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關(guān)鍵詞：顆粒計(jì)數(shù)；儀器校準(zhǔn)；標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)；ISO11171；NIST溯源

GB/T 18854-2015液體自動顆粒計(jì)數(shù)器校準(zhǔn)介紹分為兩篇文章，本篇是對該標(biāo)準(zhǔn)（GB/T 18854-2015液壓傳動－液體自動顆粒計(jì)數(shù)器的校準(zhǔn)）中的材料與設(shè)備準(zhǔn)備以及校準(zhǔn)流程進(jìn)行了介紹。

材料和設(shè)備的準(zhǔn)備

聚苯乙烯乳膠球

聚苯乙烯乳膠球，近似單分散，懸浮于水溶液中。測定分辨力時(shí)，應(yīng)采用的標(biāo)稱直徑為10μm的標(biāo)粒；尺寸校準(zhǔn)時(shí)，如果需要校準(zhǔn)的顆粒尺寸大于或等于50μm，則應(yīng)采用其他大于50μm的標(biāo)稱直徑。在特定情況下，也可以使用其他尺寸的聚苯乙烯乳膠球，但不管采用哪種尺寸，其尺寸的變異系數(shù)都應(yīng)小于5%，供應(yīng)商應(yīng)提供每批聚苯乙烯乳膠球的分析證書，并指明其顆粒尺寸是采用可溯源到國家或國際標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)測量的。

聚苯乙烯乳膠球懸浮液一旦被打開，應(yīng)在3個(gè)月內(nèi)使用，除非其尺寸分布和懸浮液的清潔度被證實(shí)沒有改變。在水懸浮液中的聚苯乙烯乳膠球具有一定的保質(zhì)期，它的貯存期限隨溫度和懸浮液中微生物污染等因素的變化而變化。

Applied Microspheres 標(biāo)粒

清潔稀釋液

清潔稀釋液，由GB/T18853使用的試驗(yàn)液和抗靜電添加劑組成，室溫下其電導(dǎo)率應(yīng)為（2500±1000）ps/m；且其所含的顆粒數(shù)量濃度應(yīng)少于校準(zhǔn)中所測Z 小顆粒尺寸顆粒數(shù)量濃度的0.5%。

清潔氣溶膠OT稀釋液

清潔氣溶膠OT稀釋液，用于測定傳感器的分辨力（4.2中規(guī)定的清潔稀釋液適用于本標(biāo)準(zhǔn)的其他各部分）。

其濃縮液的制備方法是：在每升清潔稀釋液中加入120 g氣溶膠OT，然后加熱至60 ℃并攪拌，直至氣溶膠OT全部溶解。將已準(zhǔn)備好的氣溶膠OT濃縮液用清潔稀釋液稀釋，直至Z 終氣溶膠OT的濃度為12 g/L。

清潔氣溶膠OT稀釋液的清潔度應(yīng)與4.2 規(guī)定的稀釋液清潔度相同。(氣溶膠OT為二辛基磺酸鈉鹽是一種蠟狀吸水性固體。如果在使用前出現(xiàn)潮濕或吸收了水分，則應(yīng)在 150 ℃溫度下將其至少干燥 18 h。)

NIST一級校準(zhǔn)懸浮液樣SRM 2806x

NIST一級校準(zhǔn)懸浮液樣SRM 2806x.其中字母x是NIST用于標(biāo)識其一級校準(zhǔn)懸浮液樣的批號。一級校準(zhǔn)應(yīng)使用 SRM 2806。

NIST標(biāo)準(zhǔn)粉末RM 8631

NIST標(biāo)準(zhǔn)粉末RM 8631，用于二級校準(zhǔn)。使用前應(yīng)在110 ℃～150 ℃溫度下至少干燥18 h。

ISO中級試驗(yàn)粉末MTD

ISO中級試驗(yàn)粉末MTD 與 GB/T 28957.1一致，使用前應(yīng)在 110 ℃～150 ℃溫度下至少干燥18 h。

注∶在2.4、2.5、2.6和2.7中規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)均基于現(xiàn)行文件，當(dāng)新批次生產(chǎn)時(shí)可能有變化。建議本標(biāo)準(zhǔn)的使用者確保采用Z新批次的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。

液體自動顆粒計(jì)數(shù)器

液體自動顆粒計(jì)數(shù)器，具有瓶取樣器。

清潔取樣容器和玻璃量器

清潔取樣容器（帶有密封蓋，例如，合適的瓶蓋）和玻璃量器（優(yōu)于JJG 196—2006 規(guī)定的 B級）。

其中取樣容器、密封蓋以及玻璃量器中的顆粒數(shù)量，均應(yīng)小于所測液樣顆粒數(shù)量（大于規(guī)定的Z小顆粒尺寸）的0.5%，其整體清潔度應(yīng)滿足GB/T 17484的規(guī)定。

機(jī)械振蕩器

機(jī)械振蕩器，適用于所分散的懸浮液，例如，涂料振蕩器或?qū)嶒?yàn)室振蕩器。

超聲波清洗器

超聲波清洗器，其底部面積的功率密度為3000 W/m2～10000 W/m2。

線性繪圖紙或計(jì)算機(jī)繪圖軟件。

雙對數(shù)繪圖紙或計(jì)算機(jī)繪圖軟件。

分析天平或電子天平

分析天平或電子天平，其性能應(yīng)滿足Z 低指標(biāo)∶

a）讀數(shù)精度∶0.05 mg;

b）準(zhǔn)確度（與真實(shí)質(zhì)量的一致性）;±0.05mg;

c）精度（重復(fù)性）∶0.05 mg;

d）帶有前門或側(cè)門以及頂蓋，可消除氣流的影響。

校準(zhǔn)流程

圖1和表1規(guī)定的程序和附錄的流程僅為推薦的程序，只要完成所有需要的校準(zhǔn)，操作者也可以按不同的順序執(zhí)行。

注1∶自動顆粒計(jì)數(shù)器在交付前，附錄 A、附錄B、附錄C和附錄D既可以由獨(dú)立的實(shí)驗(yàn)室完成.也可以由供應(yīng)商完成。

表1 自動顆粒計(jì)數(shù)器校準(zhǔn)程序一覽表