MultiMode是世界上的原子力顯微鏡,得到客戶的高度認(rèn)可,迄今為止數(shù)以萬計(jì)的MultiMode掃描探針 顯微鏡已經(jīng)在全球成功安裝使用。其世界領(lǐng)xian的超高分辨率, 完備的儀器性能,無與倫比的多功能性,以及得到充分驗(yàn)證 的wan美表現(xiàn)和實(shí)驗(yàn)可靠性,奠定了其在AFM領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)地位。 Bruker作為生命科學(xué)和分析儀器領(lǐng)域出色的,始終致力 于為用戶提供**的解決方案,總結(jié)成功的經(jīng)驗(yàn),不斷創(chuàng)新,推出了MultiMode系列的zuixin型號MultiMode8。使用Bruker zuixin的ZL技術(shù)Peak Force Tapping掃描模式,獲得更多的樣 品信息,操作更簡單,性能更優(yōu)越,大大提高了工作效率。

技術(shù)參數(shù):
1. 顯微鏡:多種可選Multimode SPM掃描頭
AS-0.5系列:橫向(X-Y)范圍0.4μm×0.4μm,豎直(Z)范圍0.4μm
AS-12系列:橫向(X-Y)范圍10μm×10μm,豎直(Z)范圍2.5μm
AS-130系列:橫向(X-Y)范圍125μm×125μm,豎直(Z)范圍5.0μm
PF50:橫向(X-Y)范圍40μm×40μm,豎直(Z)范圍20μm
2. 噪聲:垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃 (帶防震系統(tǒng)的測量值)
3. 樣品大小:直徑≤15mm, 厚度≤5mm
4. 針尖/懸臂支架:
空氣中輕敲模式/接觸模式(標(biāo)準(zhǔn))
液體中輕敲模式/力調(diào)制(可選)
空氣中力調(diào)制(可選);電場模式(可選)
掃描熱(可選-需要大的光學(xué)頭或者外加的應(yīng)用組件)
STM轉(zhuǎn)換器(可選)
低電流STM轉(zhuǎn)換器(可選);接觸模式液體池(可選)
電化學(xué)AFM或STM液體池(可選)
扭轉(zhuǎn)共振模式(可選)
5. 防震和隔音:
硅膠共振模式(可選)
防震三腳架(可選) ;防震臺(可選)
集成的防震臺和隔音罩(可選)
報(bào)價(jià):面議
已咨詢5185次
報(bào)價(jià):面議
已咨詢6264次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報(bào)價(jià):面議
已咨詢617次臺式電子順磁共振波譜儀
報(bào)價(jià):¥1500000
已咨詢234次布魯克儀器
報(bào)價(jià):面議
已咨詢807次原子力顯微鏡
報(bào)價(jià):面議
已咨詢6883次表面成像
報(bào)價(jià):面議
已咨詢6458次化學(xué)科學(xué)
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1315次探針
在納米尺度研究領(lǐng)域,瑞士Nanosurf公司推出的DriveAFM原子力顯微鏡系統(tǒng)代表了當(dāng)前尖端技術(shù)的巔峰之作。通過光熱激振(CleanDrive)、直驅(qū)掃描(Direct Drive)和全電動控制三大核心技術(shù)的協(xié)同創(chuàng)新,DriveAFM徹底解決了傳統(tǒng)AFM在精度、穩(wěn)定性和跨環(huán)境兼容性上的固有瓶頸,為材料科學(xué)和生命科學(xué)研究提供了前所未有的高精度、高穩(wěn)定性的研究平臺。
FlexAFM是一款高度通用且靈活穩(wěn)定的原子力顯微鏡,適用于物理、材料科學(xué)及生物科學(xué)等領(lǐng)域。它具有穩(wěn)定的常規(guī)材料學(xué)應(yīng)用性能,并能便捷地與倒置光學(xué)顯微鏡集成用于生物研究,或放置在手套箱中研究二維材料。FlexAFM支持多種操作模式和升級配件,具備高分辨率成像和探索樣品地形的能力,尤其擅長處理敏感樣品的電氣特性,是全球眾多科研人員的理想選擇。此外,它還能與外部硬件集成,擴(kuò)展研究功能。對于生命科學(xué)研究,F(xiàn)lexAFM能夠與倒置顯微鏡聯(lián)用,實(shí)現(xiàn)在液體環(huán)境中的納米材料、生物分子或細(xì)胞研究。結(jié)合流體力學(xué)探針顯微鏡FluidFM技術(shù),F(xiàn)lexAFM進(jìn)一步解鎖了單細(xì)胞生物學(xué)和納米科學(xué)的新應(yīng)用。
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡,專為工業(yè)級高精度與超大樣品而設(shè)計(jì),將科研級分辨率與工業(yè)兼容性深度融合,成為半導(dǎo)體量產(chǎn)、新材料研發(fā)及跨學(xué)科微觀表征的強(qiáng)有力工具。
表面形貌是許多高科技材料表面的重要特性,其可能低至幾納米,表面粗糙度不到一納米。原子力顯微鏡可以在正常環(huán)境條件下輕松分析這些特征。
Alphacen 300 原子力顯微鏡系統(tǒng)是一種獨(dú)特的 AFM 解決方案,可以輕松處理大型和重型樣品。它具有Flex-Mount掃描頭,采用針尖掃描的設(shè)計(jì)方式,無論樣品重量如何,都能實(shí)現(xiàn)高性能成像。配置的CX 控制器是 Nanosurf 最先進(jìn)的 AFM 控制器,可快速精確地控制掃描過程,穩(wěn)定成像。專用的隔音罩可減少外部噪音和振動的影響。同時(shí),該系統(tǒng)還可以通過添加額外移動軸或旋轉(zhuǎn)軸進(jìn)行更復(fù)雜的定制,滿足您的特定樣品測試需求。
Park NX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環(huán)境來提高測量敏感度以及原子力顯微鏡測量的可重復(fù)性。與一般環(huán)境或干燥N2條件相比,高真空測量具有準(zhǔn)確度好、可重復(fù)性好及針尖和樣本損傷低等優(yōu)點(diǎn)。
高精度探針針尖變量的亞埃米級表面粗糙度測量,晶圓的表面粗糙度對于確定半導(dǎo)體器件的性能是至關(guān)重要的,對于先進(jìn)的元件制造商,芯片制造商和晶圓供應(yīng)商都要求對晶圓商超平坦表面進(jìn)行更精確的粗糙度控制。
對于工程師來說,識別介質(zhì)/平面基底的納米級缺陷的任務(wù)是一個(gè)非常耗時(shí)的過程,Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可以自動缺陷識別,通過與各種光學(xué)儀器的聯(lián)用可以提高缺陷檢測效率。