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掃描或掃描透射式電子顯微鏡(SEM 或 STEM)中的陰極發(fā)光是一種獨(dú)特的工具, 可描繪材料的成分以及光學(xué)和電子特性,然后將其與微納米或亞納米級的形態(tài)顯微結(jié) 構(gòu)成分和化學(xué)特性相關(guān)聯(lián) Gatan Mono CL4 高分辨成像與光譜分析陰極發(fā)光成像系統(tǒng) Gatan 寬束氬離子拋光系統(tǒng) 697 Ilion II 蔡司SIGMA 300場發(fā)射掃描電鏡

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