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反射膜厚儀 -無(wú)損膜厚測(cè)量方案F20
KLA FilmetricsF20是一款高精度薄膜厚度測(cè)量?jī)x,采用光譜反射技術(shù),測(cè)量范圍覆蓋1納米至3毫米,具備一鍵操作、非接觸測(cè)量及多層結(jié)構(gòu)分析能力,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、OLED、光伏、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域,兼具高精度與易用性。
反射式膜厚測(cè)量分析系統(tǒng) NanoSense
應(yīng)用領(lǐng)域
NS-20 / NS-20 Pro 桌面式手動(dòng)膜厚儀
NS-Touch 彎曲表面膜厚儀(手持)
反射透射測(cè)量雙通道膜厚儀NS-Vista
蘇州悉識(shí) NS-OEM系列(膜厚測(cè)量套件)
廣州德準(zhǔn)薄膜測(cè)厚儀全自動(dòng)C1202
產(chǎn)品特性: ?薄膜行業(yè)厚度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)配置,適用于高精度測(cè)量,內(nèi)置測(cè)帽調(diào)平機(jī)構(gòu)、避免反復(fù)設(shè)置系數(shù) ?全自動(dòng)測(cè)量,避免人為因素干擾,提高精度,數(shù)值自動(dòng)上傳電腦保存,可實(shí)現(xiàn)測(cè)量過(guò)程無(wú)人值守,減負(fù)增效 ? 測(cè)量精度高,分辨率可達(dá)0.1μm ? 測(cè)量速度快,結(jié)果響應(yīng)時(shí)間為0.015s ? 大理石臺(tái)面00級(jí),精度高,質(zhì)地硬,永不生銹 ? 德國(guó)Mahr的品質(zhì)保證,可實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)期高穩(wěn)定性的測(cè)量 ? 薄膜行業(yè)專(zhuān)用軟件Filder 1.0,具有數(shù)據(jù)管理,用戶(hù)管理等強(qiáng)大功能 軟件特性:Filder 1.0 特別為薄膜行業(yè)開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì) 可實(shí)時(shí)顯示記錄測(cè)量值,并計(jì)算Z大值,Z小值,平均值,偏差值等一系列參數(shù) 軟件自動(dòng)繪制厚度曲線和偏差圖 測(cè)量結(jié)果可導(dǎo)出至Excel表格 軟件具有用戶(hù)管理功能,可設(shè)置不同的人員權(quán)限,有效防止誤操作和數(shù)據(jù)的誤刪除 具有數(shù)據(jù)管理功能,測(cè)量數(shù)據(jù)及相關(guān)產(chǎn)品、人員信息永久保存,便于測(cè)量數(shù)據(jù)的追蹤和溯源
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薄膜測(cè)厚儀
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