- 2025-04-25 14:13:34介觀顯微物鏡
- 介觀顯微物鏡是專為介觀尺度成像設(shè)計(jì)的顯微鏡物鏡，其介于宏觀與微觀之間，適用于觀察細(xì)胞集群、組織切片等樣本。該類物鏡具有高分辨率、大視野的特點(diǎn)，能夠清晰呈現(xiàn)樣本的細(xì)微結(jié)構(gòu)和形態(tài)特征。同時(shí)，它通常配備有高數(shù)值孔徑，以確保足夠的光線收集能力，從而提升成像質(zhì)量。此外，介觀顯微物鏡還具備良好的色彩還原性和對比度，為科研工作者提供準(zhǔn)確的圖像信息。
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介觀顯微物鏡問答
- 2025-04-23 14:15:19電子探針顯微分析方法有哪些？
- 電子探針顯微分析方法 電子探針顯微分析方法（Electron Probe Microanalysis, EPMA）是一種利用電子束與樣品相互作用原理來進(jìn)行元素分析和成分分析的技術(shù)。該技術(shù)廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、冶金學(xué)等領(lǐng)域，是研究微觀結(jié)構(gòu)、元素分布以及樣品成分的關(guān)鍵工具。通過高精度的分析，電子探針顯微分析方法能夠提供極為詳盡的樣品元素信息，并為科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用提供可靠的數(shù)據(jù)支持。本文將介紹電子探針顯微分析的基本原理、應(yīng)用領(lǐng)域及其優(yōu)勢。 電子探針顯微分析的基本原理 電子探針顯微分析方法基于電子束與樣品相互作用后產(chǎn)生的各種信號，如特征X射線、二次電子和背散射電子等。通過測量這些信號，能夠獲得樣品的元素組成和空間分布信息。具體來說，電子探針顯微分析通過聚焦電子束在樣品表面激發(fā)特征X射線，這些X射線的能量與元素的原子結(jié)構(gòu)相對應(yīng)，因此可以通過對X射線進(jìn)行能量分析來確定樣品中各元素的種類和含量。 在實(shí)際操作中，電子束的能量通常設(shè)置在10-30kV之間，能夠深入樣品的表面層并激發(fā)X射線。這些X射線的強(qiáng)度與樣品中相應(yīng)元素的濃度成正比，通過對X射線譜圖的定量分析，研究人員可以精確地測定元素的分布和含量。 電子探針顯微分析的應(yīng)用領(lǐng)域 材料科學(xué) 電子探針顯微分析技術(shù)在材料科學(xué)中有著廣泛應(yīng)用。尤其是在金屬合金、陶瓷、復(fù)合材料等的成分分析中，EPMA能夠提供高空間分辨率和定量分析能力。通過對材料微觀結(jié)構(gòu)的研究，科學(xué)家們可以了解材料的性能、相變以及在不同條件下的行為，從而優(yōu)化材料的設(shè)計(jì)和性能。 地質(zhì)學(xué) 在地質(zhì)學(xué)研究中，電子探針顯微分析方法被廣泛應(yīng)用于礦物學(xué)和巖石學(xué)研究。通過分析礦物和巖石樣品的元素組成，EPMA能夠幫助地質(zhì)學(xué)家解讀地質(zhì)過程、巖漿活動(dòng)、礦產(chǎn)資源的成因以及沉積環(huán)境等信息，為資源勘探和環(huán)境保護(hù)提供有力支持。 生命科學(xué) 在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，電子探針顯微分析也有著重要的應(yīng)用。通過對細(xì)胞和組織樣本進(jìn)行元素分析，研究人員可以探索生物體內(nèi)微量元素的分布，幫助揭示生物體的代謝過程和疾病機(jī)制。例如，通過EPMA分析癌細(xì)胞與正常細(xì)胞中的元素差異，有助于癌癥早期診斷和策略的優(yōu)化。 電子探針顯微分析的優(yōu)勢 與傳統(tǒng)的分析方法相比，電子探針顯微分析在空間分辨率和分析精度方面具有明顯優(yōu)勢。EPMA具有極高的空間分辨率，能夠?qū)ξ⒚咨踔良{米尺度的樣品進(jìn)行高精度分析，適用于復(fù)雜的微觀結(jié)構(gòu)研究。EPMA具備較強(qiáng)的元素分析能力，能夠?qū)Χ喾N元素進(jìn)行定性和定量分析，尤其適合于分析復(fù)雜樣品中的微量元素。EPMA分析無需對樣品進(jìn)行復(fù)雜的化學(xué)預(yù)處理，能夠直接在固體樣品表面進(jìn)行分析，具有較高的分析效率。 總結(jié) 電子探針顯微分析方法是一項(xiàng)高精度的材料分析技術(shù)，憑借其的空間分辨率和元素分析能力，在多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。從材料科學(xué)到生命科學(xué)，EPMA技術(shù)為研究者提供了深入理解樣品成分和微觀結(jié)構(gòu)的強(qiáng)大工具。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，電子探針顯微分析在科研和工業(yè)中的應(yīng)用前景將更加廣闊，并為推動(dòng)科技創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)發(fā)展作出更大的貢獻(xiàn)。
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- 2023-06-25 11:49:58課堂 | 目鏡、物鏡和光學(xué)畸變
- 對于大多數(shù)顯微鏡應(yīng)用，通常只有兩套光學(xué)器件需要由用戶調(diào)整，即物鏡和目鏡。當(dāng)然，這是假設(shè)顯微鏡已經(jīng)校正了科勒照明，即調(diào)整了聚光鏡和光闌。本文首先介紹了目鏡組件以及如何正確調(diào)整它們以適應(yīng)你的眼睛。其次是物鏡，我們將探討光學(xué)畸變和四種最常見的物鏡，這些物鏡均經(jīng)過校正以克服這些異?，F(xiàn)象。在制造商的設(shè)計(jì)中，顯微鏡的目鏡和物鏡是一個(gè)組合，并在光學(xué)上相互補(bǔ)充。如果你出于任何原因更換顯微鏡之間的目鏡或物鏡，那么應(yīng)該記住這一點(diǎn)。為獲得最 佳的樣本圖像，顯微鏡的物鏡和目鏡必須是一個(gè)和諧的工作組合。購買完整的顯微鏡時(shí)，光學(xué)部件相互匹配，為用戶提供最 佳的觀察條件。如果你在組裝一個(gè)定制的研究級顯微鏡，那么選擇的物鏡將決定適合的目鏡，反之亦然。目 鏡 目鏡是我們觀察最 終樣本圖像的光學(xué)鏡片（見圖1）。這些光學(xué)器件有時(shí)被稱為“接目鏡”或“目鏡”。放大率除了取決于物鏡的選擇，還要考慮目鏡，它的放大率通常是10的倍數(shù)。目鏡是顯微鏡的一個(gè)看似簡單的光學(xué)部件。一些基礎(chǔ)款目鏡確實(shí)是由一個(gè)頂部和底部安裝鏡片的金屬管組成但許多研究級目鏡由多組相互配合的鏡片組成，它提供樣本的校正視圖，并補(bǔ)充物鏡的特性。無論目鏡的組件設(shè)計(jì)如何，金屬外殼的兩端只有兩個(gè)用戶可以看到的鏡片。觀察最 終圖像的鏡片（最接近眼睛）被稱為“目鏡”，另一端的鏡片（朝向顯微鏡主體）被稱為“場鏡”。圖1：顯微鏡的最 終圖像可以用目鏡觀察，也叫接目鏡。你通常會(huì)在目鏡周圍發(fā)現(xiàn)橡膠或塑料眼罩（見圖2）。這些眼罩有多種功能。它們會(huì)阻擋一些環(huán)境光線，讓觀察者可以更清楚地看到感興趣的樣本。此外，它們還將用戶限制在與目鏡的最 佳距離內(nèi)。如果您佩戴眼鏡，可以簡單地將它們卷到目鏡的頂部，或者摘掉眼鏡。關(guān)于顯微鏡衛(wèi)生需注意的一點(diǎn)：如果你在共享的實(shí)驗(yàn)室或設(shè)施中使用顯微鏡，衛(wèi)生和清潔都是重要的因素。一個(gè)重要的考慮因素是眼部感染。如果你不幸有眼部感染，則應(yīng)避免使用共享顯微鏡，直到感染癥狀完全消失。眼部感染可能具有高傳染性，很容易傳播給其他顯微鏡使用者。無論您的眼睛是否健康，您都應(yīng)該將目鏡和眼罩（以及整個(gè)顯微鏡）保持在清潔狀態(tài)，以便于下一個(gè)用戶的使用。目鏡屈光度的調(diào)整 顯微鏡用戶需要調(diào)整目鏡適應(yīng)自己的視力。這被稱為“屈光度調(diào)節(jié)”，用于糾正眼睛之間的焦點(diǎn)和視覺差異（見圖2）。除非您有完 美的正常視力（也稱為“20/20視力”），否則為更清晰地觀察樣本，您需要完成這一簡單的調(diào)整。在調(diào)整屈光度之前，首先應(yīng)調(diào)整目鏡之間的距離（假設(shè)您使用的是雙目顯微鏡）以適應(yīng)使用者的生理結(jié)構(gòu)。雙目目鏡安裝在一個(gè)水平的“滑塊”上，兩個(gè)目鏡可以活動(dòng)以適應(yīng)眼睛之間的距離?；蛘?，每個(gè)目鏡都安裝在獨(dú)立的外殼中，能夠以半圓形的旋轉(zhuǎn)方式移動(dòng)，配合使用者眼睛之間的距離。設(shè)置好物理距離后，就可以調(diào)節(jié)屈光度。檢查每一個(gè)目鏡時(shí)，您會(huì)注意到至少有一個(gè)目鏡的金屬體或外殼周圍有一個(gè)滾花環(huán)（另一個(gè)也可以是固定焦點(diǎn)目鏡）。僅通過固定目鏡向下看，并使用顯微鏡的主調(diào)焦輪讓樣本進(jìn)入清晰的焦點(diǎn)。閉合固定焦距目鏡上的眼睛，僅使用可調(diào)節(jié)光圈的目鏡來觀察樣本。保持樣本的原始焦點(diǎn)的同時(shí)，慢慢轉(zhuǎn)動(dòng)屈光度環(huán)，直到樣本進(jìn)入清晰的焦點(diǎn)。當(dāng)你睜開雙眼時(shí)，樣本現(xiàn)在應(yīng)該處于清晰的焦點(diǎn)。調(diào)整屈光度厚，每個(gè)所選物鏡的設(shè)置都是一樣的。圖2：大多數(shù)目鏡都有可移動(dòng)或可彎曲的眼罩，用于阻擋一些環(huán)境光線。此外，它們還可以將用戶限制在與目鏡的最 佳距離內(nèi)。佩戴眼鏡的用戶應(yīng)該摘下眼罩。借助屈光度調(diào)節(jié)，可以根據(jù)用戶的屈光度對目鏡進(jìn)行個(gè)性化設(shè)置。光學(xué)畸變 顯微鏡（以及在本文的范圍內(nèi)）有兩種主要類型的光學(xué)畸變：色差和幾何像差。幾何像差（也被稱為“單色差“或“球面像差”）也被稱為“塞德爾像差”。菲利普·路德維?！ゑT·塞德爾(Philipp Ludwig von Seidel)（1821-1896）是一位德國數(shù)學(xué)家，他在1857年確定了五種幾何像差（球差、慧差、像散、場曲和畸變）。一般來說，幾何/單色/賽德爾像差是由于鏡片的結(jié)構(gòu)和幾何形狀，以及光在通過鏡片時(shí)的折射和反射方式而產(chǎn)生。考慮到所有可能通過曲面鏡片的光波，通過鏡片中心的光波將比通過曲面鏡片邊緣的光波的折射率低。通過鏡面之前平行的光波不會(huì)匯聚到一個(gè)焦點(diǎn)上，而是作為不同的點(diǎn)沿光軸傳播（圖3）。圖3：球面像差描述了這樣一個(gè)事實(shí)：通過鏡片中心的光波比通過曲面鏡片邊緣的光波的折射率要小。因此，在通過透鏡之前是平行的光波不會(huì)匯聚到一個(gè)焦點(diǎn)上。色差主要是由于鏡片的材料而發(fā)生的。白光是由許多不同的波長/顏色組成的，當(dāng)它通過凸透鏡時(shí)，它被分割成不同的組成部分。波長的分裂意味著，一旦光線通過透鏡，各組成顏色就不會(huì)彼此聚焦在同一個(gè)匯聚點(diǎn)上（圖4）。 圖4：通過凸透鏡的白光被分割成不同的波長，并在不同程度上被折射。因此，它們不會(huì)匯聚在同一個(gè)焦點(diǎn)上。這種現(xiàn)象被稱為色差。物 鏡圖5：一個(gè)帶有校正環(huán)的甘油浸泡物鏡。顯微鏡物鏡的制造和校正是為了在每個(gè)光學(xué)部件中考慮一個(gè)或多個(gè)這樣的像差。在物鏡外殼上蝕刻的信息中（除了放大率、物鏡類型、數(shù)值孔徑（NA）等），還包括有關(guān)光學(xué)校正的信息（見圖3）。盡管有許多可用的光學(xué)校正，但本文將探討可能遇到和使用的四種最常見的光學(xué)校正。除了目鏡之外，物鏡看起來也很簡單。物鏡兩端的兩個(gè)透鏡被稱為“前透鏡”（離樣本最近）和“后透鏡”。后透鏡在使用過程中不可見，因?yàn)樗嫦蝻@微鏡的主體。大多數(shù)物鏡由一系列相對復(fù)雜的鏡片組成，鏡片相互補(bǔ)充，糾正其他扭曲的光學(xué)像差。消色差物鏡 最常見的校正顯微鏡物鏡是“消色差”物鏡。這種物鏡的鏡筒上有縮寫“Achro”或“Achromat”。這些物鏡校正“軸向色差”。當(dāng)白光通過凸透鏡時(shí)，會(huì)發(fā)生這種像差。因此，白光被分割成紅、綠和藍(lán)色波長。這種分裂意味著這些波長不會(huì)匯聚到光軸上的同一個(gè)焦點(diǎn)上（見圖4）。如果使用沒有校正軸向色差的物鏡觀察樣本，那么樣本周圍會(huì)出現(xiàn)彩色條紋和圖像的模糊。非色差物鏡只校正了兩個(gè)波長（紅色和藍(lán)色），使其與綠色波長的焦點(diǎn)大致相同。此外，消色差物鏡的球面像差也只針對一種顏色進(jìn)行了校正。平場消色差物鏡 更高一級的校正是在“平場消色差”物鏡中發(fā)現(xiàn)的。這些通常由物鏡筒上的縮寫“平場消色差”或“Achroplan”來識別。除了校正軸向色差外，這些物鏡還校正一種被稱為“場曲率”的光學(xué)現(xiàn)象。當(dāng)光線通過曲面鏡片時(shí)，便會(huì)發(fā)生這種現(xiàn)象。投射的圖像導(dǎo)致樣本的視圖發(fā)生彎曲。如果使用未校正視場曲率的物鏡觀察樣本，會(huì)導(dǎo)致整個(gè)視場的焦點(diǎn)不均勻。視場的邊緣或中心可能被聚焦，但不是同時(shí)聚焦。雖然這不會(huì)影響樣本的日常觀察和檢查，但如果你想拍攝用于發(fā)表的圖像，就會(huì)有問題。在這種情況下，建議使用平場消色差物鏡校正平場，實(shí)現(xiàn)整個(gè)圖像視圖的均勻聚焦。半復(fù)消色差物鏡 再高一級的校正物鏡是“半復(fù)消色差”或“螢石”物鏡。這些物鏡由物鏡筒上的縮寫“Fluar”、“Fluor”、“Fluo”或“Fl”來識別。術(shù)語“螢石”可以追溯到一個(gè)時(shí)期，當(dāng)時(shí)這種鏡片是由螢石制造的，它是一種氟化鈣礦物。在商業(yè)上，這種礦物也被稱為“螢石”，并且仍然被用于制造一些半復(fù)消色差鏡片，盡管現(xiàn)在大多數(shù)都是由合成材料制成的。半復(fù)消色差物鏡對一種或兩種組成色進(jìn)行校正，確保不同的光波集中在一起，成為光軸上所謂的“最小混淆圈”。除了上述外觀上的縮寫外，還有一些帶有“Plan FL”或“Plan Fluor”名稱的物鏡。這些物鏡不僅校正了球差和色差，而且還校正了視場曲率。復(fù)消色差物鏡 最 高級別的校正物鏡（反映在這些光學(xué)器件的成本上）是“復(fù)消色差”物鏡。這些物鏡在鏡筒上有“Plan Apochromat”、“PL APO”或“Plan Apo”的縮寫（見表1）。這些物鏡對場曲率進(jìn)行了校正（因此縮寫名稱中的“Plan”），并對紅、綠和藍(lán)色波長進(jìn)行了色度校正。此外，復(fù)消色差物鏡還對三個(gè)波長進(jìn)行了球面校正。在復(fù)消色差透鏡中的高水平校正，相比校正較少的物鏡，在同等放大率下，可產(chǎn)生更高的NA。徠卡的校正物鏡關(guān)于徠卡不同類別校正物鏡的概述，可以通過以下鏈接找到（見表1）。此外，通過填寫頁面上的在線表格，徠卡可以幫助您找到您的應(yīng)用所需的合適物鏡。表1：國際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)區(qū)分了三組物鏡類別，它們在色度校正的質(zhì)量上有所不同。消色差、半復(fù)消色差和復(fù)消色差。徠卡的命名法進(jìn)一步區(qū)分了這些組別，例如，它們的場平度、透射率等。徠卡物鏡上使用的進(jìn)一步的縮寫。表2：特別適用于特定對比法的物鏡都有相應(yīng)的標(biāo)記。表3：必須與某一物鏡一起使用的浸泡介質(zhì)在物鏡上標(biāo)明。表4：徠卡物鏡上提到的更多標(biāo)簽。
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- 2023-07-25 10:40:14半導(dǎo)體和鈣鈦礦材料的高光譜（顯微）成像
- 目前在光伏業(yè)界，正在進(jìn)行一項(xiàng)重大努力，以提高光伏和發(fā)光應(yīng)用中所用半導(dǎo)體的效率并降低相關(guān)成本。這就需要探索和開發(fā)新的制造和合成方法，以獲得更均勻、缺陷更少的材料。無論是電致還是光致發(fā)光，都是實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的重要工具。通過發(fā)光可以深入了解薄膜內(nèi)部發(fā)生的重組過程， 而無需通過對完整器件的多層電荷提取來解決復(fù)雜問題。HERA高光譜照相機(jī)是繪制半導(dǎo)體光譜成像的理想設(shè)備，因?yàn)樗軌蚩焖佟⒍康乩L制半導(dǎo)體發(fā)射光譜圖，且具有高空間分辨率和高光譜分辨率的特性。硅太陽能電池的電致發(fā)光光譜成像光伏設(shè)備中的缺陷會(huì)導(dǎo)致光伏產(chǎn)生的載流子發(fā)生重組，阻礙其提取并降低電池效率。電致發(fā)光光譜成像可以揭示這些有害缺陷的位置和性質(zhì)。"反向"驅(qū)動(dòng)太陽能電池（即施加電流）會(huì)產(chǎn)生電致發(fā)光，因?yàn)檩d流子在電極上被注入并在有源層中重新結(jié)合。在理想的電池中，所有載流子都會(huì)發(fā)生帶間重組，這在硅中會(huì)產(chǎn)生1100 nm附近的光（效率非常低）。然而，晶體結(jié)構(gòu)中的缺陷會(huì)產(chǎn)生其他不利的重組途徑。雖然這些過程通常被稱為"非輻射"重組，但偶爾也會(huì)產(chǎn)生光子，其能量通常低于帶間發(fā)射。捕獲這些非常罕見的光子可以了解缺陷的能量和分布。在本實(shí)驗(yàn)中，我們使用了HERA SWIR (900-1700 nm)，它非常適合測量硅發(fā)光衰減。測量裝置如圖1所示：HERA安裝在三腳架上，在太陽能電池上方，連接到一個(gè)10A的電源。640×512像素的傳感器安裝在樣品上方75厘米處，空間分辨率約為250微米。圖1. 實(shí)驗(yàn)裝置最重要的是，HERA光學(xué)系統(tǒng)沒有輸入狹縫，因此光通量非常高，是測量極微弱光發(fā)射的理想選擇。圖2.A和2.B顯示了兩個(gè)波長的電致發(fā)光（EL）圖像：1150 nm（帶間發(fā)射）和1600 nm（缺陷發(fā)射），這是4次掃描的平均值（總采集時(shí)間：5分鐘）。通過分析這些圖像，我們可以看到，盡管缺陷區(qū)域的亮度遠(yuǎn)低于主發(fā)射區(qū)域，但它們?nèi)员磺逦胤直娉鰜?。此外，具有?qiáng)缺陷發(fā)射的區(qū)域的帶間發(fā)射相對較弱。我們可以注意到有幾個(gè)區(qū)域在兩個(gè)波長下都是很暗的；這可能是由于樣品在運(yùn)輸過程中損壞了電池造成的。圖2.C中以對數(shù)標(biāo)尺顯示了小方塊感興趣區(qū)域（圖2A和2B中所示）的光譜。圖 2.A 和 B：兩個(gè)選定波長（1150 nm 和 1600 nm）的電致發(fā)光（EL）圖像。C：A和B中三個(gè)不同區(qū)域?qū)?yīng)的電致發(fā)光光譜（圖像中的彩色方框）。金屬鹵化物鈣鈦礦薄膜的光致發(fā)光顯微研究通過旋涂等技術(shù)含量低、成本效益高的方法，可以制造出非常高效的太陽能電池和LED。這些方法面臨的一個(gè)挑戰(zhàn)是在微觀長度的尺度上保持均勻的成分。光致發(fā)光顯微鏡是表征這種不均勻性的一個(gè)特別強(qiáng)大的工具。HERA高光譜相機(jī)可以連接到任何顯微鏡（正置或倒置）的c-mount相機(jī)端口，并直接開始采集高光譜數(shù)據(jù)，無需任何校準(zhǔn)程序。圖3. 與尼康LV100直立顯微鏡連接的HERA VIS-NIR。在本實(shí)驗(yàn)中，我們使用HERA VIS-NIR（400-1000 nm）耦合到尼康LV100直立顯微鏡（圖3）來表征兩種鹵化物前驅(qū)體合金的帶隙分布。將兩種鹵化物前驅(qū)體合金化的優(yōu)點(diǎn)是能夠調(diào)整材料的帶隙；然而，這兩種成分經(jīng)常會(huì)發(fā)生逆混合，從而導(dǎo)致性能損失。本實(shí)驗(yàn)的目的是檢測這種逆混合現(xiàn)象：事實(shí)上，混合比的局部變化會(huì)改變局部帶隙，從而導(dǎo)致發(fā)射不同能量的光子。在這種配置中，激發(fā)光來自汞燈，通過帶通濾光片在350 nm處進(jìn)行濾光，并通過發(fā)射路徑上的二向色鏡將其從相機(jī)中濾除。HERA的高通量使其能夠在大約1分鐘的測量時(shí)間內(nèi)收集完整的數(shù)據(jù)立方體（130萬個(gè)光譜）。圖4.樣品的光譜綜合強(qiáng)度圖（A：全尺寸；B：放大）。圖4.A和4.B分別顯示了所有波長（400-1000 nm）總集成信號的全尺寸和放大圖像，揭示了長度尺度在1 μm左右的明亮特征。當(dāng)我們比較亮區(qū)和暗區(qū)的光譜時(shí)（圖5.B中的黑色和紅色曲線），我們發(fā)現(xiàn)暗區(qū)實(shí)際上也有發(fā)射， 不僅強(qiáng)度較低，而且波長中心比亮區(qū)短。事實(shí)上，光譜具有雙峰形狀，很可能與逆混合前驅(qū)體的發(fā)射相對應(yīng)。圖5.A的發(fā)射圖清楚地顯示了帶隙的這種變化。我們現(xiàn)在可以理解為什么低帶隙區(qū)域看起來更亮了--載流子可能從高帶隙區(qū)域弛豫到那里，并且在發(fā)生輻射重組之前無法返回。圖5.A：顯示平均發(fā)射波長的強(qiáng)度圖。B：亮區(qū)和暗區(qū)的發(fā)射光譜（正?；|隆科技作為NIREOS國內(nèi)總代理公司，在技術(shù)、服務(wù)、價(jià)格上都具有優(yōu)勢。如果您有任何產(chǎn)品相關(guān)的問題，歡迎隨時(shí)來電垂詢，我們將為您提供專業(yè)的技術(shù)支持與產(chǎn)品服務(wù)。
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- 2022-09-26 14:33:37熒光顯微系統(tǒng)的新高度——Luminosa單光子計(jì)數(shù)共聚焦顯微
- 過去的幾十年中，德國PicoQuant的研發(fā)人員一直致力于制造最具定量性和重復(fù)性的時(shí)間分辨熒光顯微鏡系統(tǒng)。現(xiàn)在他們終于邁出了這一步，完成了一套更易于使用、且不影響靈敏度的系統(tǒng)。該系統(tǒng)打破常規(guī)，無需培訓(xùn)物理學(xué)支持人員便可輕松使用。全新的Luminosa可以讓每個(gè)分子生物物理學(xué)或結(jié)構(gòu)生物學(xué)研究人員輕松地將單分子和時(shí)間分辨熒光顯微鏡的方法添加到他們的“工具箱”中。Luminosa系統(tǒng)的主要功能包括一鍵式自動(dòng)對準(zhǔn)程序和基于上下文的直觀工作流程。例如，系統(tǒng)可以自動(dòng)識別單個(gè)分子，或者它可以自動(dòng)確定單個(gè)分子FRET (smFRET) 的校正因子。對于經(jīng)驗(yàn)豐富的專家，它仍具有先進(jìn)的靈活性。所有光機(jī)組件均可訪問，數(shù)據(jù)以開放格式存儲(chǔ)，工作流程和圖形用戶界面均可定制。用戶可以完全訪問實(shí)驗(yàn)參數(shù)，例如可調(diào)節(jié)的觀察量。全新的Luminosa本身就是一套時(shí)間分辨熒光顯微的多功能“工具箱”。它用于單分子水平的動(dòng)態(tài)結(jié)構(gòu)生物學(xué)研究。這些方法包括熒光壽命成像 (FLIM)、用于快速過程的rapidFLIMHiRes、FLIM-FRET、單分子FRET（突發(fā)和時(shí)間跟蹤分析）、熒光相關(guān)光譜 (FCS)、各向異性成像和微分干涉對比 (DIC) 成像。隨著時(shí)間分辨熒光顯微技術(shù)的用戶群體不斷擴(kuò)大，對高重復(fù)性、高準(zhǔn)確性和寶貴實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)規(guī)則的需求變得尤為明顯。Luminosa已經(jīng)包含了科學(xué)家集體努力制定的經(jīng)驗(yàn)指南，例如來自于單分子FRET群體在基準(zhǔn)研究中的經(jīng)驗(yàn)指南。Luminosa 是一款將超高數(shù)據(jù)質(zhì)量與超簡日常操作相結(jié)合的單光子計(jì)數(shù)共聚焦顯微鏡。它可以輕松集成到任何研究人員的“工具箱”中，成為開始探索使用時(shí)間分辨熒光方法科學(xué)家以及想要突破極限專家的省時(shí)、可靠的“伙伴”。它是一個(gè)真正的顯微鏡系統(tǒng)，每個(gè)人都可以依賴。產(chǎn)品特點(diǎn)：◆ 全軟件控制共聚焦系統(tǒng)，基于倒置顯微鏡◆ 激光波長從375到1064 nm可選◆ VarPSF：觀察量高精度調(diào)節(jié)，用于FCS和單分子FRET實(shí)驗(yàn)◆ 電動(dòng)平移臺(tái)，可在傳動(dòng)和FLIM模式下進(jìn)行“圖像拼接”◆ 掃描選項(xiàng)：FLIMbee振鏡掃描和壓電物鏡掃描◆ 最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT組成相互獨(dú)立的6通道探測單元◆
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- 2022-11-02 14:15:47爾迪介紹|Bruker Hysitron TI 980產(chǎn)品介
- 布魯克的 Hysitron TI 980 TriboIndenter 同時(shí)具有大性能、靈活性、可靠性、可用性和速度。這臺(tái)行業(yè)的系統(tǒng)以數(shù)十年的 Hysitron 技術(shù)創(chuàng)新為基礎(chǔ)，在納米力學(xué)特性測試方面提供更高水平的非凡性能、增強(qiáng)的功能的多功能性。Hysitron TI 980 納米壓痕儀是在準(zhǔn)確控制、測試帶寬、測試靈活性、適用性、測量可靠性和系統(tǒng)模塊化方面都取得了顯著進(jìn)步。 簡易高速的自動(dòng)化海思創(chuàng)TI 980提供了高通量表征所需的快速、多樣品和多技術(shù)自動(dòng)測試能力。它可以按照設(shè)定時(shí)間間隔自動(dòng)驗(yàn)證針尖形狀，還可以實(shí)現(xiàn)多尺度下的高分辨成像和全樣品光學(xué)掃描。不會(huì)過時(shí)的表征潛力鑒于將來會(huì)出現(xiàn)不同與今日的表征需求，TI 980納米壓痕儀被設(shè)計(jì)為具有好的靈活性。TI 980支持大量集成和具有相關(guān)性的納米力學(xué)表征技術(shù)，使您時(shí)刻保持在材料研發(fā)前沿。集成多種系統(tǒng)控制模塊和數(shù)據(jù)分析軟件、通用樣品固定選項(xiàng)（機(jī)械、磁性和真空）和模塊化環(huán)境腔，TI 980也適用于您將來的表征需求。 技術(shù)參數(shù)1）樣品尺寸：≤100mm×100mm×50mm； 2）樣品臺(tái)移動(dòng)范圍：≤250mm×150mm；3）低載最大壓入位移≥5μm，高載最大位移≥80μm；4）SPM原位掃描成像: 分辨率約100nm；5）高溫樣品加熱臺(tái)溫度：≤600 ℃；6）環(huán)境溫漂：≤0.05nm/s。 Bruker Hysitron TI 980應(yīng)用行業(yè)：表征材料表面微/納米尺度內(nèi)的強(qiáng)/硬度、彈性模量，蠕變、應(yīng)力松弛、斷裂韌性、屈服強(qiáng)度（Pillars）、殘余應(yīng)力和結(jié)合力，測量得到材料載荷—位移曲線，主要應(yīng)用于生物材料、金屬材料、膜材料、聚合物材料、無機(jī)非金屬材料等領(lǐng)域。 上海爾迪儀器科技有限公司代理Hysitron TI 980，更多詳細(xì)資料，可聯(lián)系上海爾迪儀器科技有限公司，撥打電話021-61552797！021-61552797！
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