在 PCI Express （PCIe） 系統(tǒng)的上電序列期間，參考時(shí)鐘 （REFCLK） 和邊帶信號(hào)可能沒(méi)有達(dá)到其所需的穩(wěn)定性或作容差。

本試驗(yàn)利用高低溫試驗(yàn)測(cè)試箱對(duì) 5G 通訊芯片進(jìn)行性能測(cè)試。設(shè)置不同的溫度（ - 40°C - 100°C）和駐留時(shí)間（1 - 8 小時(shí)）條件，對(duì)芯片樣品進(jìn)行高低溫循環(huán)試驗(yàn)。