美國(guó)Frontier Semiconductor產(chǎn)品
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美國(guó)Frontier Semiconductor Line Card
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美國(guó)Frontier Semiconductor 全自動(dòng)紫外線芯片應(yīng)力測(cè)量?jī)xFSM360
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美國(guó)Frontier Semiconductor 薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測(cè)儀
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美國(guó)Frontier Semiconductor 紅外干涉測(cè)量設(shè)備FSM 413
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美國(guó)Frontier Semiconductor 薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備FSM 128
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美國(guó)Frontier Semiconductor 薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備FSM 500TC
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美國(guó)Frontier Semiconductor 晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)FSM 413 EC
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美國(guó)Frontier Semiconductor Line 連續(xù)式四探針片電阻及光學(xué)膜厚測(cè)量設(shè)
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FSM - 應(yīng)力及厚度在線量測(cè)系統(tǒng)
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FRONTIER? FC5515 微量高速離心機(jī)
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珀金埃爾默F(xiàn)rontier傅里葉變換紅外光譜儀
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氫氧化鉀,semiconductor grade, pellets, 99.99%
- 關(guān)于
美國(guó)Frontier Semiconductor
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- Frontier Semiconductor,Inc (FSM)為半導(dǎo)體,LED,太陽(yáng)能,平板顯示,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和MEMS應(yīng)用提供一系列先進(jìn)的產(chǎn)品測(cè)量和解決方案。 FSM在應(yīng)力測(cè)量,薄膜粘附力測(cè)試,晶片形狀測(cè)量和電性表徵方面有超過(guò)25年的經(jīng)驗(yàn)。 最新的產(chǎn)品具獨(dú)特的技術(shù),以滿(mǎn)足3DIC製造的計(jì)量需求。
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