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2025-01-21 09:30:22飛納電鏡能譜一體機(jī): 飛納電鏡能譜一體機(jī)是集掃描電子顯微鏡（SEM）與能譜分析儀（EDS）于一體的綜合性分析設(shè)備。它利用SEM的高分辨率成像技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面微觀形貌的精細(xì)觀察；同時(shí)，EDS模塊能迅速分析樣品表面的元素組成及分布，提供定量與定性的化學(xué)成分信息。該一體機(jī)操作簡(jiǎn)便、分析快速準(zhǔn)確，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域，是研究材料微觀結(jié)構(gòu)與成分不可或缺的重要工具。

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飛納電鏡能譜一體機(jī)資訊

這體積小巧的臺(tái)式掃描電鏡，表征的結(jié)果可以發(fā)哪些高質(zhì)量期刊

飛納電鏡操作便捷，占地面積小，效率高，但表征的結(jié)果能發(fā)高質(zhì)量期刊嗎？和小編一起看看吧。

復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司 1531
2022-05-21
飛納大倉(cāng)室掃描電鏡能譜測(cè)試飛納電鏡能譜一體機(jī) 臺(tái)式掃描電鏡
小天光子引入飛納ProX電鏡能譜一體機(jī)，加速光學(xué)材料研發(fā)！

為光學(xué)材料研發(fā)注入了強(qiáng)大的尖端顯微技術(shù)動(dòng)力

 復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司 128
2025-07-22

飛納電鏡能譜一體機(jī)文章

如何通過掃描電鏡能譜分析，給出可信的成分分析結(jié)果？

復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司 1328
2020-07-28
掃描電鏡飛納電鏡能譜一體機(jī)

飛納電鏡能譜一體機(jī)產(chǎn)品

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: 飛納臺(tái)式掃描電鏡電鏡能譜一體機(jī) ProX; 國(guó)外歐洲; 面議; 北京圣嘉宸科貿(mào)有限公司
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飛納電鏡能譜一體機(jī)問答

2023-06-21 14:21:22飛納電鏡線下用戶培訓(xùn)會(huì) —— 廣州站: 飛納電鏡第三場(chǎng)線下用戶培訓(xùn)會(huì)要來廣州啦！本次培訓(xùn)會(huì)誠(chéng)摯邀請(qǐng)各位用戶朋友們來到飛納電鏡最佳 Demo 室——廣州國(guó)際生物島，讓我們一起開啟為期兩天的電鏡培訓(xùn)之旅吧！* 若有時(shí)間沖突，請(qǐng)于培訓(xùn)開始前告知。培訓(xùn)·流程6月29日6月30日期待您的到來！

2023-06-08 17:52:34邀請(qǐng)函｜飛納電鏡邀您參加微納科技與先進(jìn)材料創(chuàng)新大會(huì) 2023: 復(fù)納INVITATION微納科技與先進(jìn)材料創(chuàng)新大會(huì)（2023）將于 6 月 10 日 - 12 日在重慶舉辦。本次會(huì)議旨在凝聚優(yōu)勢(shì)力量、加強(qiáng)納米科學(xué)與微納制造技術(shù)的基礎(chǔ)研究與應(yīng)用研究，促進(jìn)多學(xué)科交叉融合，促進(jìn)先進(jìn)材料產(chǎn)業(yè)化的發(fā)展。時(shí)間：2023 年 6 月 10 日 - 12 日地點(diǎn)：重慶兩江云頂大酒店復(fù)納科技展位號(hào)：7 號(hào)新興的微納材料在電子、通信和物聯(lián)網(wǎng)、能源存儲(chǔ)、化工和燃料生產(chǎn)、醫(yī)療保健、藥物輸送等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。納米材料的性質(zhì)與其組成和表面形貌有很大的關(guān)系，復(fù)納科技擁有一系列高精尖的分析檢測(cè)儀器與先進(jìn)的解決方案，可以對(duì)納米材料進(jìn)行分析表征和改性。歡迎各位老師同行蒞臨【7】號(hào)展位，和我們一起探討交流！莊思濛復(fù)納科技產(chǎn)品經(jīng)理報(bào)告時(shí)間：6月12日 16:05-16:25本次會(huì)議中，復(fù)納科技產(chǎn)品經(jīng)理莊思濛將在“微納技術(shù)在新能源電池領(lǐng)域中的應(yīng)用技術(shù)”分會(huì)場(chǎng)帶來《電池粉末原子層沉積包覆改性及原位電鏡表征方案》的主題報(bào)告。1、Phenom-飛納臺(tái)式掃描電鏡飛納臺(tái)式掃描電鏡操作簡(jiǎn)單，效率高，成像質(zhì)量高，其優(yōu)異的低真空模式可實(shí)現(xiàn)無需噴金直接觀察不導(dǎo)電樣品。最新的第二代場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 Phenom Pharos G2 分辨率優(yōu)于 1.5nm，是分辨率最高的臺(tái)式掃描電鏡，是納米材料表征的強(qiáng)有力工具。Phenom Pharos G2飛納臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Phenom XL G2飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室卓越版Phenom ProX飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)2、Forge Nano-原子層沉積系統(tǒng)ALD 原子層沉積技術(shù)已被證明可用于多種組分以及納米結(jié)構(gòu)的制備，包括單原子 / 團(tuán)簇催化劑、鋰電材料表面包覆等等。Forge Nano 設(shè)備基于 ALD 工藝可實(shí)現(xiàn)從毫克到千噸級(jí)的粉末包覆處理量，能夠有效提高電池化學(xué)性能與安全性。3、DENSsolutions-TEM 原位實(shí)驗(yàn)方案DENS 產(chǎn)品可以為 TEM 樣品施加外界刺激，實(shí)現(xiàn)在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種條件，捕捉 TEM 樣品在真實(shí)環(huán)境下的動(dòng)態(tài)現(xiàn)象。目前提供的四種原位實(shí)驗(yàn)方案：Wildfire TEM 原位加熱方案、Lightning TEM 原位熱電方案、Climate TEM 原位氣相加熱方案和 Stream TEM 原位液相加熱 / 加電方案。Wildfire 原位加熱樣品桿Lightning 原位熱電樣品桿Lightning 原位熱電樣品桿Stream 原位液相加熱/加電樣品桿Climate 原位氣相加熱樣品桿4、VSParticle-全自動(dòng)納米研究平臺(tái)VSParticle 設(shè)備采用火花燒蝕制備納米顆粒的技術(shù)，可對(duì)產(chǎn)生的顆粒進(jìn)行粒徑的控制，從而獲得不同粒徑中位值的單分散納米氣溶膠。此外該技術(shù)也能用于進(jìn)行快速打印以及粉末表面的納米沉積。歡迎各位老師蒞臨展位與我們探討交流，我們將隨時(shí)為您提供專業(yè)的解答與支持，現(xiàn)場(chǎng)也有精美小禮品相送噢！

2023-06-08 16:04:39邀請(qǐng)函｜飛納電鏡邀您共赴西北五省第十三屆電鏡學(xué)術(shù)交流及技術(shù)研討會(huì)！: 會(huì)議邀請(qǐng) “西北五省第十三屆電鏡學(xué)術(shù)交流及技術(shù)研討會(huì)”將于 2023 年 6 月 9 日 - 12 日在甘肅省蘭州市蘭州大學(xué)舉辦。此次會(huì)議是西北五省規(guī)模最大、影響力最強(qiáng)的電子顯微學(xué)盛會(huì)。本次會(huì)議將采用會(huì)前培訓(xùn)、會(huì)議中專家報(bào)告、學(xué)術(shù)座談、廠商報(bào)告和廠家現(xiàn)場(chǎng)設(shè)備使用技術(shù)培訓(xùn)形式。專家學(xué)者將齊聚一堂，共赴這場(chǎng)電鏡盛會(huì)。會(huì)議時(shí)間：2023 年 6 月 9 日 - 12 日會(huì)議地點(diǎn)：蘭州大學(xué)電鏡中心復(fù)納科技致力于為實(shí)驗(yàn)室樣品制備與檢測(cè)提供智能、高效、可靠的高科技解決方案。其中飛納臺(tái)式掃描電鏡作為全球領(lǐng) 先的桌面式掃描電鏡，憑借操作簡(jiǎn)單、成像質(zhì)量高和效率高等優(yōu)勢(shì)成為眾多研究人員的選擇。在本次會(huì)議中，我們也將現(xiàn)場(chǎng)展示飛納電鏡能譜一體機(jī) ProX，由工程師現(xiàn)場(chǎng)開展電鏡技能培訓(xùn)與問題答疑，歡迎大家前來上機(jī)測(cè)試。會(huì)議報(bào)告/ FUNA本次會(huì)議中，復(fù)納科技產(chǎn)品經(jīng)理萬正宇將帶來“DENSsolutions 基于 MEMS 的原位透射電鏡技術(shù)發(fā)展＆ STEM 在飛納臺(tái)式電鏡上的應(yīng)用”主題報(bào)告，為大家分享最新的原位實(shí)驗(yàn)方案與 STEM 表征。歡迎各位專家老師和我們一起探討交流！01Pharos - STEM作為全球唯一臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射 Pharos-STEM 電子顯微鏡，在較低的加速電壓下，可減少電子束對(duì)樣品的損傷，顯著提高了圖像的襯度。Pharos STEM 電子顯微鏡，利用 FEG 高亮度電子源，可在透射模式下對(duì)薄樣品進(jìn)行成像。專用的樣品夾可輕松裝載常規(guī) 3mm 直徑透射電鏡 (TEM) 載網(wǎng)，實(shí)現(xiàn)樣品的快速、安全切換。STEM 樣品杯可提供明場(chǎng) (BF) 、暗場(chǎng) (DF) 和高角度環(huán)形暗場(chǎng) (HAADF) 像，并支持自定義選擇成像模式。02DENSsolutionsDENS 產(chǎn)品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激，捕捉 TEM 樣品在真實(shí)環(huán)境下的動(dòng)態(tài)現(xiàn)象。目前提供的四種原位實(shí)驗(yàn)方案：Wildfire TEM 原位加熱方案、Lightning TEM 原位熱電方案、Climate TEM 原位氣相加熱方案和 Stream TEM 原位液相加熱 / 加電方案，已經(jīng)可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態(tài)。03Technoorg Linda復(fù)納科技擁有 Technoorg Linda 離子研磨儀，采用離子束技術(shù)，可對(duì)樣品進(jìn)行快速研磨及表面精細(xì)加工和最終拋光。是 SEM / TEM 樣品表面處理的有力工具。04NEOSCANNeoscan 臺(tái)式顯微 CT 采用先進(jìn) X 射線成像技術(shù)，分辨率高，對(duì)場(chǎng)地要求少，緊湊便攜，適用于實(shí)驗(yàn)室和研究機(jī)構(gòu)日常使用。歡迎各位老師蒞臨展位與我們探討交流，我們隨時(shí)為您提供專業(yè)的解答與支持，現(xiàn)場(chǎng)也有精美小禮品相送噢！

2023-06-15 10:00:09邀請(qǐng)函｜飛納電鏡邀您參加 2023 第六屆汽車零部件清潔度控制技術(shù)峰會(huì): 2023 年 6 月 15 - 16 日，行業(yè)矚目的第六屆汽車零部件清潔度控制技術(shù)峰會(huì)將在寧波舉辦。本次峰會(huì)是一場(chǎng)汽車零部件行業(yè)的重要盛事，旨在推動(dòng)清潔度控制技術(shù)的創(chuàng)新和應(yīng)用，搭建行業(yè)交流平臺(tái)，加強(qiáng)行業(yè)間的合作。此次峰會(huì)的參與群體廣泛，與會(huì)者將包括業(yè)內(nèi)的專家學(xué)者、技術(shù)研發(fā)人員、質(zhì)量管理專家以及行業(yè)領(lǐng)軍企業(yè)的代表，共同探討汽車零部件清潔度控制技術(shù)的最新趨勢(shì)、挑戰(zhàn)和解決方案。時(shí)間：2023 年 6 月 15 日 - 16 日地點(diǎn)：寧波北侖世茂希爾頓逸林酒店清潔度一般指汽車零件、總成及整機(jī)等部位被顆粒物污染的程度，用規(guī)定的方法從特定的部件采集到顆粒物的質(zhì)量、大小、形狀、數(shù)量、材料種類等特征參數(shù)來表征。具體采用何種方法及指標(biāo)對(duì)顆粒物進(jìn)行測(cè)試分析，取決于不同顆粒物對(duì)部件性能的影響程度及清潔度控制精度要求。飛納電鏡產(chǎn)品經(jīng)理劉曉龍本次會(huì)議中，飛納電鏡產(chǎn)品經(jīng)理劉曉龍將帶來“動(dòng)力電池中各類金屬異物的影響及其檢測(cè)方法”的主題報(bào)告，為大家分享飛納在清潔度檢測(cè)的最新解決方案。報(bào)告時(shí)間：2023 年 6 月 16 日上午 09:30-10:00飛納 ParticleX 全自動(dòng)汽車清潔度分析系統(tǒng)，以掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ)，可以全自動(dòng)對(duì)顆粒或雜質(zhì)進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類統(tǒng)計(jì)，允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學(xué)成分，從而判斷出污染源，為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。該過程完全符合 ISO 16232 和 VDA 19 要求。只需一鍵，即可自動(dòng)分析 4 片直徑 47mm 的濾膜，無需人員值守，可連續(xù)運(yùn)行，并且一鍵生成報(bào)告，更有效率地監(jiān)控過程清潔度。ParticleX汽車清潔度分析在傳統(tǒng)燃油汽車領(lǐng)域，硬度較高的顆粒物（如Al2O3、SiO2 等）危害性更大，因此受到各大主機(jī)廠商的特別關(guān)注，在其清潔度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)中，往往把硬質(zhì)顆粒物作為第一優(yōu)先關(guān)注點(diǎn)。從燃油汽車到電動(dòng)汽車，電池成本占到整車成本的 30% 以上，清潔度檢測(cè)的關(guān)注點(diǎn)也發(fā)生了改變。對(duì)動(dòng)力電池生產(chǎn)來說，金屬異物（如銅、鋅、鐵、鉻、鎳等）會(huì)導(dǎo)致電池短路，有極大的安全隱患，需要嚴(yán)格管控和自動(dòng)快速的檢測(cè)方法。ParticleX Battery

2023-06-27 14:22:52邀請(qǐng)函｜相約上海，飛納電鏡邀您共聚 SEMICON CHINA 2023 上海國(guó)際半導(dǎo)體展: SEMICON CHINA 2023 將于 6 月 29 日 - 7 月 1 日在上海新國(guó)際博覽中心盛大召開。這是一個(gè)覆蓋芯片設(shè)計(jì)、制造、封測(cè)、設(shè)備、材料、光伏、顯示等全產(chǎn)業(yè)鏈攜手合作，全球規(guī)模最大、最具影響力的半導(dǎo)體專業(yè)展。來自五湖四海的專家學(xué)者將齊聚一堂，共赴這場(chǎng)半導(dǎo)體嘉年華！時(shí)間2023 年 6 月 29 日 - 7 月 1 日地點(diǎn)上海新國(guó)際博覽中心展位：E2 館 E2549 號(hào)半導(dǎo)體材料一直以來都是芯片制造的“基石”，是推動(dòng)集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展創(chuàng)新的重要基礎(chǔ)。不管是制造還是封測(cè)，半導(dǎo)體材料幾乎貫穿整個(gè)集成電路制造過程。硅是今天最常用的半導(dǎo)體材料，其他還有各種復(fù)合半導(dǎo)體材料。應(yīng)對(duì)如此多樣的材料以及復(fù)雜的工藝，需要耗費(fèi)大量時(shí)間精力。飛納電鏡可以滿足多樣化的材料檢測(cè)需求以及復(fù)雜的制程工藝管控，可以實(shí)現(xiàn)缺陷和形貌觀察以及物性失效分析，為您提供高效、簡(jiǎn)單、精確的半導(dǎo)體解決方案，幫助您提升工藝良率?，F(xiàn)場(chǎng)也將有 Phenom XL G2 大樣品室卓越版展出，歡迎各位老師蒞臨【E2 館 E2549 號(hào)】展臺(tái)測(cè)試，共同探討交流。應(yīng)用案例IC 封裝測(cè)試失效分析1、對(duì)失效位置進(jìn)行切割2、離子研磨儀中進(jìn)行切割3、位置1. 放大后發(fā)現(xiàn)此處未連接4、位置2. 放大后發(fā)現(xiàn)此處開裂