- 2025-05-27 20:43:29掃描電鏡（SEM）
- 掃描電鏡（SEM）是一種利用聚焦電子束掃描樣品表面，通過(guò)收集二次電子、背散射電子等信號(hào)來(lái)成像的設(shè)備。其分辨率高，放大倍數(shù)可調(diào)范圍廣，能直觀展示樣品表面形貌。SEM廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域，用于觀察樣品微觀結(jié)構(gòu)、成分分析及表面缺陷檢測(cè)等，是科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中不可或缺的分析工具。
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