使用方法

 接好電源線和測(cè)試線：確保電源為220VAC/50Hz，將測(cè)試線(紅線為高壓線接紅接線柱, 屏蔽線接電流輸入端)與待測(cè)試器器件連 接好, 根據(jù)不同的測(cè)量可使用不同的電極; 連接測(cè)試樣品時(shí)要關(guān)電源，以防測(cè)試電壓電人。

 量程置于104檔。 

 選擇合適的測(cè)量電壓：電壓選擇開(kāi)關(guān)在后面板，注意：在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓，可能因電壓的過(guò)高或電流過(guò)大損壞被測(cè)試器件或測(cè)試儀器。

 接通電源。

 調(diào)零：主機(jī)供電后在不接屏蔽箱前進(jìn)行調(diào)零，調(diào)零使電流表的顯示為0000。如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零。

測(cè)試：測(cè)量時(shí)從低檔位逐漸拔往*，每撥一次稍停留3～5秒以使觀察顯示數(shù)字，當(dāng)被測(cè)電阻大于儀器測(cè)量量程時(shí)，電阻表顯示“1”，此時(shí)應(yīng)繼續(xù)將儀器撥到量程更高的置，當(dāng)測(cè)量?jī)x器有顯示值時(shí)應(yīng)停下，當(dāng)前的數(shù)字乘以檔次即是被測(cè)電阻值。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不要再往更高次檔撥，否測(cè)儀器會(huì)過(guò)量程，機(jī)內(nèi)保護(hù)電路開(kāi)始工作，儀器測(cè)量準(zhǔn)確度會(huì)下降。

 測(cè)試完畢將量程拔至“104 ”檔后關(guān)閉電源。每測(cè)量一次均應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回到104“調(diào)零”檔或低的量程位置以免開(kāi)機(jī)或測(cè)量端短路時(shí)而損壞儀器。

測(cè)量電流及1015Ω以上超高電阻的測(cè)量應(yīng)用測(cè)量電流后用歐姆定律以電壓除以電流計(jì)算電阻的方法，詳見(jiàn)本說(shuō)明中八、測(cè)量電流及1015Ω以上超高電阻的測(cè)量?jī)?nèi)容。

 體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換：在測(cè)試過(guò)程中，使用屏蔽箱在進(jìn)行體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換時(shí)，必須把電源關(guān)閉后進(jìn)行檔位轉(zhuǎn)換，否則會(huì)導(dǎo)致電壓沖擊到主機(jī)無(wú)法顯示或損壞。

使用注意事項(xiàng)

注：高阻測(cè)量一定要嚴(yán)格按使用方法步聚進(jìn)行，否則有可能造成儀器損壞或電人。

7.1、 應(yīng)在“Rx”兩端開(kāi)路時(shí)調(diào)零（主機(jī)開(kāi)機(jī)）：如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零 后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零，但改變測(cè)量電壓后可能要重新調(diào)零。

7.2、 禁止將“電壓與電流”兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊。

7.3、 在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓：隨意改動(dòng)測(cè)量電壓可能因電壓的過(guò)高或電流過(guò)大損壞被測(cè)試器件或測(cè)試儀器， 而且有的材料是非線性的，即電壓與電流是不符合歐姆定律，有改變電壓時(shí)由 于電流不是線性變化，所以測(cè)量的電阻也會(huì)變化。

7.4、 測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸拔往高次檔：每撥一次稍停留3～5秒以便觀察顯示數(shù)字，當(dāng)有顯示值時(shí)應(yīng)停下，記錄當(dāng)前的數(shù)字即是被測(cè)電阻值。若顯示“1”時(shí)，表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時(shí)為止。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不能再往高次檔撥，否則有可能損壞儀器(機(jī)內(nèi)有過(guò)電流保護(hù)電路)。除104Ω檔之外，當(dāng)顯示低于1.99，表示過(guò)量程應(yīng)換低檔。

7.5、 大部分絕緣材料，特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會(huì)有一定變化而引起數(shù)字變化：由于本儀器的分辯率很高，因而會(huì)引起顯示值的末尾幾位數(shù)也變化，這不是儀器本身的問(wèn)題，而是被測(cè)量對(duì)象的導(dǎo)電機(jī)理復(fù)雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shù)就夠了。

7.6、 接通電源后，手指不能觸及高壓線的金屬部分：本儀表有二連根線，高壓線(紅)和微電流測(cè)試線。在使用時(shí)要注意高壓線，開(kāi)機(jī)后人不能觸及高壓線，以免電人或麻手。

7.7、 測(cè)試過(guò)程中不能觸摸微電流測(cè)試端：微電流測(cè)試端最怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊。所以在開(kāi)機(jī)后和 測(cè)試過(guò)程中不能與微電流測(cè)試端接觸，以免損壞儀表。

7.8、 在測(cè)量高阻時(shí)，應(yīng)采用屏蔽盒將被測(cè)物體屏蔽：在測(cè)量大于1010Ω以上時(shí)，為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)。                                                               

7.9、 每次測(cè)量完時(shí)應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回“104 ”檔再進(jìn)行下次測(cè)試

7.10、 在測(cè)量時(shí)應(yīng)逐漸將量程開(kāi)關(guān)撥到高阻檔，測(cè)量完時(shí)應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回低檔。以 確保下次開(kāi)機(jī)時(shí)量程開(kāi)關(guān)處在低阻量程檔。

北京華測(cè)表面體積電阻率測(cè)試儀可以測(cè)量各種材料的高電阻，又可測(cè)微電流，測(cè)量精度達(dá)到 3‰。同時(shí)儀器具有體積小、重量輕、顯示迅速、性能穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 1410-2006 固體絕緣材料 體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法

HEST-200A表面體積電阻率測(cè)試儀既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。在進(jìn)行高阻測(cè)量時(shí)一定要嚴(yán)格按使用方法步驟進(jìn)行，否則有可能損壞儀器或者電人 。

１、 應(yīng)在“Ｒｘ”兩端開(kāi)路時(shí)調(diào)零  如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零，但改變測(cè)量電壓后可能要重新調(diào)零。  

２、 禁止將“Ｒｘ”兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊  。

３、 在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓，因?yàn)檫@樣可能因電壓過(guò)高或電流過(guò)大導(dǎo)致被測(cè)試器件或測(cè)試儀器的損壞，且有的材料是非線性的（即電壓與電流是不符合歐姆定律），有改變電壓時(shí)由于電流不是線性變化，因此測(cè)量的電阻也會(huì)產(chǎn)生相應(yīng)的變化。 

４、 測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸拔往高次檔  每撥一次稍停留1～2秒以便觀察顯示數(shù)字，當(dāng)有顯示值時(shí)應(yīng)停下，記錄當(dāng)前的數(shù)字即是被測(cè)電阻值。若顯示“1”時(shí)，表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時(shí)為止。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不能再往高次檔撥，否則有可能損壞儀器（機(jī)內(nèi)有過(guò)電流保護(hù)電路）。除104 Ω檔之外，當(dāng)顯示低于1.99，表示過(guò)量程應(yīng)換低檔。

５、 大部分絕緣材料，特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會(huì)有一定變化而引起數(shù)字變化   由于本儀器的分辨率很高，因而顯示值的末尾幾位數(shù)也會(huì)產(chǎn)生變化，這不是儀器本身的問(wèn)題，而是被測(cè)量對(duì)象的導(dǎo)電機(jī)理復(fù)雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shù)就夠了。  

６ 、接通電源后，手指不能觸及高壓線的金屬部分   本儀表有二連根線：高壓線（紅）和微電流測(cè)試線。在使用時(shí)要注意高壓線，開(kāi)機(jī)后人不能觸及高壓線，以免電人或麻手。 

７ 、測(cè)試過(guò)程中不能觸摸微電流測(cè)試端      微電流測(cè)試端Z怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊。所以在開(kāi)機(jī)后和測(cè)試過(guò)程中不能與微電流測(cè)試端接觸，以免損壞儀表。  

８、 在測(cè)量高阻時(shí)，應(yīng)采用屏蔽盒將被測(cè)物體屏蔽。 在測(cè)量大于1010 Ω以上時(shí)，為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)。 

９、 每次測(cè)量完后應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回“１０４ ”檔再進(jìn)行下次測(cè)試  在測(cè)量時(shí)應(yīng)逐漸將量程開(kāi)關(guān)撥到高阻檔，測(cè)完后應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回低檔，以確保下次開(kāi)機(jī)時(shí)量程開(kāi)關(guān)處在低阻量程檔。

 接好電源線和測(cè)試線：確保電源為220VAC/50Hz，將測(cè)試線(紅線為高壓線接紅接線柱, 屏蔽線接電流輸入端)與待測(cè)試器器件連 接好, 根據(jù)不同的測(cè)量可使用不同的電極; 連接測(cè)試樣品時(shí)要關(guān)電源，以防測(cè)試電壓電人。

量程置于104檔。 

 選擇合適的測(cè)量電壓：電壓選擇開(kāi)關(guān)在后面板，注意：在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓，可能因電壓的過(guò)高或電流過(guò)大損壞被測(cè)試器件或測(cè)試儀器。

 接通電源。

 調(diào)零：主機(jī)供電后在不接屏蔽箱前進(jìn)行調(diào)零，調(diào)零使電流表的顯示為0000。如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零。

 測(cè)試：測(cè)量時(shí)從低檔位逐漸拔往檔位，每撥一次稍停留3～5秒以使觀察顯示數(shù)字，當(dāng)被測(cè)電阻大于儀器測(cè)量量程時(shí)，電阻表顯示“1”，此時(shí)應(yīng)繼續(xù)將儀器撥到量程更高的置，當(dāng)測(cè)量?jī)x器有顯示值時(shí)應(yīng)停下，當(dāng)前的數(shù)字乘以檔次即是被測(cè)電阻值。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不要再往更高次檔撥，否測(cè)儀器會(huì)過(guò)量程，機(jī)內(nèi)保護(hù)電路開(kāi)始工作，儀器測(cè)量準(zhǔn)確度會(huì)下降。

測(cè)試完畢將量程拔至“104 ”檔后關(guān)閉電源。每測(cè)量一次均應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回到104“調(diào)零”檔或低的量程位置以免開(kāi)機(jī)或測(cè)量端短路時(shí)而損壞儀器。

 測(cè)量電流及1015Ω以上超高電阻的測(cè)量應(yīng)用測(cè)量電流后用歐姆定律以電壓除以電流計(jì)算電阻的方法，詳見(jiàn)本說(shuō)明中八、測(cè)量電流及1015Ω以上超高電阻的測(cè)量?jī)?nèi)容。

體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換：在測(cè)試過(guò)程中，使用屏蔽箱在進(jìn)行體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換時(shí)，必須把電源關(guān)閉后進(jìn)行檔位轉(zhuǎn)換，否則會(huì)導(dǎo)致電壓沖擊到主機(jī)無(wú)法顯示或損壞。

這個(gè)是由材料的自由特性決定的，有的材料穩(wěn)定性好，我們公司使用北京冠測(cè)儀器公司GEST121絕緣電阻率測(cè)試儀做過(guò)這樣的對(duì)比試驗(yàn)，不同電壓下的阻值基本一致，有的材料施加不同的電壓后，阻值會(huì)有不同，所以在進(jìn)行數(shù)據(jù)的比對(duì)試驗(yàn)時(shí)，需要在同一電壓下測(cè)試，數(shù)據(jù)才有可比性，出現(xiàn)這種情況的原因是材料施加不同的電壓后，對(duì)試樣會(huì)有極化現(xiàn)象，從而導(dǎo)致數(shù)據(jù)不同。

1、電阻測(cè)量范圍： 0.01×104Ω ～1×1018Ω。

2、電流測(cè)量范圍為： 2×10-4A～1×10-16A

3、顯 示 方 式：數(shù)字液晶顯示

4、內(nèi)置測(cè)試電壓： 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準(zhǔn)確度：1% (*注)

6、使用環(huán)境： 溫度：0℃～40℃，相對(duì)濕度<80%

7、機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓： 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換

8、供電形式： AC 220V，50HZ，功耗約5W

9、儀器尺寸： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm

10、質(zhì)量： 約2.5KG

體積電阻率的計(jì)算和體積電阻值、電極尺寸、試樣厚度有關(guān)系，表面電阻率的計(jì)算主要和電極尺寸有關(guān)系

體積電阻與表面電阻讀數(shù)取值

體積電阻：

按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1410標(biāo)準(zhǔn)中第11.1說(shuō)明規(guī)定：在試樣表面加上規(guī)定的直流電壓后開(kāi)始計(jì)時(shí)，并在如下每個(gè)電化時(shí)間做一次測(cè)量：1min、2min、5min、10min、50min、100min。如果兩次連續(xù)測(cè)量得出同樣的結(jié)果，則可以結(jié)束試驗(yàn)并用這個(gè)電流值來(lái)計(jì)算體積電阻。

作為驗(yàn)收試驗(yàn)，按照有關(guān)規(guī)范的規(guī)定，使用一個(gè)固定的電化時(shí)間如1min后的電流值來(lái)計(jì)算體積電阻率。

表面電阻：

按照GB1410標(biāo)準(zhǔn)11.2中規(guī)定：應(yīng)在1min的電化時(shí)間后測(cè)量電阻，即使在此時(shí)間內(nèi)電流還沒(méi)有達(dá)到穩(wěn)定的狀態(tài)。

首先第一步需要測(cè)試體積電阻值和表面電阻值，然后根據(jù)試樣的尺寸和電極系數(shù)，根據(jù)計(jì)算公式得到體積電阻率和表面電阻率，體積和表面電阻測(cè)試時(shí)，對(duì)電壓試樣的位置不同，從而能夠不同的電阻值

在接和未接試樣時(shí)電容的變化量是通過(guò)這個(gè)電容器來(lái)測(cè)得。在測(cè)微計(jì)電極中，次要的誤差來(lái)源于電容校正時(shí)所包含的電極的邊緣電容，此邊緣電容是由于插入一個(gè)與電極直徑相同的試樣而稍微有所變化,實(shí)際上只要試樣直徑比電極直徑小2倍試樣厚度，就可消除這種誤差。首先將試樣放在測(cè)微計(jì)電極間并調(diào)節(jié)測(cè)量電路參數(shù)。然后取出試樣，調(diào)節(jié)測(cè)微計(jì)電極間距或重新調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)電容器來(lái)使電路的總電容回到初始值?！鱃——接入試樣后，（圖1）的兩個(gè)電容讀數(shù)之差。值得注意的是在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中試驗(yàn)頻率應(yīng)保持不變。貼在試樣上的電極的電阻在髙頻下會(huì)變得相當(dāng)大，如果試樣不平整或厚度不均勻，將會(huì)引起試樣損耗因數(shù)的明顯增加。這種變得明顯起來(lái)的頻率效應(yīng)，取決于試樣表面的平整度。

該頻率也可低到10MHzt因此，必須在ioMHg及更高的頻率下，且沒(méi)有貼電極的試樣上做電容的損耗因數(shù)的附加測(cè)量，假設(shè)Cw和tan<5w為不貼電極的試樣的電容和損耗因數(shù)，Cw-…帶電極的試樣電容。在一個(gè)線路兩點(diǎn)之間的接地屏蔽，可消除這兩點(diǎn)之間的所有的電容，而被這兩個(gè)點(diǎn)的對(duì)地電容所代替，因此，導(dǎo)線屏蔽和元件屏蔽可任意運(yùn)用在那些各點(diǎn)對(duì)地的電容并不重要的線路中；變壓器電橋和帶有瓦格納接地裝置的西林電橋都是這種類(lèi)型的電路。從另一方面來(lái)說(shuō),在采用替代法電橋里，在不管有沒(méi)有試樣均保持不變的線路部分是不需要屏蔽的。實(shí)際上，在電路試樣、檢測(cè)器和振蕩器的連線屏蔽起來(lái)。對(duì)于100kHz數(shù)量級(jí)或更高的頻率，連線應(yīng)可能短而粗。

電阻率

用本標(biāo)準(zhǔn)的方法測(cè)得的電

是真工的電阻率。當(dāng)施叢直流弟壓后由于電荷遷移,將使

迅始特性發(fā)生隨時(shí)用聞變化。真正的電阻率只有在低電壓下且在則施加角壓后

準(zhǔn)使用比較高的電壓且經(jīng)n

電壓且經(jīng)較長(zhǎng),因此,其結(jié)果通常是與GB/T 2126-200所得到的不同。

率測(cè)量萄某與試驗(yàn)條件有關(guān),主要有:

本標(biāo)準(zhǔn)中液體的電阻率測(cè)

a）溫度

電阻率對(duì)溫度的變化特別敏感,是按 1/K指數(shù)變化。因此需要在足夠準(zhǔn)確的溫度條件下進(jìn)行測(cè)量。

測(cè)量。NS—

b）電場(chǎng)強(qiáng)度的值

給定試樣的電阻率可受施加電場(chǎng)強(qiáng)度的影響。為了獲得可比的結(jié)果,應(yīng)在近似相等的電壓梯度下進(jìn)行測(cè)量,并應(yīng)在相同極性下進(jìn)行,此時(shí)應(yīng)注明其梯度值和極性。

c）電化時(shí)間

當(dāng)施加直流電壓時(shí),由于電荷向兩電極遷移,流經(jīng)試樣的電流將逐漸減少到一極限值。一般規(guī)定電化時(shí)間為1min,不同的電化時(shí)間可導(dǎo)致試驗(yàn)結(jié)果明顯不同[某些高粘度的液體可能需要相當(dāng)長(zhǎng)的電化時(shí)間（見(jiàn)14.2）]。

絕緣材料的電極應(yīng)是一種易于涂股到試樣表面的材料,能與試樣緊密接觸,不會(huì)因電極電阻或試樣污染而出現(xiàn)不可預(yù)見(jiàn)的誤差。電極材料在試驗(yàn)條件下還應(yīng)具有抗腐蝕性。在給定的時(shí)間及電壓下，注L根據(jù)IEC"電導(dǎo)率”被定義為標(biāo)資或張童，它與電場(chǎng)強(qiáng)度的乘積是傳導(dǎo)電流密度；“電阻率”是“電導(dǎo)率”的倒數(shù).體積電阻率是在測(cè)量時(shí)單位體積內(nèi)可能存在的各向異性的數(shù)量的平均值，注在實(shí)際中，絕緣材料通常用于將電氣系統(tǒng)中各組件之間或組件對(duì)地之間進(jìn)行電氣隔離。固體絕緣材料還起到機(jī)械支撐的作用。因此，在應(yīng)用絕緣材料時(shí)，體積電阻率可作為選用合適的絕緣材料的一個(gè)輔助方法，其可能隨測(cè)量溫度和濕度的變化而顯著變化，因此在選用材料時(shí)，當(dāng)直流電壓施加到兩電極之間的試樣上時(shí)。

通過(guò)試樣的電流會(huì)逐漸減小到一個(gè)穩(wěn)定值,電流隨時(shí)間的減小可能是由于介質(zhì)的極化和載流子遷移到電極所致.對(duì)于體積電阻率小于io10n?m的材料,電流通常在1min內(nèi)即可達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài).對(duì)于具有更高體積電阻率的材料，電流減小并趨于穩(wěn)定的過(guò)程可能會(huì)持續(xù)幾分鐘、幾小時(shí)、幾天甚至幾周。因此，對(duì)于這樣的材料，可采用較長(zhǎng)的施加電壓時(shí)間。注：當(dāng)電場(chǎng)強(qiáng)度非常高時(shí)，一般方法給出了可被普遍用于各類(lèi)材料的測(cè)量方法，對(duì)于一個(gè)特定類(lèi)型的材料，體積電阻和體積電阻率的測(cè)量應(yīng)考慮測(cè)量電路的特性以及該材料的特有電性能。試驗(yàn)時(shí)，所施加的試驗(yàn)電壓很高，應(yīng)注意防止觸電。試驗(yàn)施加電壓所產(chǎn)生的極化效應(yīng)會(huì)影響下一次的測(cè)量結(jié)果，因此連續(xù)兩次測(cè)量期間應(yīng)保證足夠長(zhǎng)的時(shí)間間隔。

同時(shí)測(cè)試體積和表面電阻，需要配專(zhuān)業(yè)的測(cè)試屏蔽箱，對(duì)體積電阻和表面電阻測(cè)試進(jìn)行切換，這個(gè)在選購(gòu)儀器時(shí)需要和廠家進(jìn)行確認(rèn)，我們公司一直都在用的是北京冠測(cè)儀器公司GEST121體積表面電阻率測(cè)試儀，專(zhuān)門(mén)用于體積和表面電阻的測(cè)試，有專(zhuān)業(yè)的測(cè)試屏蔽箱，還可以根據(jù)試樣大小進(jìn)行電極的更換。

主要用于測(cè)試絕緣材料的絕緣電阻、體積電阻及表面電阻值，本儀器是一臺(tái)通用試驗(yàn)儀器，只要不超過(guò)主機(jī)的測(cè)試量程，都可以測(cè)試，配備不同的電極，適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定

技術(shù)指標(biāo)

1、電阻測(cè)量范圍： 0.01×104Ω ～1×1018Ω。

2、電流測(cè)量范圍為： 2×10-4A～1×10-16A

3、顯 示 方 式：數(shù)字液晶顯示

4、內(nèi)置測(cè)試電壓： 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準(zhǔn)確度：1% (*注)

6、使用環(huán)境： 溫度：0℃～40℃，相對(duì)濕度<80%

7、機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓： 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換

8、供電形式： AC 220V，50HZ，功耗約5W

9、儀器尺寸： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm

10、質(zhì)量： 約2.5KG

測(cè)量次序

將直流電壓施加在試樣上,會(huì)改變其隨后測(cè)量的工頻 tan6的結(jié)果。

當(dāng)在同一試樣上相繼測(cè)量電容率、損耗因數(shù)和電阻率時(shí),工頻下測(cè)量應(yīng)在對(duì)試樣施加直流電壓以前進(jìn)行。工頻試驗(yàn)后,應(yīng)將兩電極短路1min后再開(kāi)始測(cè)量電阻率。

導(dǎo)致錯(cuò)誤結(jié)果的因素

雖然只有嚴(yán)重污染才會(huì)影響電容率。但微量的污染卻能強(qiáng)烈地影響 tan 和電阻率。

不可靠的結(jié)果通常是由于不適當(dāng)?shù)娜踊蛱幚碓嚇铀斐傻奈廴尽⒂晌聪磧粼囼?yàn)池或吸收了水份, 特別是存在不溶解的水份所引起。

在貯藏期間長(zhǎng)久暴露在強(qiáng)光線下會(huì)導(dǎo)致電介質(zhì)劣化,采用所推薦液體樣品貯存和運(yùn)輸以及試驗(yàn)池的結(jié)構(gòu)和凈化的標(biāo)準(zhǔn)化程序,可使由污染引起的誤差減至*小

 試驗(yàn)池

同一試驗(yàn)池可用來(lái)測(cè)量電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率。適合于這些用途的試驗(yàn)池應(yīng)符合如下要求。

試驗(yàn)池應(yīng)設(shè)計(jì)成能容易拆洗所有的部件,并易于重新裝配而不致明顯地改變空池的電容量。同時(shí)試驗(yàn)池還應(yīng)能在所要求的恒定溫度下使用,并提供以所需確度來(lái)測(cè)量和控制液體溫度的方法。外加熱的爐(或?。┗騼?nèi)部電加熱的試驗(yàn)池都可以使用。

用來(lái)制造試驗(yàn)池的材料應(yīng)是無(wú)氣孔的,并能經(jīng)受所要求的溫度,電極的ZX對(duì)準(zhǔn)應(yīng)不受溫度變化的影響。

與被試液體接觸的電極表面應(yīng)拋光如鏡面,以便清洗容易。液體和電極之間應(yīng)沒(méi)有相互的化學(xué)作用,它們也不應(yīng)受清洗材料的影響。用不銹鋼制造的試驗(yàn)池（電極)對(duì)試驗(yàn)所有類(lèi)型的絕緣液體都是適用的,不應(yīng)使用鋁和鋁合金做電極,因?yàn)樗鼈儠?huì)被堿性的洗凈劑腐蝕。

注:通常在表面上電鍍不如一種金屬制成的電極好。但表面鍍金、鎳或鍺,只要鍍得好并保持完好無(wú)損也可滿意地使用。殷鋼鍍鐃電極較好且具有較低熱膨脹的優(yōu)點(diǎn)。也可采用在黃銅上鍍鎳或金和在不銹鋼上鍍鎳的電極。

用來(lái)支撐電極的固體絕緣材料應(yīng)具有較低的介質(zhì)損耗因數(shù)和較高的電阻率,這些固體絕緣材料不應(yīng)吸收參照液體、被試液體以及清洗材料,也不應(yīng)受它們的影響。

注;通常認(rèn)為熔融石英是用作試驗(yàn)池合適的絕緣材料,由于普通金屬和石英的線膨脹系數(shù)不同,它們接合面之間需要具有充分的徑向間隙。但應(yīng)注意到這間隙會(huì)減小電極間距的精度。

保護(hù)電極和測(cè)量電極之間橫跨液面及固體絕緣材料的距離應(yīng)足夠大,以便能承受施加的試驗(yàn)電壓。

符合5.1.1到5.1.5要求的任何試驗(yàn)池均可使用,用于低黏度液體和施加電壓不超過(guò)2000V 的試驗(yàn)池見(jiàn)圖1～圖 5。

三端試驗(yàn)池提供了足以屏蔽測(cè)量電極的有效保護(hù)電極系統(tǒng)。當(dāng)進(jìn)行極精密的電容率測(cè)量時(shí)應(yīng)選擇三端試驗(yàn)池。在這種測(cè)量中,如有必要,還要求加上一個(gè)可拆卸的特殊屏蔽環(huán),并與連接測(cè)量電極和電橋的同軸電纜的外層導(dǎo)體(屏蔽)相連接(見(jiàn)圖2）。

在用兩端試驗(yàn)池時(shí),引線屏蔽層通常是接到保護(hù)電極的。為了防止屏蔽層同任何其他表面接觸,應(yīng)將它牢牢地夾在電纜的絕緣層上。當(dāng)用這樣的試驗(yàn)池測(cè)量電阻率時(shí),空池的絕緣撐環(huán)的電阻至少是被測(cè)液體電阻的100倍。同樣,在交流下測(cè)量介質(zhì)損耗因數(shù)也應(yīng)有相應(yīng)的比值。

對(duì)于較好的絕緣液體,可能由于絕緣撐環(huán)附加的損耗而改變測(cè)量值。為此,建議使用在兩電極間無(wú)任何固體絕緣材料支撐的試驗(yàn)池,這樣的空試驗(yàn)池的損耗因數(shù)在50 Hz時(shí)應(yīng)低于10。

為了使與液體接觸表面的污染影響減到*小,建議采用具有電極表面面積與液體體積之比小的試驗(yàn)池,例如小于5/cm。