• [高光譜成像技術]面粉無損檢測

  高光譜成像技術不僅有樣品圖像的信息，并且還可以獲得圖像上每個點的光譜數(shù)據(jù)，光譜可以反映特定波長的特征信息，從而獲得更全面、更可靠的結果，以及更極ng確的信息，如糖、脂肪和蛋白質等等。 隨著生活水平的提高及食品產(chǎn)業(yè)規(guī)?；?，食品品質的提高和改良倍受關注。傳統(tǒng)的化學檢測手段、精度、效率都不高。亟需建立一種新的能夠應用于面粉質量分級的快速無損檢測方法。 實驗設置 基于漫反射方式采集面粉的高光譜數(shù)據(jù)，我們用Camlin型號VNIR-HR(光譜范圍400-1000nm)和NIR-HR+(光譜范圍900-1700nm)范圍內反射光譜，建數(shù)學模型，分析面粉種類、顏色、淀粉、蛋白質、脂肪含量等指標，實現(xiàn)對面粉品質的無損檢測。[詳細]

  2020-03-23 10:11

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