摘要：目前，掃描電子顯微鏡（ＳＥＭ）電子探針（ＥＰＭＡ）Ｘ射線衍射分析儀（ＸＲＤ）電感耦合等離子體質(zhì)譜（ＩＣＰ－ＭＳ）Ｘ射線熒光光譜（ＸＲＦ）等技術(shù)都已運(yùn)用于鋁土礦的礦物分析及化學(xué)成分測定這些現(xiàn)代分析方法的使用為鋁土礦的地質(zhì)研究提供了更準(zhǔn)確和快速的技術(shù)支持本文較詳細(xì)歸納總結(jié)了鋁土礦分析技術(shù)以及其在地質(zhì)研究中的運(yùn)用進(jìn)展 AMCS-Mining自動礦物分析系統(tǒng) 蔡司GeminiSEM 300/VP超高分辨率場發(fā)射掃描電鏡 鎢燈絲系列掃描電鏡 EVO MA 10/LS 10 鎢燈絲系列掃描電鏡 EVO MA 15/LS 15 蔡司（ZEISS） EVO 18鎢燈絲系列掃描電鏡