HORIBA LA-960V2 激光粒徑分布分析儀
HORIBA CN-300 離心式納米粒度分析儀
HORIBA CN-300 離心式納米粒度分析儀
HORIBA SZ-100V2 納米顆粒分析儀
HORIBA SZ-100V2 納米顆粒分析儀
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀產(chǎn)品介紹：
一臺(tái)簡潔小巧的裝置能同時(shí)實(shí)現(xiàn)對納米粒子三項(xiàng)參數(shù)的表征：粒徑、Zeta電位和分子量。
納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過程，在分子和原子水平上控制物質(zhì)以獲得新、好、先進(jìn)的材料和產(chǎn)品。為了得到效率高性能好的產(chǎn)品，并減少能量的消耗，HORIBA 推出了SZ-100V2納米顆粒分析儀。此儀器通過簡單操作即可對納米顆粒進(jìn)行多參數(shù)分析！以技術(shù)簡單而精確地呈現(xiàn)納米粒子尺寸及分散體系的穩(wěn)定性，為您開啟納米科技前進(jìn)之門！
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
粒徑測量范圍 0.3nm ~ 10μm
SZ-100V2系列采用動(dòng)態(tài)光散射原理(DLS)測量粒徑大小及分布，實(shí)現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量，不論濃度是ppm級還是高達(dá)百分之幾十，均可準(zhǔn)確測量?？墒褂檬惺蹣悠烦?。測量微量樣品也極為方便。
Zeta電位測量范圍 ?500 ~ +500mV
使用HORIBA微量樣品池，樣品量僅需100 μL。通過Zeta電位值可以預(yù)測及控制分散體系的穩(wěn)定性。Zeta電位越高意味著分散體系越穩(wěn)定，對于配方研究工作意義重大。
分子測量范圍 1×103 ~ 2×107
通過測量不同濃度樣品的靜態(tài)散射強(qiáng)度并通過德拜記點(diǎn)法計(jì)算分子質(zhì)量(Mw)和第二維利系數(shù)(A2)。
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析超高的智能化和學(xué)習(xí)能力可以快速為您確定納米粒子的特性！
SZ-100V2系列可測量的樣品濃度范圍很廣，所以幾乎無需對樣品進(jìn)行稀釋和其他處理。獨(dú)特的雙光路系統(tǒng)(90°和173°)設(shè)計(jì)，既能對高濃度樣品進(jìn)行測量，如釉漿和顏料，也能測量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)和聚合物。
將表征納米粒子的三大參數(shù)的測量融于一體：粒子直徑、Zeta電位和分子量。
HORIBA開發(fā)的一次性Zeta電位測量樣品池可杜絕樣品污染。專用超微量樣品池(最小容量100 μL)簡單易用，且適合分析稀釋的樣品。
HORIBA研發(fā)的Zeta電位專用石墨電極，可用于測量強(qiáng)腐蝕性的高鹽樣品。
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀測量原理：
粒徑測量原理
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀采用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測量粒徑，通過測量粒子的散射光強(qiáng)度隨時(shí)間的波動(dòng)。納米粒子的布朗運(yùn)動(dòng)引起光強(qiáng)的波動(dòng)，對其進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析可與粒子的擴(kuò)散相聯(lián)系。由于布朗運(yùn)動(dòng)的激烈程度與粒徑大小顯著相關(guān)，從而可以建立粒徑與散射光強(qiáng)度波動(dòng)的關(guān)系。
Zeta電位測量原理（激光多普勒電泳法）
處于懸浮液中的納米粒子和膠體粒子大多表面帶有電荷。當(dāng)電場作用于液體時(shí)，帶電粒子將會(huì)在電場的影響下運(yùn)動(dòng)。運(yùn)動(dòng)的方向及速度與粒子的帶電量、分散介質(zhì)和電場強(qiáng)度有關(guān)。通過觀察散射光的多普勒頻移從而測量粒子的運(yùn)動(dòng)速度。粒子的運(yùn)動(dòng)速度與粒子剪切面上的電位( 即Zeta 電位) 成正比，因此可以通過測量粒子在電場作用下的運(yùn)動(dòng)而得到粒子的Zeta 電位。
分子量測量原理
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀采用兩種方法來測量大分子如聚合物、蛋白質(zhì)和淀粉等的分子量。首先采用動(dòng)態(tài)光散射得到的粒徑信息和Mark Houwink 方程。其次是德拜記點(diǎn)法。
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀主要應(yīng)用：
半導(dǎo)體： | CMP漿料 |
功能納米材料： | 碳納米管 |
先進(jìn)碳材料 | |
納米纖維素 | |
顏料、油墨： | 顏料、燃料 |
墨粉懸浮液 | |
能源： | 電池材料 |
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀附件選項(xiàng)：
樣品池
一次性樣品池 | 半微量池 | 玻璃池 | 一次性半微量池 | 樣品池（帶蓋） |
微量池（僅側(cè)面檢測） | 亞微量池 | 流動(dòng)池 | Zeta電位塑料池 | Zeta電位玻璃池 |
自動(dòng)滴定儀
可以用于Zeta電位或粒徑測量過程中的pH值的自動(dòng)滴定，是等電點(diǎn)測量的理想選擇。
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀產(chǎn)品參數(shù)：
測量原理 | 粒徑測量原理：動(dòng)態(tài)光散射法 分子量測量原理：德拜記點(diǎn)法（靜態(tài)光散射法） |
測量范圍 | 粒徑：0.3nm到10μm 分子量： 1000到2 x 107 Da（德拜記點(diǎn)法） 540 到 2 x 107 Da（MHS 公式） |
最大樣品濃度 | 40 wt% |
測量角度 | 90°和173° |
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取 | |
HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀測量案例：
生物材料：膠體金顆粒粒徑測量結(jié)果
膠體金（NIST） | RM8011 | RM8012 | RM8013 |
公稱直徑（nm） | 10 | 30 | 60 |
DLS法測量得到的NIST直徑（nm） | 13.5 | 26.5 | 55.3 |
SZ-100測量得到的直徑（nm） | 11.0 | 26.6 | 55.4 |
上傳人：優(yōu)尼康科技有限公司
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一臺(tái)簡潔小巧的裝置能同時(shí)實(shí)現(xiàn)對納米粒子三項(xiàng)參數(shù)的表征：粒徑、Zeta電位和分子量。 納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過程，在分子和原子水平上控制物質(zhì)以獲得新、好、先進(jìn)的材料和產(chǎn)品。為了得到效率高性能好的產(chǎn)品，并減少能量的消耗，HORIBA 推出了SZ-100V2納米顆粒分析儀。此儀器通過簡單操作即可對納米顆粒進(jìn)行多參數(shù)分析！
HORIBA LA-960V2激光粒徑分布分析儀秉承HORIBA 一貫的以獨(dú)創(chuàng)設(shè)計(jì)的傳統(tǒng)，其直觀的軟件、附件和高效的性能，能解決廣泛的應(yīng)用問題。
Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng)，在結(jié)合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優(yōu)點(diǎn)的基礎(chǔ)上，增加了多角度動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)（MADLS?），是 Zetasizer Advance 系列中Z智能和靈活的儀器。
Morphologi 4 是一個(gè)全自動(dòng)靜態(tài)圖像分析系統(tǒng)，可測量干粉顆粒，混懸液和濾膜上顆粒的粒徑和形貌。它旨在滿足多學(xué)科研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的多樣化需求，是昂貴且耗時(shí)的手動(dòng)顯微鏡的理想替代工具。由于完全自動(dòng)化運(yùn)行且數(shù)據(jù)分析簡單，與手動(dòng)方法相比，節(jié)約大量的時(shí)間。僅需簡單標(biāo)準(zhǔn)化操作程序 （SOP） 的驅(qū)動(dòng)操作，即可執(zhí)行可靠的可重復(fù)測量。
Zetasizer Pro是一款功能強(qiáng)大、用途廣泛的常規(guī)實(shí)驗(yàn)室測量解決方案，可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號(hào)相比，其粒度測量速度超過以往的兩倍，大大加快了樣品處理速度。
Topsizer Plus激光粒度分析儀是繼廣受贊譽(yù)的Topsizer后，作為馬爾文帕納科的全資子公司，珠海歐美克儀器有限公司推出的又一款高端粒度分析儀器。
更多nCS1?特點(diǎn)： 不依賴于顆粒材料屬性 高分辨率粒徑分布 量程范圍：50nm到10μm 任意多分散性 總樣品分析在幾分鐘內(nèi) 一次性微流控芯片 一次測試僅需3μL樣品 適用領(lǐng)域： 蛋白質(zhì)聚集物、病毒等 外泌體、微囊泡、脂質(zhì)體、納米乳 納米藥品、吸入劑、尾端大顆粒 血清中的生物標(biāo)志物等 無機(jī)納米顆粒：金/銀、硅質(zhì)衍生物、金屬氧化物納米顆粒等。
本標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)可用于電子顯微鏡、不同原理的粒度測量儀，如激光衍射法粒度儀、動(dòng)態(tài)光散射法粒度儀，以及不同原理的顆粒計(jì)數(shù)器粒徑的檢定/校準(zhǔn)工作。
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