cè)試速度快、精度高、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)。廣泛應(yīng)用于電子、材料科學(xué)、新能源等領(lǐng)域,為科研和生產(chǎn)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。通過(guò)該儀器,用戶可快速了解薄膜材料的電絕緣性能,為產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制提供重要依據(jù)。
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全自動(dòng)薄膜體積電阻率測(cè)試儀相關(guān)內(nèi)容
全自動(dòng)薄膜體積電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品
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全自動(dòng)薄膜體積電阻率測(cè)試儀問(wèn)答
- 2021-09-26 15:13:13體積表面電阻率測(cè)試儀的使用方法
- 接好電源線和測(cè)試線:確保電源為220VAC/50Hz,將測(cè)試線(紅線為高壓線接紅接線柱, 屏蔽線接電流輸入端)與待測(cè)試器器件連 接好, 根據(jù)不同的測(cè)量可使用不同的電極; 連接測(cè)試樣品時(shí)要關(guān)電源,以防測(cè)試電壓電人。量程置于104檔。 選擇合適的測(cè)量電壓:電壓選擇開(kāi)關(guān)在后面板,注意:在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓,可能因電壓的過(guò)高或電流過(guò)大損壞被測(cè)試器件或測(cè)試儀器。 接通電源。 調(diào)零:主機(jī)供電后在不接屏蔽箱前進(jìn)行調(diào)零,調(diào)零使電流表的顯示為0000。如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零。 測(cè)試:測(cè)量時(shí)從低檔位逐漸拔往檔位,每撥一次稍停留3~5秒以使觀察顯示數(shù)字,當(dāng)被測(cè)電阻大于儀器測(cè)量量程時(shí),電阻表顯示“1”,此時(shí)應(yīng)繼續(xù)將儀器撥到量程更高的置,當(dāng)測(cè)量?jī)x器有顯示值時(shí)應(yīng)停下,當(dāng)前的數(shù)字乘以檔次即是被測(cè)電阻值。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不要再往更高次檔撥,否測(cè)儀器會(huì)過(guò)量程,機(jī)內(nèi)保護(hù)電路開(kāi)始工作,儀器測(cè)量準(zhǔn)確度會(huì)下降。測(cè)試完畢將量程拔至“104 ”檔后關(guān)閉電源。每測(cè)量一次均應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回到104“調(diào)零”檔或低的量程位置以免開(kāi)機(jī)或測(cè)量端短路時(shí)而損壞儀器。 測(cè)量電流及1015Ω以上超高電阻的測(cè)量應(yīng)用測(cè)量電流后用歐姆定律以電壓除以電流計(jì)算電阻的方法,詳見(jiàn)本說(shuō)明中八、測(cè)量電流及1015Ω以上超高電阻的測(cè)量?jī)?nèi)容。體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換:在測(cè)試過(guò)程中,使用屏蔽箱在進(jìn)行體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換時(shí),必須把電源關(guān)閉后進(jìn)行檔位轉(zhuǎn)換,否則會(huì)導(dǎo)致電壓沖擊到主機(jī)無(wú)法顯示或損壞。
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- 2021-09-24 16:30:18體積電阻率測(cè)試儀中電阻率和電導(dǎo)率之間有什么關(guān)系
- 絕緣材料的電極應(yīng)是一種易于涂股到試樣表面的材料,能與試樣緊密接觸,不會(huì)因電極電阻或試樣污染而出現(xiàn)不可預(yù)見(jiàn)的誤差。電極材料在試驗(yàn)條件下還應(yīng)具有抗腐蝕性。在給定的時(shí)間及電壓下,注L根據(jù)IEC"電導(dǎo)率”被定義為標(biāo)資或張童,它與電場(chǎng)強(qiáng)度的乘積是傳導(dǎo)電流密度;“電阻率”是“電導(dǎo)率”的倒數(shù).體積電阻率是在測(cè)量時(shí)單位體積內(nèi)可能存在的各向異性的數(shù)量的平均值,注在實(shí)際中,絕緣材料通常用于將電氣系統(tǒng)中各組件之間或組件對(duì)地之間進(jìn)行電氣隔離。固體絕緣材料還起到機(jī)械支撐的作用。因此,在應(yīng)用絕緣材料時(shí),體積電阻率可作為選用合適的絕緣材料的一個(gè)輔助方法,其可能隨測(cè)量溫度和濕度的變化而顯著變化,因此在選用材料時(shí),當(dāng)直流電壓施加到兩電極之間的試樣上時(shí)。通過(guò)試樣的電流會(huì)逐漸減小到一個(gè)穩(wěn)定值,電流隨時(shí)間的減小可能是由于介質(zhì)的極化和載流子遷移到電極所致.對(duì)于體積電阻率小于io10n?m的材料,電流通常在1min內(nèi)即可達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài).對(duì)于具有更高體積電阻率的材料,電流減小并趨于穩(wěn)定的過(guò)程可能會(huì)持續(xù)幾分鐘、幾小時(shí)、幾天甚至幾周。因此,對(duì)于這樣的材料,可采用較長(zhǎng)的施加電壓時(shí)間。注:當(dāng)電場(chǎng)強(qiáng)度非常高時(shí),一般方法給出了可被普遍用于各類材料的測(cè)量方法,對(duì)于一個(gè)特定類型的材料,體積電阻和體積電阻率的測(cè)量應(yīng)考慮測(cè)量電路的特性以及該材料的特有電性能。試驗(yàn)時(shí),所施加的試驗(yàn)電壓很高,應(yīng)注意防止觸電。試驗(yàn)施加電壓所產(chǎn)生的極化效應(yīng)會(huì)影響下一次的測(cè)量結(jié)果,因此連續(xù)兩次測(cè)量期間應(yīng)保證足夠長(zhǎng)的時(shí)間間隔。
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- 2021-09-27 14:16:39絕緣材料體積表面電阻率測(cè)試儀的操作注意事項(xiàng)
- 使用注意事項(xiàng)注:高阻測(cè)量一定要嚴(yán)格按使用方法步聚進(jìn)行,否則有可能造成儀器損壞或電人。7.1、 應(yīng)在“Rx”兩端開(kāi)路時(shí)調(diào)零(主機(jī)開(kāi)機(jī)):如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零 后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零,但改變測(cè)量電壓后可能要重新調(diào)零。7.2、 禁止將“電壓與電流”兩端短路,以免微電流放大器受大電流沖擊。7.3、 在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓:隨意改動(dòng)測(cè)量電壓可能因電壓的過(guò)高或電流過(guò)大損壞被測(cè)試器件或測(cè)試儀器, 而且有的材料是非線性的,即電壓與電流是不符合歐姆定律,有改變電壓時(shí)由 于電流不是線性變化,所以測(cè)量的電阻也會(huì)變化。7.4、 測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸拔往高次檔:每撥一次稍停留3~5秒以便觀察顯示數(shù)字,當(dāng)有顯示值時(shí)應(yīng)停下,記錄當(dāng)前的數(shù)字即是被測(cè)電阻值。若顯示“1”時(shí),表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時(shí)為止。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不能再往高次檔撥,否則有可能損壞儀器(機(jī)內(nèi)有過(guò)電流保護(hù)電路)。除104Ω檔之外,當(dāng)顯示低于1.99,表示過(guò)量程應(yīng)換低檔。7.5、 大部分絕緣材料,特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會(huì)有一定變化而引起數(shù)字變化:由于本儀器的分辯率很高,因而會(huì)引起顯示值的末尾幾位數(shù)也變化,這不是儀器本身的問(wèn)題,而是被測(cè)量對(duì)象的導(dǎo)電機(jī)理復(fù)雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shù)就夠了。7.6、 接通電源后,手指不能觸及高壓線的金屬部分:本儀表有二連根線,高壓線(紅)和微電流測(cè)試線。在使用時(shí)要注意高壓線,開(kāi)機(jī)后人不能觸及高壓線,以免電人或麻手。7.7、 測(cè)試過(guò)程中不能觸摸微電流測(cè)試端:微電流測(cè)試端最怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊。所以在開(kāi)機(jī)后和 測(cè)試過(guò)程中不能與微電流測(cè)試端接觸,以免損壞儀表。7.8、 在測(cè)量高阻時(shí),應(yīng)采用屏蔽盒將被測(cè)物體屏蔽:在測(cè)量大于1010Ω以上時(shí),為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)。 7.9、 每次測(cè)量完時(shí)應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回“104 ”檔再進(jìn)行下次測(cè)試7.10、 在測(cè)量時(shí)應(yīng)逐漸將量程開(kāi)關(guān)撥到高阻檔,測(cè)量完時(shí)應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回低檔。以 確保下次開(kāi)機(jī)時(shí)量程開(kāi)關(guān)處在低阻量程檔。
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- 2021-05-11 16:46:48絕緣材料體積表面電阻率測(cè)試儀如何使用
- 使用方法 接好電源線和測(cè)試線:確保電源為220VAC/50Hz,將測(cè)試線(紅線為高壓線接紅接線柱, 屏蔽線接電流輸入端)與待測(cè)試器器件連 接好, 根據(jù)不同的測(cè)量可使用不同的電極; 連接測(cè)試樣品時(shí)要關(guān)電源,以防測(cè)試電壓電人。 量程置于104檔。 選擇合適的測(cè)量電壓:電壓選擇開(kāi)關(guān)在后面板,注意:在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓,可能因電壓的過(guò)高或電流過(guò)大損壞被測(cè)試器件或測(cè)試儀器。 接通電源。 調(diào)零:主機(jī)供電后在不接屏蔽箱前進(jìn)行調(diào)零,調(diào)零使電流表的顯示為0000。如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零。測(cè)試:測(cè)量時(shí)從低檔位逐漸拔往*,每撥一次稍停留3~5秒以使觀察顯示數(shù)字,當(dāng)被測(cè)電阻大于儀器測(cè)量量程時(shí),電阻表顯示“1”,此時(shí)應(yīng)繼續(xù)將儀器撥到量程更高的置,當(dāng)測(cè)量?jī)x器有顯示值時(shí)應(yīng)停下,當(dāng)前的數(shù)字乘以檔次即是被測(cè)電阻值。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不要再往更高次檔撥,否測(cè)儀器會(huì)過(guò)量程,機(jī)內(nèi)保護(hù)電路開(kāi)始工作,儀器測(cè)量準(zhǔn)確度會(huì)下降。 測(cè)試完畢將量程拔至“104 ”檔后關(guān)閉電源。每測(cè)量一次均應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回到104“調(diào)零”檔或低的量程位置以免開(kāi)機(jī)或測(cè)量端短路時(shí)而損壞儀器。測(cè)量電流及1015Ω以上超高電阻的測(cè)量應(yīng)用測(cè)量電流后用歐姆定律以電壓除以電流計(jì)算電阻的方法,詳見(jiàn)本說(shuō)明中八、測(cè)量電流及1015Ω以上超高電阻的測(cè)量?jī)?nèi)容。 體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換:在測(cè)試過(guò)程中,使用屏蔽箱在進(jìn)行體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換時(shí),必須把電源關(guān)閉后進(jìn)行檔位轉(zhuǎn)換,否則會(huì)導(dǎo)致電壓沖擊到主機(jī)無(wú)法顯示或損壞。
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- 2021-09-14 14:18:42體積電阻率和表面電阻率有什么不同
- 首先第一步需要測(cè)試體積電阻值和表面電阻值,然后根據(jù)試樣的尺寸和電極系數(shù),根據(jù)計(jì)算公式得到體積電阻率和表面電阻率,體積和表面電阻測(cè)試時(shí),對(duì)電壓試樣的位置不同,從而能夠不同的電阻值在接和未接試樣時(shí)電容的變化量是通過(guò)這個(gè)電容器來(lái)測(cè)得。在測(cè)微計(jì)電極中,次要的誤差來(lái)源于電容校正時(shí)所包含的電極的邊緣電容,此邊緣電容是由于插入一個(gè)與電極直徑相同的試樣而稍微有所變化,實(shí)際上只要試樣直徑比電極直徑小2倍試樣厚度,就可消除這種誤差。首先將試樣放在測(cè)微計(jì)電極間并調(diào)節(jié)測(cè)量電路參數(shù)。然后取出試樣,調(diào)節(jié)測(cè)微計(jì)電極間距或重新調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)電容器來(lái)使電路的總電容回到初始值?!鱃——接入試樣后,(圖1)的兩個(gè)電容讀數(shù)之差。值得注意的是在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中試驗(yàn)頻率應(yīng)保持不變。貼在試樣上的電極的電阻在髙頻下會(huì)變得相當(dāng)大,如果試樣不平整或厚度不均勻,將會(huì)引起試樣損耗因數(shù)的明顯增加。這種變得明顯起來(lái)的頻率效應(yīng),取決于試樣表面的平整度。該頻率也可低到10MHzt因此,必須在ioMHg及更高的頻率下,且沒(méi)有貼電極的試樣上做電容的損耗因數(shù)的附加測(cè)量,假設(shè)Cw和tan
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