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美國AEP
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- 美國AEP Technology Inc.公司位于全球的創(chuàng)新圣地加州硅谷。創(chuàng)立于2007年，團對的核心人員有超過20年的表面檢測技術設備制造和設計經(jīng)驗。作為公司名譽董事，美國斯坦福大學的電子工程系著名的半導體檢測技術專家，前系主任Fabian Pease教授，給予公司發(fā)展的最大支持，也讓AEP公司獨特的多模式技術成為表面形貌檢測新技術的領導者。 成立以來AEP公司推出了探針掃描式三維表面形貌儀，“納米尺度”臺階儀，多模式三維表面輪廓儀等，都成為行業(yè)的引領，其核心專利技術保證，至今沒有其他公司超越。
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