- 2025-01-10 10:50:30深紫外光致發(fā)光
- 深紫外光致發(fā)光是指物質(zhì)在深紫外光照射下，吸收光能后激發(fā)出熒光的現(xiàn)象。這一現(xiàn)象通常與物質(zhì)的電子結(jié)構(gòu)和光學(xué)性質(zhì)密切相關(guān)，可用于研究材料的能帶結(jié)構(gòu)、缺陷狀態(tài)以及光與物質(zhì)的相互作用等。深紫外光致發(fā)光在半導(dǎo)體材料、光學(xué)器件以及生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域有重要應(yīng)用。
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深紫外光致發(fā)光問答
- 2023-08-21 11:41:24熱點(diǎn)應(yīng)用丨OLED的光致發(fā)光和電致發(fā)光共聚焦成像
- 要點(diǎn)光致發(fā)光和電致發(fā)光是有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）視覺顯示發(fā)展的重要技術(shù)。與共聚焦顯微鏡相結(jié)合，使用RMS1000共聚焦顯微拉曼光譜儀對(duì)OLED器件的光電特性進(jìn)行成像研究。光譜和時(shí)間分辨成像獲得了比宏觀測試更詳細(xì)的器件組成和質(zhì)量信息。介紹近年來，有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）已成為高端智能手機(jī)和電視全彩顯示面板的領(lǐng)先技術(shù)之一1。使用量的快速增長是因?yàn)镺LED提供了比液晶顯示器（LCD）更卓 越的性能。例如，它們更薄、更輕、更靈活、功耗更低、更明亮2。在典型的OLED器件中，電子和空穴被注入到傳輸層中，然后在中心摻雜發(fā)光層中復(fù)合。這種復(fù)合產(chǎn)生的能量通過共振轉(zhuǎn)移到摻雜分子中，從而使其發(fā)光。OLED發(fā)光的顏色取決于發(fā)光層中所摻雜分子的化學(xué)結(jié)構(gòu)。當(dāng)新的有機(jī)電致發(fā)光器件開發(fā)出來時(shí)，可以利用光致發(fā)光（PL）和電致發(fā)光（EL）光譜來表征單個(gè)元件和整個(gè)器件的光電特性。在本文中，RMS1000共聚焦顯微拉曼光譜儀用于表征四種成像模式下OLED器件的光電特性：PL、EL、時(shí)間分辨PL（TRPL）和時(shí)間分辨EL（TREL）。使用共聚焦顯微拉曼光譜儀來表征OLED的光譜和時(shí)間分辨特性獲得了比宏觀測試更詳細(xì)的信息。材料和方法測試樣品為磷光OLED器件，由圣安德魯斯大學(xué)有機(jī)半導(dǎo)體光電研究組提供。將樣品放置在冷熱臺(tái)（LINKAM）上，通過兩個(gè)鎢探針連接到器件電極上實(shí)現(xiàn)成像。使用RMS1000共聚焦顯微拉曼光譜儀進(jìn)行PL、EL、時(shí)間分辨PL（TRPL）和時(shí)間分辨EL（TREL）成像，如圖1。圖1 PL、TRPL、EL和TREL成像的實(shí)驗(yàn)裝置。將裝載樣品的冷熱臺(tái)放置在顯微鏡樣品臺(tái)上，如圖2所示。對(duì)于PL測試，使用532 nm CW激光器和背照式CCD探測器；對(duì)于TRPL測試，使用外部耦合的EPL-405皮秒脈沖激光器、MCS模式和快速響應(yīng)的PMT。對(duì)于EL測試，使用Keithley 2450 SMU向OLED器件加電壓，并用CCD探測器檢測；對(duì)于TREL測試，使用Tektronix 31102 AFG向OLED加一系列短脈沖電壓，使用MCS模式測試每個(gè)脈沖下的衰減。圖2 (a)安裝在RMS1000上的冷熱臺(tái)；(b) OLED器件電致發(fā)光寬場成像。測試結(jié)果與討論大面積光致發(fā)光和電致發(fā)光光譜成像OLED首次采用PL和EL光譜相結(jié)合的方法進(jìn)行研究。當(dāng)使用共聚焦顯微拉曼光譜儀成像時(shí)，可以表征材料在整個(gè)器件中的分布以及在發(fā)光強(qiáng)度和顏色均勻性方面的整體質(zhì)量。圖3中的PL成像和相應(yīng)的光譜提供了器件上4個(gè)區(qū)域發(fā)光層分布的信息，還顯示了電極的位置。圖3 (a)OLED器件的PL光譜強(qiáng)度成像；(b)a中標(biāo)記的點(diǎn)1和點(diǎn)2的PL光譜。白色和灰色代表PL強(qiáng)度，顯示了有機(jī)發(fā)光層的位置?；疑珔^(qū)域?yàn)榘l(fā)光層被頂部電極覆蓋的位置。在頂部電極穿過發(fā)光層的地方，PL強(qiáng)度降低為未覆蓋區(qū)域強(qiáng)度的一半以下。這是由于頂部電極材料削弱了激光強(qiáng)度和光致發(fā)光強(qiáng)度。對(duì)于EL成像，鎢探針連接到與區(qū)域2相交的電極上。圖4中得到的EL圖像和相應(yīng)的光譜表明了EL發(fā)光僅發(fā)生在區(qū)域2中的發(fā)光層與電極重疊的區(qū)域。在PL成像中，空間分辨率主要取決于樣品上激光光斑的大小。而在EL成像中，由于沒有激光，因此是通過改變共焦針孔直徑來改變空間分辨率（將針孔直徑減小到25 μm）。圖4 (a)OLED器件的EL光譜強(qiáng)度成像；(b)a中標(biāo)記的點(diǎn)1和點(diǎn)2的EL光譜。EL強(qiáng)度在整個(gè)有源像素上不均勻，這對(duì)器件的質(zhì)量有影響。在區(qū)域外邊緣有兩個(gè)（白色）垂直條帶，強(qiáng)度比其余部分強(qiáng)。此外，存在許多EL強(qiáng)度降低的非發(fā)光區(qū)域。這表明器件有缺陷，理想情況下，OLED將在每個(gè)像素上呈現(xiàn)出密集和均勻的發(fā)光。高分辨率光致發(fā)光和電致發(fā)光光譜成像為了進(jìn)一步研究，使用PL和EL對(duì)EL有源像素上的較小區(qū)域（圖5a和圖5b）進(jìn)行高分辨成像。圖5b網(wǎng)格內(nèi)的上部區(qū)域是發(fā)光層與電極重疊的地方，下部區(qū)域是單獨(dú)的發(fā)光層。圖5c為 PL強(qiáng)度成像，再次表明被電極覆蓋的發(fā)光層PL強(qiáng)度小于未覆蓋的發(fā)光層。PL峰值波長圖像（圖5d）表明，有電極覆蓋的發(fā)光層與未覆蓋的發(fā)光層（611 nm）相比，PL發(fā)射峰發(fā)生紅移（620 nm）。峰值波長的變化表明在不同的區(qū)域中能級(jí)不同。圖5 (a) OLED器件電致發(fā)光寬場成像；(b)a網(wǎng)格內(nèi)的高分辨率寬場成像；(c)PL強(qiáng)度成像；(d)相同區(qū)域的PL峰值波長成像；(e)EL強(qiáng)度成像；(f)相同區(qū)域的EL峰值波長成像。EL成像顯示，與其余部分相比發(fā)射強(qiáng)度較弱的缺陷（圖5e）波長發(fā)生明顯紅移（圖5f）。這是由于缺陷處的EL能帶的信號(hào)強(qiáng)度降低以及在662 nm處EL能帶信號(hào)強(qiáng)度同時(shí)增加引起的。另外，在EL有源區(qū)域的最 底部的區(qū)域中，發(fā)生藍(lán)移，這與在PL圖像上看到的波長變化一致。高分辨率時(shí)間分辨光致發(fā)光和電致發(fā)光成像為獲得額外信息，在同一區(qū)域進(jìn)行TRPL和TREL成像，如圖6所示。分別用激光脈沖和電脈沖，在MCS模式下測試614 nm處OLED的PL和EL衰減。利用單指數(shù)模型擬合衰減曲線。在圖6a的TRPL成像中，EL活性區(qū)域（上部區(qū)域）中的PL壽命比EL非活性區(qū)域（下部區(qū)域）中的PL壽命短大約200 ns。如圖6c所示，分別為800 ns和600 ns。這里觀察到與圖4中PL強(qiáng)度和波長圖像的類似梯度，沿圖向下方向的發(fā)射強(qiáng)度增強(qiáng)，并且發(fā)生了藍(lán)移。因此，根據(jù)TRPL數(shù)據(jù)可得：當(dāng)光激發(fā)時(shí)，通過摻雜帶可獲得不同的能級(jí)。在圖6b中的TREL成像中，整個(gè)區(qū)域的壽命相似，大約為470 ns。發(fā)現(xiàn)EL壽命顯著短于相同區(qū)域的PL壽命。圖6 (a)OLED的時(shí)間分辨PL成像；(b)OLED的時(shí)間分辨EL成像；(c)a中選定區(qū)域的PL衰減曲線；(d)b中圖像的EL衰減曲線。結(jié)論RMS1000共聚焦顯微拉曼光譜儀用于測試OLED器件的PL、EL、TRPL和TREL成像。這些不同的成像模式提供了關(guān)于發(fā)光層和電極在整個(gè)器件中位置的詳細(xì)信息，在工作條件下器件的發(fā)光強(qiáng)度和顏色均勻性，以及關(guān)于PL和EL過程中帶隙能量的相對(duì)信息。參考文獻(xiàn)1. A. Salehi et al., Recent Advances in OLED Optical Design, Adv. Funct. Mater., 2019, 29, 1808803, DOI: 10.1002/adfm.201808803.2. J. M. Ha et al., Recent Advances in Organic Luminescent Materials with Narrowband Emission, NPG Asia Mater., 2021, 13, 1–36, DOI: 10.1038/s41427-021-00318-8.天美分析更多資訊
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- 2025-02-25 14:15:12濾波器外特性哪點(diǎn)最突出？
- 濾波器外特性：理解與應(yīng)用 濾波器外特性是衡量濾波器性能的重要指標(biāo)之一，它決定了濾波器在實(shí)際應(yīng)用中如何表現(xiàn)。外特性不僅僅關(guān)乎濾波器的基本功能，例如對(duì)信號(hào)的頻率選擇和衰減，還涉及到一些諸如相位響應(yīng)、群延遲等參數(shù)，這些都對(duì)濾波器的整體表現(xiàn)產(chǎn)生了深遠(yuǎn)的影響。本文將深入探討濾波器外特性的定義、影響因素及其在各類電子設(shè)備中的應(yīng)用，幫助讀者更全面地理解濾波器的工作機(jī)制及其在不同領(lǐng)域中的重要性。 濾波器外特性可以從幾個(gè)維度來考察，包括頻率響應(yīng)、相位特性、群延遲和時(shí)域特性等。頻率響應(yīng)是濾波器基本的外特性之一，指的是濾波器對(duì)不同頻率信號(hào)的衰減程度。理想濾波器應(yīng)當(dāng)對(duì)目標(biāo)頻段的信號(hào)保持通過，而對(duì)其他頻段的信號(hào)進(jìn)行衰減。實(shí)際濾波器無法完全達(dá)到理想效果，頻率響應(yīng)會(huì)受到濾波器類型（如低通、高通、帶通等）、設(shè)計(jì)方法和制造精度的影響。 相位特性同樣是影響濾波器外特性的一個(gè)重要因素。相位失真可能導(dǎo)致信號(hào)波形的畸變，尤其是在處理高速信號(hào)時(shí)尤為明顯。相位失真通常與濾波器的群延遲密切相關(guān)，群延遲反映了信號(hào)的不同頻率成分在通過濾波器時(shí)所經(jīng)歷的時(shí)間延遲。理想情況下，群延遲應(yīng)為常數(shù)，這樣可以避免不同頻率成分的時(shí)間偏移，但實(shí)際濾波器往往難以實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)。 濾波器外特性還包括其在時(shí)間域中的響應(yīng)。在時(shí)域中，濾波器的脈沖響應(yīng)可以揭示濾波器對(duì)瞬時(shí)信號(hào)的反應(yīng)。脈沖響應(yīng)的長度和形狀會(huì)直接影響濾波器的性能，尤其在處理高精度信號(hào)時(shí)，濾波器的時(shí)域特性至關(guān)重要。通常，脈沖響應(yīng)較長的濾波器能夠更準(zhǔn)確地過濾掉不需要的頻率成分，但也可能導(dǎo)致系統(tǒng)的處理速度變慢。 對(duì)于不同類型的濾波器，其外特性表現(xiàn)也不盡相同。比如，模擬濾波器和數(shù)字濾波器在設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)上有所區(qū)別，導(dǎo)致它們在外特性上有顯著的差異。模擬濾波器的外特性通常由電路參數(shù)決定，而數(shù)字濾波器則通過算法設(shè)計(jì)進(jìn)行優(yōu)化。隨著技術(shù)的發(fā)展，數(shù)字濾波器在精確控制和復(fù)雜信號(hào)處理中的優(yōu)勢逐漸顯現(xiàn)，尤其是在高頻信號(hào)的處理中，數(shù)字濾波器常常能夠提供更為穩(wěn)定和可控的外特性。 濾波器外特性的設(shè)計(jì)與優(yōu)化是一個(gè)復(fù)雜的過程，涉及到信號(hào)處理理論、電路設(shè)計(jì)、算法優(yōu)化等多個(gè)領(lǐng)域。在實(shí)際應(yīng)用中，不同的濾波器外特性可能會(huì)根據(jù)具體需求有所側(cè)重，例如在音頻處理、無線通信、雷達(dá)系統(tǒng)等領(lǐng)域，濾波器的選擇不僅要考慮其頻率響應(yīng)，還需關(guān)注相位失真、群延遲等因素。這些因素的平衡將直接影響系統(tǒng)的整體性能。 濾波器的外特性是其性能的體現(xiàn)，不僅影響信號(hào)的處理效果，還對(duì)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和精確度起著至關(guān)重要的作用。設(shè)計(jì)者需要根據(jù)實(shí)際需求選擇合適的濾波器，并對(duì)其外特性進(jìn)行精確調(diào)整，以達(dá)到的信號(hào)處理效果。在電子設(shè)備中，濾波器外特性的優(yōu)化和改進(jìn)始終是技術(shù)發(fā)展的重要方向之一。
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- 2025-03-14 12:45:12減壓器的外特性及效率有哪些明顯特征？
- 減壓器的外特性及效率 減壓器作為液壓系統(tǒng)中重要的組件之一，廣泛應(yīng)用于工業(yè)自動(dòng)化、能源、制造等領(lǐng)域。它的主要作用是調(diào)節(jié)液體或氣體的壓力，確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性與可靠性。對(duì)于減壓器的外特性及效率的研究，不僅能夠優(yōu)化設(shè)備的性能，還能提升整個(gè)系統(tǒng)的工作效率和節(jié)能效果。本文將詳細(xì)探討減壓器的外特性、工作效率以及如何提高其工作效率的相關(guān)因素，為相關(guān)行業(yè)提供參考與幫助。 減壓器的外特性是指它在使用過程中表現(xiàn)出的外部表現(xiàn)和特性，包括壓力調(diào)節(jié)能力、流量穩(wěn)定性以及適應(yīng)性等。減壓器需要根據(jù)外部輸入的壓力自動(dòng)調(diào)節(jié)輸出壓力，這是它基本的功能。良好的減壓器外特性應(yīng)該具備較寬的調(diào)節(jié)范圍和快速響應(yīng)能力，以應(yīng)對(duì)系統(tǒng)中壓力波動(dòng)的變化。在流量控制方面，減壓器不僅要保持壓力的穩(wěn)定，還要確保液體或氣體的流量不受影響，保證系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。流量的穩(wěn)定性直接影響到生產(chǎn)過程的連續(xù)性和安全性。因此，減壓器需要具備較強(qiáng)的適應(yīng)性，能夠在不同的工作環(huán)境下提供高效、穩(wěn)定的服務(wù)。 減壓器的效率是衡量其性能的關(guān)鍵指標(biāo)。高效的減壓器不僅能夠在降低能量損耗的提高系統(tǒng)的工作效率，還能有效延長設(shè)備的使用壽命。減壓器的效率主要與其設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)、材料選擇以及工作原理密切相關(guān)。優(yōu)質(zhì)的減壓器通常采用先進(jìn)的材料和工藝，減少摩擦和內(nèi)泄漏，從而提升整體效率。在選擇減壓器時(shí)，除了關(guān)注其減壓能力外，流體動(dòng)力學(xué)特性也需要考慮，這些因素都直接影響到減壓器的整體效率。 提高減壓器工作效率的方法有很多，首先是在設(shè)計(jì)階段，合理優(yōu)化其流道、閥門和調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)，減少內(nèi)部流阻和能量損耗?？梢酝ㄟ^選用高效的密封材料和精密加工技術(shù)，減少減壓器內(nèi)部的泄漏現(xiàn)象，進(jìn)一步提高效率。定期的維護(hù)和保養(yǎng)也是提高減壓器工作效率的重要因素。通過及時(shí)清理減壓器內(nèi)部的沉積物、更換磨損部件，可以有效防止效率下降。 減壓器的外特性和效率在工業(yè)生產(chǎn)中具有舉足輕重的作用。要保證減壓器的良好運(yùn)行狀態(tài)，除了合理設(shè)計(jì)和選材外，操作和維護(hù)的規(guī)范性也同樣重要。通過對(duì)減壓器外特性及效率的深入了解，可以為相關(guān)行業(yè)提供更加高效、節(jié)能的解決方案，提高生產(chǎn)效益和設(shè)備的使用壽命，推動(dòng)工業(yè)自動(dòng)化和能源管理領(lǐng)域的發(fā)展。
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- 2022-11-25 13:34:50天美講堂丨測試時(shí)間分辨光致發(fā)光光譜時(shí)激光光源的選擇
- 隨著光致發(fā)光(PL)研究的發(fā)展，對(duì)測量微弱的光致發(fā)光信號(hào)的高靈敏度儀器的需求日益增長。除了具有良好雜散光抑 制能力的光子計(jì)數(shù)探測器和單色器外，激發(fā)樣品的光源也是測試時(shí)需要考慮的關(guān)鍵因素。皮秒脈沖二極管激光器和亞納秒LED是時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)(TCSPC)的傳統(tǒng)脈沖光源，該技術(shù)用于測量ps-μs范圍內(nèi)的PL衰減光譜。愛丁堡儀器公司的時(shí)間分辨PL光譜儀可以配備各種類型的脈沖激光器和LED，能夠在TCSPC和多通道掃描(MCS)模式下工作，如EPL/EPLED, VPL/VPLED和HPL系列。Fig. 1 EPL-375, VPL-635, and HPL-785 sources from Edinburgh Instruments.EPL&EPLED -皮秒脈沖激光器&LEDsEPL及被廣泛應(yīng)用于時(shí)間分辨PL光譜，可提供高達(dá)20 MHz的重復(fù)頻率和典型的脈沖寬度~100 ps，波長從375 nm到980nm。EPLED系列脈沖二極管相比于EPL具有較長的脈沖寬度(典型＜1000 ps)，但EPLED系列能夠覆蓋的紫外波長低至250 nm。EPLs和EPLEDs可以在TCSPC及MCS雙模式下進(jìn)行工作。在TCSPC模式下工作，可測試發(fā)光壽命的范圍為10 ps-50 us，在MCS模式下工作，發(fā)光壽命為10ns-400 ms。廣泛通用于大多數(shù)時(shí)間分辨的光致發(fā)光實(shí)驗(yàn)測試，EPL和EPLED光源的組合可以滿足大多數(shù)的研究需求。HPL -高功率和高重復(fù)率皮秒脈沖激光器HPL是高功率和高重復(fù)率皮秒脈沖激光器。可以在高達(dá)80MHz的重復(fù)頻率下工作，并提供兩種操作模式:標(biāo)準(zhǔn)及高功率模式。在高功率模式下，HPL激光器產(chǎn)生的脈沖強(qiáng)度能夠提高50倍之多。這對(duì)于低光致發(fā)光量子產(chǎn)率(PLQY)和壽命長于幾納秒的樣品十分重要。與EPL的EPLED源類似，HPL可以同時(shí)用于TCSPC和MCS模式。VPL&VPLED – 脈寬可調(diào)激光器&LEDsVPL和VPLED光源被設(shè)計(jì)成在MCS模式下工作，是PL衰變壽命從~100 ns到秒的理想選擇。它們的輸出是一個(gè)正方形脈沖，其長度由激光源上的脈寬刻度盤控制，范圍從100 ns到1 ms，可選擇連續(xù)(CW)出光模式。不僅可以作為磷光壽命測試的激發(fā)光源，還可以用于連續(xù)波模式下穩(wěn)態(tài)光致發(fā)光光譜的激發(fā)光源。測試實(shí)例激發(fā)源的選擇取決于樣品的衰減特性。使用各種愛丁堡儀器脈沖源的熱門研究領(lǐng)域的例子如下所示。實(shí)例1：鈣鈦礦樣品的時(shí)間分辨光譜鹵化物鈣鈦礦是近年來備受關(guān)注的一種新型太陽能電池材料。在鈣鈦礦太陽能電池中，光吸收產(chǎn)生載流子，然后向電極擴(kuò)散。優(yōu)化電池的效率涉及到最小化載流子重組，因此需要表征鈣鈦礦材料的發(fā)光壽命。測量鈣鈦礦的PL壽命具有挑戰(zhàn)性。光致發(fā)光衰減是由短壽命(ns)組分和長(μs)壽命組分。因此在TCSPC模式下進(jìn)行測量，以更好地解析快速組分。同時(shí)使用較低的激光重復(fù)頻率來獲取衰減的整個(gè)尾部。TCSPC和低重復(fù)率的結(jié)合導(dǎo)致相對(duì)較慢的數(shù)據(jù)采集。此外，部分鈣鈦礦樣品還可能發(fā)生降解。因此選擇高功率激發(fā)源可以大大縮短鈣鈦礦樣品在TCSPC中的采集時(shí)間。下面的例子(圖2)顯示了高功率HPL激光器如何優(yōu)于相同波長的EPL光源:在相同條件下，HPL激光器的捕獲時(shí)間大約短20倍。Fig.2 TCSPC decays of a perovskite sample acquired in an FLS1000 spectrometer with (a) EPL-405 laser or (b) HPL-405 laser for excitation: experimental decay (red), Instrument Response Function (blue), and fit result (black). All other measurement conditions were identical. Fitted average lifetime tave and acquisition time tacq indicated in the graph.實(shí)例2：近紅外成像探針的光致發(fā)光壽命生物成像實(shí)驗(yàn)通常包括熒光探針，標(biāo)記樣品，并在顯微鏡下觀察。生物成像探針典型理想特性是生物相容性，易于功能化，穩(wěn)定性高等。量子點(diǎn)是目前最有前途的成像探針材料之一，它們尺寸大小和組成可以調(diào)控，以微調(diào)其化學(xué)性質(zhì)和激發(fā)/發(fā)射范圍。Ag2S量子點(diǎn)的發(fā)射光譜在近紅外范圍內(nèi)，適合于生物成像實(shí)驗(yàn)。這些樣品通常是分散在低濃度的懸浮液中，因此它們的光致發(fā)光信號(hào)相對(duì)較低。此外，光子計(jì)數(shù)近紅外探測器的靈敏度低于可見光探測器。因此建議使用HPL激光器而不是EPL進(jìn)行測試。圖3顯示了在1170 nm處Ag2S量子點(diǎn)在甲苯中的TCSPC衰減。樣品的亮度較低，用EPL二極管激光器測量需要1小時(shí)，相比之下，用HPL-670光源可以在20分鐘內(nèi)獲得衰減。Fig.3 TCSPC decay (red) and exponential fit result (black) for Ag2S quantum dots in toluene, excited with an HPL-670 operating in high power mode at 1 kHz repetition rate in an FLS1000 spectrometer. The fitted average lifetime tacq is shown in the graph.實(shí)例3：單線態(tài)氧的光致發(fā)光壽命單重態(tài)分子氧(1O2)具有多種實(shí)際用途，包括光動(dòng)力治 療和合成有機(jī)化學(xué)。一種廣泛的檢測1O2的方法是測量它在1270 nm處的發(fā)光。然而，單線態(tài)氧磷光信號(hào)很弱，在低濃度下很難測量。除了使用高靈敏度的近紅外探測器外，強(qiáng)大的激光光源也十分重要。1O2的光致發(fā)光發(fā)生在微秒尺度，因此可以通過使用VPL激光器的MCS測量激發(fā)。圖4顯示了一個(gè)典型的例子，用VPL-445激光器在甲苯中激發(fā)四苯基卟啉(H2TPP)光敏劑溶液。激光激發(fā)的H2TPP將能量轉(zhuǎn)移到溶液中的氧分子，產(chǎn)生1O2，然后緩慢衰變到基態(tài)發(fā)光。在圖4中， VPL源的脈寬為50 us時(shí)，發(fā)光信號(hào)上升，在激光脈沖關(guān)閉時(shí)，在接下來的100 us時(shí)，發(fā)光信號(hào)衰減。Fig.4 MCS decay (red) and 1270nm exponential Fit Result (black) for a solution of H2TTP in toluene excited with a VPL445 in an FLS1000spectrometer. The VPL source operated produced 50 us pulses at 5 kHz repetition rate. The fit tave lifetime is shown in the graph.實(shí)例4：近紅外探針的光致發(fā)光光譜VPL和 VPLED源是為時(shí)間分辨光譜瞬態(tài)測試而設(shè)計(jì)。但它們同時(shí)也可以在連續(xù)波CW模式下獲取樣品的PL發(fā)射光譜。對(duì)于這類型的實(shí)驗(yàn)，最常見的配置是將氙燈耦合到激發(fā)單色器，但如果激發(fā)波長不需要調(diào)諧，也可以考慮直接使用VPL激光器。根據(jù)所使用的波長和帶寬，VPL可以比Xe燈更強(qiáng)。如圖5所示，分別使用150 W Xe燈、VPL-635（CW模式）和HPL-670作為激發(fā)光源的FS5熒光光譜儀中獲得的Ag2S量子點(diǎn)的PL發(fā)射光譜。Fig. 5 Photoluminescence emission spectra from Ag2S quantum dots in toluene acquired in FS5 Spectrofluorometer with Xe lamp, VPL-635 and HPL-670 for excitation. An excitation bandwidth of 10 nm was employed for the Xe lamp spectrum. The VPL-635 data were acquired with the laser operating in CW mode, and the HPL-670 data with the laser running at 80 MHz in high power mode. All other measurement conditions were identical between curves. 結(jié)論光致發(fā)光測試光源的選擇取決于要研究的樣品類型、可用的檢測儀器和用戶對(duì)采集速度的需求。愛丁堡儀器提供多種脈沖源，廣泛的靈活性，以滿足其特定的需求，能夠?qū)崿F(xiàn)優(yōu)化脈沖寬度和能量，并減少采集時(shí)間，快速提高測試效率。
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