PRTS-4A型全自動(dòng)掃描四探針測試系統(tǒng)
濾材完整性檢測儀
包材密封性測試儀 塑料瓶密封性檢測儀
鋰電池材料及電極隔膜專用卡氏水分測定儀
25種VOC混標(biāo)(食品接觸材料及制品 溶劑殘留量征求意見稿)
半導(dǎo)體/薄膜無損檢測儀
PRTS-4A型全自動(dòng)掃描四探針測試系統(tǒng)
關(guān)鍵詞：全自動(dòng)四探針，2D,3D，多點(diǎn)掃描, 電阻率, 方塊電阻
可對樣品進(jìn)行 49 點(diǎn)、81 點(diǎn)、中心 1 點(diǎn)、中心 10 點(diǎn)、中心半徑 5 點(diǎn)、中心邊緣 5 點(diǎn)、中心半徑邊緣 9 點(diǎn)、直徑掃描等測試；統(tǒng)計(jì)分析測試數(shù)據(jù)生成 2D 和 3D 的 map 圖； 屏蔽測試，完全消除光對樣品測試的影響，保證測量的準(zhǔn)確性； 真空吸附防止全自動(dòng)測試過程中樣品移動(dòng)對測試的影響；
一體化嵌入式設(shè)計(jì)，觸控電腦屏幕操作，手指點(diǎn)點(diǎn)就可以完成操作；
PRTS-4A全自動(dòng)掃描四探針測試系統(tǒng)是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合全自動(dòng)測量設(shè)備。該設(shè)備按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，專用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用設(shè)備。通過全自動(dòng)測試系統(tǒng)，對晶圓片進(jìn)行電阻率和方塊電阻分布的測量，繪制出等值線圖后，從而直接觀察到整個(gè)晶圓片的電阻率或方塊電阻大小的分布。
PRTS-4A全自動(dòng)掃描四探針測試系統(tǒng)通過采用四探針雙位組合測量技術(shù)，將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上。利用電流探針和電壓探針的組合變換，進(jìn)行兩次電測量，其最后計(jì)算結(jié)果能自動(dòng)消除由樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素所引起的，對測量結(jié)果的不利影響。因而在測試過程中，在滿足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。這種動(dòng)態(tài)地對以上不利因素的自動(dòng)修正，顯著降低了其對測試結(jié)果的影響，從而提高了測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。
PRTS-4A全自動(dòng)掃描四探針測試系統(tǒng)擁有友好操作測試界面，通過此測試程序輔助用戶簡便地進(jìn)行各項(xiàng)測試操作，把采集到的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)分析，然后把測試數(shù)據(jù)以Excel表格，2D、3D等數(shù)值圖直觀地記錄、顯示出來。方便用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析，用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，
產(chǎn)品應(yīng)用
● 半導(dǎo)體及太陽能電池(單晶硅、多晶硅、鈣鈦礦)
● 液晶面板(ITO/AZO)
● 功能材料(熱電材料、碳納米管、石墨烯、銀納米線、導(dǎo)電纖維布)
● 半導(dǎo)體工藝(金屬層/離子注入/擴(kuò)散層)、非晶合金
全自動(dòng)四探針軟件測試系統(tǒng)
主要技術(shù)指標(biāo) ：
測量范圍 | 電阻率：10-5～105 ?.cm； 方塊電阻：10-4～106 ?/□； |
可測晶片尺寸 | 2 英寸～15 英寸；（太陽能電池片≤210mm*210mm） |
恒流源 | 電流量程分為 1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 六檔。 |
采樣電壓范圍 | 量程：000.00～199.99mV；（低阻擴(kuò)展時(shí)，量程：00.000～19.999mV） 分辨力：10μV；（低阻擴(kuò)展時(shí)，分辨力：1μV）輸入阻抗：＞1000MΩ；精度：±0.1%； |
四探針探頭基本指標(biāo) | 間距：1±0.01mm；針間絕緣電阻：≥1000M?； 機(jī)械游移率：≤0.3％； 探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；探針壓力：5～16 牛頓(總力)； |
模擬電阻測量相對誤差 | 0.01?、0.1?、1?、10?、100?、1000?、10000?≤0.2％ |
整機(jī)測量相對誤差 | （用硅標(biāo)樣片:0.003-500Ω.cm 測試）≤±3%（23℃） |
重復(fù)性 | ≤±0.5% |
最小去邊距離 | 3mm |
自動(dòng)測試選點(diǎn)方式 | 49 點(diǎn)、81 點(diǎn)、中心 1 點(diǎn)、中心 10 點(diǎn)、中心半徑 5 點(diǎn)、中心邊緣 5 點(diǎn)、中心半徑邊緣 9 點(diǎn)、直徑掃描。 |
測試數(shù)據(jù)處理 | 以Excel格式文件表格記錄測試數(shù)據(jù)，并生成2D、3D的 map 圖。用戶可對采集的數(shù)據(jù)在 Excel 中進(jìn)行進(jìn)一步的各種數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析。 |
屏蔽和吸附測試 | 對樣品進(jìn)行屏蔽和真空吸附測試，完全消除光和全自動(dòng)測試過程中樣品移動(dòng)對樣品測試的影響，保證測量的準(zhǔn)確性。 |
外形尺寸 | 550mm×455mm×400mm（深×寬×高） |
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 | 溫度：23±2℃； 相對濕度：≤65％；無高頻干擾； |
報(bào)價(jià)：￥100
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PRTS-4A型全自動(dòng)掃描四探針測試系統(tǒng) PRTS-4A全自動(dòng)掃描四探針測試系統(tǒng)是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合全自動(dòng)測量設(shè)備。該設(shè)備按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，專用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用設(shè)備。通過全自動(dòng)測試系統(tǒng)，對晶圓片進(jìn)行電阻率和方塊電阻分布的測量，繪制出等值線圖后，從而直接觀察到整個(gè)晶圓片的電阻率或方塊電阻大小的分布。 PRTS-4A全自動(dòng)掃描四探針測試系統(tǒng)通過采用四探針雙位組合測量技術(shù)，將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上。利用電流探針和電壓探針的組合變換，進(jìn)行兩次電測量，其Z后計(jì)算結(jié)果能自動(dòng)消除由樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素所引起的，對測量結(jié)果的不利影響。因而在測試過程中，在滿足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。這種動(dòng)態(tài)地對以上不利因素的自動(dòng)修正，顯著降低了其對測試結(jié)果的影響，從而提高了測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。 PRTS-4A全自動(dòng)掃描四探針測試系統(tǒng)擁有友好操作測試界面，通過此測試程序輔助用戶簡便地進(jìn)行各項(xiàng)測試操作，把采集到的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)分析，然后把測試數(shù)據(jù)以Excel表格，2D、3D等數(shù)值圖直觀地記錄、顯示出來。方便用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析，用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，
1)測試儀設(shè)計(jì)，符合國標(biāo)和行業(yè)規(guī)范，獲國家ZL。ZL號：ZL201220082173.9 2)同步式連續(xù)多點(diǎn)測試，GX快捷、準(zhǔn)確度高、重復(fù)性好。一次裝料，電阻率、壓強(qiáng)、高度同步式連續(xù)多點(diǎn)測試，可快速繪制粉末“電阻率-壓強(qiáng)”曲線。行業(yè)推薦粉末電阻率標(biāo)準(zhǔn)測試方式?？杀苊鈧鹘y(tǒng)異步式的先壓片脫模后再四探針測試的缺項(xiàng)：誤差大，重復(fù)性差，直至散塊不能成形無法測試的問題。 3)帶智能化電腦軟件.可以保存、查詢、統(tǒng)計(jì)分析數(shù)據(jù)和打印報(bào)告。 4）USB通訊接口，通用性好、方便快捷。 5）8檔位超寬量程。同行一般為五到六檔位。 6）可脫電腦單機(jī)操作,小型化、手動(dòng)/自動(dòng)一體化。操作簡便、性能穩(wěn)定，所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)碼鍵盤輸入。 7）可拓展功能：壓片機(jī)可獨(dú)立當(dāng)普通壓片機(jī)用，電阻率測試儀也可以增配四探針測試臺(tái)、探頭拓展為普通四探針測試儀或電池極片電阻率測試儀。
數(shù)字源表四探針法測試水凝膠電導(dǎo)率認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，普賽斯S系列、P系列源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集，Y秀的性價(jià)比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，普賽斯儀表是手家國產(chǎn)數(shù)字源表生產(chǎn)廠家，產(chǎn)品已經(jīng)歷3年迭代完善，對標(biāo)2400、2450、2611、2601B、2651、2657等；
CRESBOX半自動(dòng)四探針測試儀可用于測試硅晶片及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、金屬薄膜等材料的電阻率和方塊電阻。
儀器由主機(jī)、測試架兩大部分組成。主機(jī)包括高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的直流恒流源測量試驗(yàn)設(shè)置通過觸摸屏進(jìn)行操作和設(shè)置，頁面布局合理，人性化設(shè)計(jì)，可對測試結(jié)果進(jìn)行打印。 儀器具有測量精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)，完全符合國際和國家標(biāo)準(zhǔn)的要求。儀器適用于導(dǎo)體粉末、半導(dǎo)體粉末、炭素材料等行業(yè)，進(jìn)行檢測必備測試設(shè)備。
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