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儀器網(wǎng)>產(chǎn)品中心>物性測(cè)試儀器>表界面物性測(cè)試>納米壓痕儀/納米劃痕儀 更新時(shí)間:2026-04-15 16:21:30

納米壓痕儀/納米劃痕儀

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    Alemnis電鏡專用原位納米壓痕儀

    瑞士nanosurf ASA 歐洲 瑞士
    北京億誠(chéng)恒達(dá)科技有限公司
    瑞士Alemnis公司的原位納米壓痕儀適用于掃描電子顯微鏡(SEM)的原位測(cè)量,也可用于同步輻射裝置和光學(xué)顯微鏡的常規(guī)環(huán)境中使用。
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    布魯克 Hysitron TI 980 納米壓痕儀

    德國(guó)布魯克 Hysitron TI 980 歐洲 德國(guó)
    束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司
    布魯克的 Hysitron TI 980 TriboIndenter 同時(shí)具有頂點(diǎn)性能、靈活性、可靠性、可用性和速度。這臺(tái)行業(yè)超過(guò)的系統(tǒng)以數(shù)十年的 Hysitron 技術(shù)創(chuàng)新為基礎(chǔ),在納米力學(xué)特性測(cè)試方面提供更高水平的非凡性能、增強(qiáng)的功能和至極的多功能性。Hysitron TI 980 納米壓痕儀是一臺(tái)杰出的納米力學(xué)測(cè)試儀器,在準(zhǔn)確控制、測(cè)試帶寬、測(cè)試靈活性、適用性、測(cè)量可靠性和系統(tǒng)模塊化方面都取得了明顯進(jìn)步。
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    iNano納米壓痕儀

    美國(guó)Nanomechanics iNano 美洲 美國(guó)
    天津市奧辛博科技有限責(zé)任公司
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    納米壓痕儀

    美國(guó)是德科技 Nano Indenter G200 美洲 美國(guó)
    天津市奧辛博科技有限責(zé)任公司
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    Bruker納米壓痕儀Hysitron PI 89

    德國(guó)布魯克 Hysitron PI 89 歐洲 德國(guó)
    瑞科和利(北京)科技有限公司
    Bruker納米壓痕儀Hysitron PI 89利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIB/SEM)的卓越成像能力,可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測(cè)試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker的電容傳感技術(shù),繼承了引領(lǐng)市場(chǎng)的一批商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺(tái)的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動(dòng)態(tài)測(cè)試和力學(xué)性能成像等功能。
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    KLA 納米壓痕儀 NanoFlip

    美國(guó)KLA NanoFlip 美洲 美國(guó)
    北京中海遠(yuǎn)創(chuàng)材料科技有限公司
    可在常溫下進(jìn)行各種原位力學(xué)的壓縮和拉伸實(shí)驗(yàn),與 SEM/FIB/EDS / EBSD 等完美結(jié)合! KLA InSEM 系列可以和全球各個(gè)SEM和FIB廠商的主流型號(hào)聯(lián)合工作,包括FEI、Jeol、Tescan、Zeiss 等等。 KLA 公司全系列的力學(xué)測(cè)試產(chǎn)品均采用電磁驅(qū)動(dòng)原理的加載力激發(fā)器。對(duì)納米壓痕物理模型和Z優(yōu)線性特性的電磁力驅(qū)動(dòng)原理的深刻理解,以及高靈敏度的三片式電容傳感器的設(shè)計(jì),保證全系列納米力學(xué)產(chǎn)品在整個(gè)量程范圍內(nèi)均能得到高精準(zhǔn)、高分辨的控制。KLA InSEM 系列:先進(jìn)的激發(fā)器的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),完全實(shí)現(xiàn)載荷和位移的分別控制和探測(cè),完美實(shí)現(xiàn)納米壓痕檢測(cè),包括動(dòng)態(tài)力學(xué)測(cè)試、軟材料測(cè)試、及薄膜測(cè)試等等。 InForce50 載荷激發(fā)器 載荷激發(fā)器 ? Z大加載載荷: 50mN ? 縱向載荷分辨率: 3nN ? 壓頭Z大移動(dòng)范圍:45um ? 位移噪音背景: <0.01nm ? 位移數(shù)字分辨率: <0.002nm InForce1000 載荷激發(fā)器 載荷激發(fā)器 ? Z大加載載荷: 1000mN ? 縱向載荷分辨率: 6nN ? 壓頭Z大移動(dòng)范圍:80um ? 噪音背景: <0.1nm ? 位移數(shù)字分辨率: <0.004nm NanoFlip 的樣品臺(tái)處于“Up”狀態(tài)時(shí),SEM/FIB 可以方便的觀察樣品和進(jìn)行微區(qū)定位,當(dāng) 樣品臺(tái)處于“Down”狀態(tài)時(shí),SEM/FIB 又可以對(duì)整個(gè)力學(xué)實(shí)驗(yàn)過(guò)程進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察并進(jìn)行實(shí) 時(shí)的視頻捕捉
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    KLA 納米壓痕儀 G200X

    美國(guó)KLA G200X 美洲 美國(guó)
    北京中海遠(yuǎn)創(chuàng)材料科技有限公司
    所有的納米壓痕試驗(yàn)都取決于精確的載荷和位移數(shù)據(jù),科磊公司Z新的第六代G200X型納米壓痕儀采用線性度極好的電磁驅(qū)動(dòng)的載荷裝置和相互獨(dú)立的三片電容位移傳感器,從而保證 測(cè)量的精確度,獨(dú)特的設(shè)計(jì)避免了橫向位移的影響。 科磊公司Z新的第六代G200X型納米壓痕儀的杰出設(shè)計(jì)帶來(lái)很多的便利性,包括方便的測(cè)試到整個(gè)樣品臺(tái),精確的樣品定位,方便的確定樣品位置和測(cè)試區(qū)域,簡(jiǎn)便的樣品高度調(diào)整,以及快速的測(cè)試報(bào)告輸出。模塊化的控制器設(shè)計(jì)為今后的升級(jí)和維護(hù)帶來(lái)極大的方便。此外,Z新的第六代G200X型納米壓痕儀完全符合各種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),保證了數(shù)據(jù)的完整性和可比性??蛻艨梢酝ㄟ^(guò)每個(gè)力學(xué)傳感器自主設(shè)計(jì)試驗(yàn),在任何時(shí)候?qū)ζ溥M(jìn)行切換,同時(shí)整個(gè)設(shè)備占地面積小,適合各種實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。
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    美國(guó)KLA G200納米壓痕儀

    美國(guó)KLA G200 美洲 美國(guó)
    倬昊納米科技(上海)中心
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    美國(guó)Nanovea微納米劃痕儀

    美國(guó)Nanovea CB500 美洲 美國(guó)
    倬昊納米科技(上海)中心
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    納米壓痕儀 Hysitron TI 990 TriboIndenter

    德國(guó)布魯克 Hysitron TI 990 TriboIndenter 歐洲 德國(guó)
    瑞科和利(北京)科技有限公司
    納米壓痕儀 Hysitron TI 990 TriboIndenter平臺(tái)的全面改進(jìn),其測(cè)量和分析過(guò)程的各個(gè)方面都采用了旨在消除納米壓痕儀系統(tǒng)常見(jiàn)限制的更新技術(shù)。因此,該系統(tǒng)具有更多的可用測(cè)量模式 ,并在廣泛的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中提供高精度測(cè)量。 Hysitron TI 990 TriboIndenter 在控制和測(cè)試帶寬、測(cè)試靈活性、適用性、測(cè)量可靠性和系統(tǒng)模塊化方面取得了顯著進(jìn)步,從而實(shí)現(xiàn)了比以前更多、更好的研究。
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    生物型納米壓痕儀 Hysitron BioSoft

    德國(guó)布魯克 Hysitron BioSoft 歐洲 德國(guó)
    廣州淘儀科技有限公司
    Hysitron BioSoft生物型納米壓痕儀定量力學(xué)性能測(cè)量,提供獨(dú)特的力靈敏度和位移范圍組合,專門設(shè)計(jì)用于測(cè)量從亞細(xì)胞到組織水平的生物樣品。 Hysitron BioSoft生物型納米壓痕儀Z大化測(cè)試靈活性,輕松與倒置顯微鏡集成,以表征各種生物材料。 先進(jìn)生物力學(xué)控制模塊,在單個(gè)測(cè)試中實(shí)現(xiàn)不同控制,包括載荷、位移和開(kāi)環(huán)控制。
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    納米壓痕儀 Hysitron IntraSpect 90

    德國(guó)布魯克 Hysitron IntraSpect 90 歐洲 德國(guó)
    廣州淘儀科技有限公司
    定量納米尺度到微米尺度力學(xué)測(cè)試,提供高達(dá) 500 mN 的載荷和 150 μm 的位移,具有無(wú)與倫比的噪音水平。 Hysitron IntraSpect 90納米壓痕儀具有高剛性框架的設(shè)計(jì),輕松安裝在現(xiàn)有光學(xué)或拉曼顯微鏡平臺(tái)上。 Hysitron IntraSpect 90納米壓痕儀獨(dú)特PTP (壓轉(zhuǎn)拉)樣品安裝,允許通過(guò)同步的 Raman 光譜成像對(duì)光纖、電線和其他樣品進(jìn)行單軸拉伸測(cè)試。
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    納米壓痕儀 iNano?

    科磊 iNano 美洲 美國(guó)
    深圳市今浩儀器設(shè)備有限公司
    iNano?納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。 該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。 該儀器的力荷載和位移測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍很大,因而可以實(shí)現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料的精確和可重復(fù)測(cè)試。 模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用:材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試、刮擦和磨損以及高溫測(cè)試。 iNano提供了一整套測(cè)試擴(kuò)展選項(xiàng),包括樣品加熱、連續(xù)剛度測(cè)量、NanoBlitz3D/4D屬性映射和遠(yuǎn)程視頻選項(xiàng)。
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    納米壓痕儀 Nano Indenter? G200X

    科磊 Nano Indenter? G200X 美洲 美國(guó)
    深圳市今浩儀器設(shè)備有限公司
    NanoIndenter G200X納米級(jí)力學(xué)測(cè)試平臺(tái),簡(jiǎn)單易用,能夠快速準(zhǔn)確的提供各種定量的力學(xué)測(cè)試結(jié)果。G200X系統(tǒng)能夠輕松表征廣泛的材料力學(xué)性能,從硬質(zhì)涂層到超軟聚合物樣品,并針對(duì)不同應(yīng)用提供綜合全面的納米力學(xué)測(cè)試升級(jí)選件和解決方案。
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    納米壓痕儀 NanoFlip

    KLA NanoFlip 上海 浦東新區(qū)
    科磊半導(dǎo)體設(shè)備技術(shù)(上海)有限公司
    NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對(duì)硬度、模量、屈服強(qiáng)度、剛度和其他納米力學(xué)測(cè)試進(jìn)行高精確度的測(cè)量。在掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)中,NanoFlip在測(cè)試(例如柱壓縮)方面表現(xiàn)優(yōu)異,可以將SEM圖像與機(jī)械測(cè)試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip測(cè)量迅速,這對(duì)于惰性環(huán)境(例如手套箱)中測(cè)試異質(zhì)材料很關(guān)鍵。系統(tǒng)所配置的可選套件,例如InForce50電磁驅(qū)動(dòng)器,可以提供定量結(jié)果,從而為材料研究提供有價(jià)值的解決方案。
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    納米壓痕儀 Nano Indenter? G200

    KLA Nano Indenter? G200 上海 浦東新區(qū)
    科磊半導(dǎo)體設(shè)備技術(shù)(上海)有限公司
    Nano Indenter? G200系統(tǒng)專為各種材料的表征和開(kāi)發(fā)過(guò)程中進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量而設(shè)計(jì)。 該系統(tǒng)是一個(gè)完全可升級(jí),可擴(kuò)展且經(jīng)過(guò)生產(chǎn)驗(yàn)證的平臺(tái),全自動(dòng)硬度測(cè)量可應(yīng)用于質(zhì)量控制和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。
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    納米壓痕儀 iNano?

    KLA iNano? 上海 浦東新區(qū)
    科磊半導(dǎo)體設(shè)備技術(shù)(上海)有限公司
    iNano?納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。 該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。 該儀器的力荷載和位移測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍很大,因而可以實(shí)現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料的精確和可重復(fù)測(cè)試。 模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用:材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試、刮擦和磨損以及高溫測(cè)試。 iNano提供了一整套測(cè)試擴(kuò)展選項(xiàng),包括樣品加熱、連續(xù)剛度測(cè)量、NanoBlitz3D/4D屬性映射和遠(yuǎn)程視頻選項(xiàng)。
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    納米壓痕儀 Nano Indenter? G200X

    KLA Nano Indenter? G200X 上海 浦東新區(qū)
    科磊半導(dǎo)體設(shè)備技術(shù)(上海)有限公司
    NanoIndenter G200X納米級(jí)力學(xué)測(cè)試平臺(tái),簡(jiǎn)單易用,能夠快速準(zhǔn)確的提供各種定量的力學(xué)測(cè)試結(jié)果。G200X系統(tǒng)能夠輕松表征廣泛的材料力學(xué)性能,從硬質(zhì)涂層到超軟聚合物樣品,并針對(duì)不同應(yīng)用提供綜合全面的納米力學(xué)測(cè)試升級(jí)選件和解決方案。

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KLA iNano 納米壓痕儀

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