核心參數(shù):
·???? 樣品臺移動范圍:5mm*5mm
·???? 樣品尺寸:petridish
·???? 定位檢測噪聲:0.03nm(typical), 0.05nm(maximum)

Park NX-Bio生物原子力顯微鏡,一個強大的三合一生物研究工具,將掃描離子電導(dǎo)顯微鏡(SICM)與原子力顯微鏡(AFM)和倒置光學(xué)顯微鏡(IOM)融合在同一平臺上。Park NX-Bio的模塊化設(shè)計允許您在SICM和AFM之間隨意切換。在融合了SICM、AFM和IOM的生物-機械測量功能后,Park?NX-Bio這一非侵入性液體成像工具成為研究生理條件下生物材料的***選擇。
專門為液體成像的模塊
l? 原子力顯微鏡(AFM)
l? 活細(xì)胞室
l? 技術(shù)信息:
l? 原子力顯微術(shù)
?- 高級的Park原子力顯微術(shù)可實現(xiàn)***的力-距離光譜掃描
?原子力顯微術(shù)的力對距離(FD)光譜是一個十分有用的工具,可特征化各類型生物材料的生物機械屬性。在力對距離(FD)光譜掃描中,懸臂***由Z軸掃描器的***控制,在特定作用力下壓入樣品表面。***的低噪聲Z軸探測器可***控制Z軸掃描器的移動,從而向樣品表面施加正確的作用力,以便獲取更精細(xì)的納米牛頓級生物機械特征。
??- 彈性模量(楊格模量)計算,實現(xiàn)***的生物機械屬性測量
?根據(jù)準(zhǔn)確的力對距離光譜數(shù)據(jù),彈性模量(楊氏模量)可通過赫茲模型和Oliver模型自動計算。這兩種計算方法內(nèi)置在XEI數(shù)據(jù)分析軟件中,能夠強化力對距離曲線中生物機械數(shù)據(jù)的驗證。
· 力對距離光譜測量探針***與樣品之間的相互機械作用力。
· 力對距離曲線是通過將懸臂壓入樣品表面而獲取的。
· 原子力顯微鏡下單根肌纖維的納米力學(xué)
??- 彈性模量(楊格模量)計算,實現(xiàn)***的生物機械屬性測量
根據(jù)準(zhǔn)確的力對距離光譜數(shù)據(jù),彈性模量(楊氏模量)可通過赫茲模型和Oliver模型自動計算。這兩種計算方法內(nèi)置在XEI數(shù)據(jù)分析軟件中,能夠強化力對距離曲線中生物機械數(shù)據(jù)的驗證。
· 獲取作用力所引起的樣品變形深度(分離-力曲線)
· 使用赫茲模型計算楊氏模量
?
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在納米尺度研究領(lǐng)域,瑞士Nanosurf公司推出的DriveAFM原子力顯微鏡系統(tǒng)代表了當(dāng)前尖端技術(shù)的巔峰之作。通過光熱激振(CleanDrive)、直驅(qū)掃描(Direct Drive)和全電動控制三大核心技術(shù)的協(xié)同創(chuàng)新,DriveAFM徹底解決了傳統(tǒng)AFM在精度、穩(wěn)定性和跨環(huán)境兼容性上的固有瓶頸,為材料科學(xué)和生命科學(xué)研究提供了前所未有的高精度、高穩(wěn)定性的研究平臺。
FlexAFM是一款高度通用且靈活穩(wěn)定的原子力顯微鏡,適用于物理、材料科學(xué)及生物科學(xué)等領(lǐng)域。它具有穩(wěn)定的常規(guī)材料學(xué)應(yīng)用性能,并能便捷地與倒置光學(xué)顯微鏡集成用于生物研究,或放置在手套箱中研究二維材料。FlexAFM支持多種操作模式和升級配件,具備高分辨率成像和探索樣品地形的能力,尤其擅長處理敏感樣品的電氣特性,是全球眾多科研人員的理想選擇。此外,它還能與外部硬件集成,擴展研究功能。對于生命科學(xué)研究,F(xiàn)lexAFM能夠與倒置顯微鏡聯(lián)用,實現(xiàn)在液體環(huán)境中的納米材料、生物分子或細(xì)胞研究。結(jié)合流體力學(xué)探針顯微鏡FluidFM技術(shù),F(xiàn)lexAFM進(jìn)一步解鎖了單細(xì)胞生物學(xué)和納米科學(xué)的新應(yīng)用。
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡,專為工業(yè)級高精度與超大樣品而設(shè)計,將科研級分辨率與工業(yè)兼容性深度融合,成為半導(dǎo)體量產(chǎn)、新材料研發(fā)及跨學(xué)科微觀表征的強有力工具。
表面形貌是許多高科技材料表面的重要特性,其可能低至幾納米,表面粗糙度不到一納米。原子力顯微鏡可以在正常環(huán)境條件下輕松分析這些特征。
Alphacen 300 原子力顯微鏡系統(tǒng)是一種獨特的 AFM 解決方案,可以輕松處理大型和重型樣品。它具有Flex-Mount掃描頭,采用針尖掃描的設(shè)計方式,無論樣品重量如何,都能實現(xiàn)高性能成像。配置的CX 控制器是 Nanosurf 最先進(jìn)的 AFM 控制器,可快速精確地控制掃描過程,穩(wěn)定成像。專用的隔音罩可減少外部噪音和振動的影響。同時,該系統(tǒng)還可以通過添加額外移動軸或旋轉(zhuǎn)軸進(jìn)行更復(fù)雜的定制,滿足您的特定樣品測試需求。
Park NX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環(huán)境來提高測量敏感度以及原子力顯微鏡測量的可重復(fù)性。與一般環(huán)境或干燥N2條件相比,高真空測量具有準(zhǔn)確度好、可重復(fù)性好及針尖和樣本損傷低等優(yōu)點。
高精度探針針尖變量的亞埃米級表面粗糙度測量,晶圓的表面粗糙度對于確定半導(dǎo)體器件的性能是至關(guān)重要的,對于先進(jìn)的元件制造商,芯片制造商和晶圓供應(yīng)商都要求對晶圓商超平坦表面進(jìn)行更精確的粗糙度控制。
對于工程師來說,識別介質(zhì)/平面基底的納米級缺陷的任務(wù)是一個非常耗時的過程,Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可以自動缺陷識別,通過與各種光學(xué)儀器的聯(lián)用可以提高缺陷檢測效率。