產(chǎn)品介紹：

Dimension IconIR

布魯克大樣品臺Dimension IconIR系統(tǒng)將納米紅外光譜技術(AFM-IR)和掃描探針技術(SPM)集成到一個平臺，為學術界和工業(yè)界用戶提供先進的納米光譜、化學成像和物理性質成像工具。IconIR結合了數(shù)十年的研究和技術創(chuàng)新，基于Dimension Icon ?原子力顯微鏡的最 新平臺，實現(xiàn)卓 越的納米級屬性成像能力。該系統(tǒng)支持相關的顯微鏡和化學成像，具有超高空間分辨率和單層靈敏度，同時其獨特的大樣品臺結構，提供極大的樣本靈活性，大大擴展應用領域。

大樣品

高性能納米紅外光譜

為廣泛的樣品種類和應用提供更高的樣品靈活性和性能.

關聯(lián)研究

納米尺度化學和物性成像

提供定量納米化學、納米力學和納米電學數(shù)據(jù).10納米以下

光熱AFM-IR成像

實現(xiàn)單層靈敏度的高分辨率表征.

下載彩頁

卓 越的納米紅外功能和性能

在單個系統(tǒng)中，IconIR提供高性能納米級紅外光譜、化學成像分辨率和單分子層靈敏度。

Dimension IconIR提供:

· 與FTIR高度一致的高性能納米紅外光譜，優(yōu)于10nm化學成像分辨率和單分子層靈敏度

· 化學成像可與PeakForce Tapping?納米機械和納米電學關聯(lián)

· 高性能AFM成像和極大的樣品靈活性，可容納大尺寸樣品*

· 廣泛適用的應用組件和AFM功能模塊

*標準系統(tǒng)支持150mm大樣品，也可提供能夠容納更大樣品的版本

完整的關聯(lián)研究顯微鏡

集成Bruker特有的PeakForce輕敲納米物性成像和納米紅外光譜技術，Dimension IconIR系統(tǒng)的大樣本平臺特別適合于電學或化學反應環(huán)境中材料和活性納米系統(tǒng)，甚至是具有強機械異質性的復雜系統(tǒng)的關聯(lián)研究。

IconIR提供：

先進的定量屬性成像技術

用于定量納米化學，納米機械和納米電學表征的完整關聯(lián)研究方案

包埋在環(huán)氧樹脂中的碳纖維的納米化學成像(AFM-IR)

包埋在環(huán)氧樹脂中的碳纖維的納米熱物性成像(SThM)

包埋在環(huán)氧樹脂中的碳纖維的納米電學成像(PF-KPFM)

高性能納米紅外光譜

PS-LDPE共混物不同區(qū)域的高質量共振增強納米紅外光譜，展示了高度的材料敏感性和對納米尺度材料特性的深入解析

布魯克是基于光熱AFM-IR納米紅外光譜技術的發(fā)明者，并擁有多項專 利和獨特的納米紅外模式。這些模式使IconIR能夠提供與FT-IR光譜一致的高速、高性能光譜。模式的多樣性為工業(yè)和學術用戶的廣泛樣本提供測試支持。

IconIR提供：

與FT-IR一致的高性能，豐富，詳細的光譜，實現(xiàn)單分子光譜

共振增強AFM-IR，納米紅外領域的首 選技術，已發(fā)表大量科學出版物

高性能輕敲模式AFM-IR光譜

超高分辨率化學成像

Icon業(yè)界領先的AFM性能和Bruker專 利的輕敲AFM-IR成像共同提高了納米紅外技術的空間分辨率和樣品適用性，并將其應用擴展到光熱AFM-IR技術目前尚未解決的領域。

IconIR提供：

· 優(yōu)于10nm的空間分辨率，用于廣泛的材料類型(包括軟質材料)的化學成像

· 分子層靈敏度用于薄膜及生物結構成像

· 一致，可靠，高質量的可發(fā)表數(shù)據(jù)

· 聚合物薄膜的可靠表面敏感化學測量

超高分辨率PS-b-PMMA嵌段共聚物的輕敲AFM-IR成像 樣品形貌(a);1730cm-1的紅外成像(b)和1492cm-1的紅外成像(c)分辨突出顯示PMMA和PS的分布。(b)圖中的黃色箭頭所示結構展示了優(yōu)于10nm的化學分辨率。紅外成像疊加圖(d)顯示組分的分布。

淺表面化學信息檢測

表面靈敏模式采集表面涂層的光譜信息(綠色曲線)，共振增強模式采集體積范圍的信息，包括表面涂層和下層體材料(褐色曲線)

采用布魯克最新專利表面靈敏模式，IconIR將探測深度從500納米降低到數(shù)十納米，無需制備截面，無縫結合高空間分辨率和高表面靈敏度。