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掃描開爾文探針
掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢,表面功函。由材料表面zui頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界zui高分辨率的測試系統(tǒng)。
超高真空開爾文探針
UHV-KP020 是超高真空室的一個(gè)wan美補(bǔ)充工具,可靠的和可重復(fù)的可輕松獲得,包括高質(zhì)量的線性解碼器,使得探針和樣品的定位變得簡單, 無與倫比的跟蹤系統(tǒng)在測試過程中始終將探針和樣品恒定的分開。對于薄膜研究,亞單層范圍檢測是很平常的;也可選購SPV020或SPS030表面光電壓模塊用于光敏材料研究。
氣氛可控開爾文探針
RHC020 氣氛控制掃描開爾文探針是控制氣氛檢測樣品的理想解決方案,50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至100℃,采用先進(jìn)的電子和硬件系統(tǒng)即時(shí)監(jiān)測控制溫度和濕度變化,附加表面光伏SPV020及表面光電壓譜SPS030模塊,可對光敏感樣品進(jìn)行強(qiáng)度或波長可變的激發(fā)。
單點(diǎn)開爾文探針
單點(diǎn)開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢,表面功函。
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開爾文探針掃描系統(tǒng)
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