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2025-01-10 17:05:07太陽能轉(zhuǎn)換器件: 太陽能轉(zhuǎn)換器件是一種能將太陽能轉(zhuǎn)化為其他形式能量的裝置。它通常利用光伏效應(yīng)或光熱效應(yīng)，將太陽光直接轉(zhuǎn)換為電能或熱能。光伏器件，如太陽能電池板，通過半導(dǎo)體材料吸收光子產(chǎn)生電流；而光熱轉(zhuǎn)換器件則利用吸熱材料收集太陽輻射熱能，用于供暖、熱水等領(lǐng)域。太陽能轉(zhuǎn)換器件具有環(huán)保、可再生、安裝靈活等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于家庭、工業(yè)及公共設(shè)施中，是實(shí)現(xiàn)能源可持續(xù)發(fā)展的重要技術(shù)之一。

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太陽能轉(zhuǎn)換器件資訊

新加坡國(guó)立大學(xué)合成新型近紅外發(fā)光量子點(diǎn)，光致發(fā)光量子效率可達(dá)25%|國(guó)際用戶簡(jiǎn)訊

斯托克斯位移是指熒光光譜較相應(yīng)的吸收光譜紅移（斯托克斯位移=發(fā)射波長(zhǎng)-吸收波長(zhǎng)）。斯托克斯位移越大，熒光太陽能光電轉(zhuǎn)換效率越高。

HORIBA（中國(guó)） 469
2022-07-19
太陽能轉(zhuǎn)換器件熒光光譜

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太陽能轉(zhuǎn)換器件問答

2023-04-06 14:12:45太陽能供電的GNSS位移監(jiān)測(cè)站: 近日，山東天合環(huán)境有限公司在高新區(qū)光電產(chǎn)業(yè)園舉行了裂縫位移監(jiān)測(cè)站的技術(shù)交流會(huì)，眾多業(yè)內(nèi)人士和客戶朋友到達(dá)了現(xiàn)場(chǎng)，對(duì)我們的產(chǎn)品贊不絕口?！　?huì)上，天合環(huán)境科技有限公司于經(jīng)理介紹說“GNSS監(jiān)測(cè)系統(tǒng)基于空間位置已知的衛(wèi)星定位系統(tǒng)、采用空間后方交會(huì)基本原理，實(shí)現(xiàn)地面用戶終端設(shè)備的定位?，F(xiàn)場(chǎng)部署的接收機(jī)終端，按照既定采集、傳輸頻率將觀測(cè)數(shù)據(jù)遠(yuǎn)程無線傳輸至監(jiān)測(cè)中心(一般為云端接收存儲(chǔ))，監(jiān)測(cè)中心對(duì)觀測(cè)數(shù)據(jù)即時(shí)分析處理，供相關(guān)技術(shù)、管理部門使用。"

2023-02-01 14:56:12蔡司激光共聚焦顯微鏡-微納器件的表征分析: 對(duì)微納器件進(jìn)行表征時(shí)，常關(guān)注的便是器件的表面形貌和三維尺寸信息，比如粗糙度、深度、體積等，這些都是評(píng)價(jià)微納加工工藝的重要指標(biāo)。然而，在進(jìn)行表面三維的分析工作中，我們可能常遇到這樣的苦惱：　　光學(xué)明場(chǎng)無法直接定位到亞微米級(jí)缺陷結(jié)構(gòu)!　　樣品結(jié)構(gòu)太復(fù)雜，微弱信號(hào)無法捕獲，難以準(zhǔn)確測(cè)量尺度信息!　　三維接觸式測(cè)量經(jīng)常會(huì)損傷柔軟樣品，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確!　　今天，友碩小編將從下面幾個(gè)角度來看看蔡司激光共聚焦顯微鏡如何幫助你更好地解決這些問題。　　失效分析：多尺度多維度原位分析!　　器件表面往往存在一些特殊的結(jié)構(gòu)或缺陷，比如亞微米尺度的劃痕，這些特征難以在光學(xué)明場(chǎng)下被直接觀察到。C-DIC(圓微分干涉)觀察模式可以讓樣品表面亞微米尺度的微小起伏都可以呈現(xiàn)出浮雕效果，幫助我們快速定位并開展下一步的分析工作。　　▲ 不同觀察方式下晶圓表面缺陷　　在定位到感興趣區(qū)域后，可以直接切換到共聚焦模式，進(jìn)行表面三維形貌掃描，并進(jìn)行尺寸測(cè)量及分析，無需轉(zhuǎn)移樣品即可完成樣品多尺度多維度的表征?！　　簿劢谷S圖像及深度測(cè)量　　對(duì)于某些樣品，暗場(chǎng)和熒光模式也是一種很好定位方法，表面起伏的結(jié)構(gòu)在暗場(chǎng)下尤其明顯，如藍(lán)寶石這類能發(fā)熒光的晶圓，利用熒光成像也能幫助我們快速地定位到失效結(jié)構(gòu)。甚至，共聚焦還可以和電鏡或者雙束電鏡(FIB)(點(diǎn)擊查看)實(shí)現(xiàn)原位關(guān)聯(lián)，在共聚焦顯微鏡下進(jìn)行定位后轉(zhuǎn)移樣品到電鏡下進(jìn)行更高分辨的表征分析?！　∩罟杩涛g：結(jié)構(gòu)深，信號(hào)弱，蔡司激光共聚焦顯微鏡有辦法!　　深硅刻蝕的樣品通常為窄而深的溝壑結(jié)構(gòu)。接觸式測(cè)量(如臺(tái)階儀)無法接觸到溝壑底部測(cè)得信息，而由于結(jié)構(gòu)特殊造成了反射光信號(hào)損失，常規(guī)白光干涉或者顯微明場(chǎng)無法捕獲底面的微弱信號(hào)。因此，不得不對(duì)樣品進(jìn)行裂片分析，這不僅破壞了樣品，而且還使分析流程復(fù)雜化?！　∥骱髮W(xué)張先鋒老師用蔡司激光共聚焦顯微鏡對(duì)深163.905 μm，寬3.734μm的刻蝕坑進(jìn)行成像，高靈敏探測(cè)器、大功率激光及Z Brightness Correction技術(shù)可以幫助成功檢測(cè)到底部的微弱信號(hào)，完成大深寬比(近50：1)樣品的三維形貌表征與測(cè)量，輕松實(shí)現(xiàn)無損檢測(cè)分析。

2022-12-05 13:11:13TOF-SIMS在光電器件研究中的應(yīng)用系列之三: 一、引言光伏發(fā)電新能源技術(shù)對(duì)于實(shí)現(xiàn)碳中和目標(biāo)具有重要意義。近年來，基于有機(jī)-無機(jī)雜化鈣鈦礦的光電太陽能電池器件取得了飛速的發(fā)展，目前報(bào)道的最高光電轉(zhuǎn)化效率已接近26%。鹵化物鈣鈦礦材料具有無限的組分調(diào)整空間，因此表現(xiàn)出優(yōu)異的可調(diào)控的光電性質(zhì)。然而，由于多組分的引入，鈣鈦礦材料生長(zhǎng)過程中會(huì)出現(xiàn)多相競(jìng)爭(zhēng)問題，導(dǎo)致薄膜初始組分分布不均一，這嚴(yán)重降低了器件效率和壽命。圖1. 鈣鈦礦晶體結(jié)構(gòu)二、TOF-SIMS應(yīng)用成果由于目前用于高性能太陽能電池的混合鹵化物過氧化物中的陽離子和陰離子的混合物經(jīng)常發(fā)生元素和相分離，這限制了器件的壽命。對(duì)此，北京理工大學(xué)材料學(xué)院陳棋教授等人研究了二元（陽離子）系統(tǒng)鈣鈦礦薄膜(FA1-xCsxPbI3，F(xiàn)A：甲酰胺)，揭示了鈣鈦礦薄膜材料初始均一性對(duì)薄膜及器件穩(wěn)定性的影響。研究發(fā)現(xiàn)，薄膜在納米尺度的不均一位點(diǎn)會(huì)在外界刺激下快速發(fā)展，導(dǎo)致更為嚴(yán)重的組分分布差異化（如圖2所示），最終形成熱力學(xué)穩(wěn)定的物相分離，并貫穿整個(gè)鈣鈦礦薄膜，造成材料退化和器件失活。該研究成果以題為“Initializing Film Homogeneity to Retard Phase Segregation for Stable Perovskite Solar Cells”發(fā)表在Science期刊。[1]圖2. 二元 FAC 鈣鈦礦的降解機(jī)制。（A-H）鈣鈦礦薄膜的組分初始分布和在外界刺激下的演變行為。（I-N）熱力學(xué)驅(qū)動(dòng)下，鈣鈦礦薄膜的物相分離現(xiàn)象的TOF-SIMS表征TOF-SIMS作為重要的表面分析方法，具有高檢測(cè)靈敏度（ppm-ppb）、高質(zhì)量分辨率(M/DM>16000)和高空間分辨率(16000)和高空間分辨率(

2022-12-05 13:08:46TOF-SIMS在光電器件研究中的應(yīng)用系列之二: PART 01 引言有機(jī)發(fā)光二極管（Organic Light-Emitting Diode，OLED）是基于多層有機(jī)薄膜結(jié)構(gòu)的電致發(fā)光的器件，用作平面顯示器時(shí)具有輕薄、柔性、響應(yīng)快、高對(duì)比度和低能耗等優(yōu)點(diǎn)，有望成為新一代主流顯示技術(shù)。然而，高效率和長(zhǎng)壽命依然是阻礙OLED發(fā)展的重要因素，因?yàn)橛袡C(jī)材料易降解和器件界面結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定從而導(dǎo)致OLED器件失效。在此背景下，迫切需要了解器件的退化機(jī)制，從而在合理設(shè)計(jì)和改進(jìn)材料組合以及器件結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，找到提高器件壽命的有效策略。圖1. 基于OLED柔性顯示器件 PART 02 TOF-SIMS表面分析方法研究有機(jī)/無機(jī)混合OLED器件的界面效應(yīng)是提高其性能和運(yùn)行穩(wěn)定性的關(guān)鍵步驟。在眾多分析方法中，飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer，TOF-SIMS）是表征有機(jī)層及其內(nèi)部缺陷的有效分析工具。TOF-SIMS是由一次脈沖離子束轟擊樣品表面所產(chǎn)生的二次離子，經(jīng)飛行時(shí)間質(zhì)量分析器分析二次離子到達(dá)探測(cè)器的時(shí)間，從而得知樣品表面成份的分析技術(shù)，具有以下檢測(cè)優(yōu)勢(shì)：（1）兼具高檢測(cè)靈敏度（ppmm-ppb）、高質(zhì)量分辨率(M/DM>16000)和高空間分辨率(