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納米壓痕儀-iMicro型納米壓痕儀iNano/iMicro
iMicro納米壓痕儀作為KLA旗下旗艦級(jí)力學(xué)測(cè)試平臺(tái),融合電磁驅(qū)動(dòng)技術(shù)、模塊化功能擴(kuò)展與工業(yè)級(jí)高通量測(cè)試能力,為材料研發(fā)與質(zhì)量控制提供從納米到微米尺度的全維度力學(xué)表征方案。
納米壓痕儀-KLA G200X型納米壓痕儀
在尖端材料研發(fā)與工業(yè)質(zhì)量控制領(lǐng)域,納米尺度的力學(xué)性能直接決定了產(chǎn)品壽命與可靠性。KLA G200X納米壓痕儀憑借全電磁力驅(qū)動(dòng)、100kHz超高速采集及模塊化多場(chǎng)景適配能力,已成為全球?qū)嶒?yàn)室與高端制造的“性能解碼器”。
KLA iMicro 納米壓痕儀
KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測(cè)量硬涂層,薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試??苫Q的驅(qū)動(dòng)器能夠提供大的動(dòng)態(tài)范圍的力荷載和位移,使研究人員能夠?qū)浘酆衔锏接操|(zhì)金屬和陶瓷等材料做出詳盡及可重復(fù)的測(cè)試。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用:材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試、刮擦和磨損測(cè)試以及高溫測(cè)試。
KLA iNano 納米壓痕儀
KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。該儀器的力荷載和位移測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍很大,因而可以實(shí)現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料可重復(fù)測(cè)試。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用:材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試、刮擦和磨損以及高溫測(cè)試。KLA iNano 納米壓痕儀提供了一整套測(cè)試擴(kuò)展選項(xiàng),包括樣品加熱、連續(xù)剛度測(cè)量、
納米壓痕儀iNano高精度臺(tái)式納米壓痕儀
KLA公司全系列的力學(xué)測(cè)試產(chǎn)品均采用電磁驅(qū)動(dòng)原理的加載力激發(fā)器, iNano臺(tái)式納米壓痕儀。對(duì)納米壓痕物理模型和優(yōu)線性特性的電磁力驅(qū)動(dòng)原理的深刻理解,以及良好的靈敏度的三片式電容傳感器的設(shè)計(jì)。
原位TEM四自由度納米操縱樣品桿X-NANO
透射電鏡多尺度、多視角(明、暗場(chǎng)像,電子衍射, 化學(xué)成分)的實(shí)驗(yàn)分析能力,基于透射電子顯微鏡的原位微納米力學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器。
拉伸臺(tái) Swift Tensile Stage原位拉伸臺(tái)
為了滿足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn),Swift開(kāi)發(fā)了一系列完全可定制的原位拉伸試樣臺(tái)。這些拉伸試樣臺(tái)適合多種顯微觀測(cè)系統(tǒng),比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。
壓痕儀 Nano Flip原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM
NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測(cè)試;也可以直接在大氣環(huán)境下測(cè)試。NanoFlip可進(jìn)行硬度和楊氏模量測(cè)試、連續(xù)剛度測(cè)試(CSM)、力學(xué)性能譜圖(Mapping)、納米動(dòng)態(tài)力
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納米壓痕儀/納米劃痕儀
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