- 2025-01-21 09:29:31薄膜FP法
- 薄膜FP法是一種利用法布里-珀羅（Fabry-Pérot，簡稱FP）干涉儀原理來測量薄膜厚度和折射率的方法。該方法通過觀測光波在薄膜中的多次反射和干涉現(xiàn)象，分析干涉條紋的變化，從而精確計算出薄膜的光學(xué)參數(shù)。FP法具有高精度和非接觸式測量的優(yōu)點，廣泛應(yīng)用于光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體材料等領(lǐng)域，是薄膜表征的重要手段之一。
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