華科智源結(jié)電容測(cè)試儀，可以測(cè)試MOS管，IGBT，SIC器件的柵極電阻和柵極電容，包含Ciss 輸入電容 Coss 輸出電容 Crss 反向電容，Rg等參數(shù)，可以單點(diǎn)測(cè)試，也可以掃描測(cè)試曲線；

華科智源結(jié)電容測(cè)試儀，可以測(cè)試MOS管，IGBT，SIC器件的柵極電阻和柵極電容，包含Ciss 輸入電容 Coss 輸出電容 Crss 反向電容，Rg等參數(shù)，可以單點(diǎn)測(cè)試，也可以掃描測(cè)試曲線；

安柏AT2617電容測(cè)試儀 AT261X系列是電容測(cè)試儀，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型臺(tái)式儀器。儀器可以選擇200kHz（AT2616）的測(cè)試頻率，并可選擇0.1V，0.3V，0.5V和1.0Vrms的測(cè)試信號(hào)電平。

安柏AT610D電容測(cè)試儀 簡(jiǎn)介 2021年全新第6版，使用新技術(shù)重新設(shè)計(jì)的AT610D，穩(wěn)定性更佳，全新按鍵設(shè)計(jì)，操作更簡(jiǎn)單。 AT610D 采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能電容測(cè)試儀。

一次接線三相測(cè)試、補(bǔ)償容量、容抗、感抗、阻抗自動(dòng)計(jì)算、電流測(cè)試、電能質(zhì)量分析、本機(jī)存儲(chǔ)200條

單相電容器、電抗器、電阻器測(cè)量時(shí)自動(dòng)識(shí)別、一次接線三相測(cè)試、補(bǔ)償容量、容抗、感抗、阻抗自動(dòng)計(jì)算、電流測(cè)試、電能質(zhì)量分析

Agilent4287A射頻測(cè)試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供，可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行測(cè)量。

1、不拆線測(cè)試：儀器配備大電流高精度電流鉗，現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量電容器無(wú)需拆除連接線，簡(jiǎn)化試驗(yàn)過(guò)程、有效提高工作效率、避免損害電力設(shè)備； 2、高度智能化：三相測(cè)試完成后，自動(dòng)計(jì)算每相電容值和總電容值、無(wú)功功率等參數(shù)，簡(jiǎn)單直觀，減輕測(cè)試人員負(fù)擔(dān)； 3、四端測(cè)量：采用四端測(cè)量技術(shù)，測(cè)量精確，測(cè)試重復(fù)性好； 4、自動(dòng)補(bǔ)償：電流自動(dòng)分段補(bǔ)償，電流全量程線性化，提高儀器測(cè)量精度； 5、存儲(chǔ)功能：儀器Z大存儲(chǔ)400條數(shù)據(jù)，具有歷史數(shù)據(jù)查詢(xún)功能； 6、USB通信：USB通信功能，配合PC機(jī)軟件，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)分析、保存、打印并生成完備測(cè)試報(bào)告，便于數(shù)據(jù)集中管理； 7、大尺寸觸摸屏：7寸大屏幕真彩觸摸液晶顯示屏，中文顯示，界面直觀，操作簡(jiǎn)單； 8、溫度監(jiān)測(cè)：監(jiān)測(cè)環(huán)境溫度，便于記錄不同溫度下電容器的電容值；