- 關(guān)于
美國AEP
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- 美國AEP Technology Inc.公司位于全球的創(chuàng)新圣地加州硅谷。創(chuàng)立于2007年,團對的核心人員有超過20年的表面檢測技術(shù)設(shè)備制造和設(shè)計經(jīng)驗。作為公司名譽董事,美國斯坦福大學(xué)的電子工程系著名的半導(dǎo)體檢測技術(shù)專家,前系主任Fabian Pease教授,給予公司發(fā)展的最大支持,也讓AEP公司獨特的多模式技術(shù)成為表面形貌檢測新技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)者。 成立以來AEP公司推出了探針掃描式三維表面形貌儀,“納米尺度”臺階儀,多模式三維表面輪廓儀等,都成為行業(yè)的引領(lǐng),其核心專利技術(shù)保證,至今沒有其他公司超越。
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