產(chǎn)品名稱(chēng):橢圓偏振光譜儀
產(chǎn)地:法國(guó)
型號(hào):UVISEL PLUS
典型用戶(hù):NASA 戈達(dá)德太空飛行中心
汽車(chē)
薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)表征
工藝對(duì)鍍膜的影響分析
漸變層、界面層等分析
膜層不均勻性成像分析
在線(xiàn)監(jiān)測(cè)
具備超薄膜所需的測(cè)量精度、超厚膜所需的高光譜分辨率
多個(gè)實(shí)用微光斑尺寸選項(xiàng)
可用于在線(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)
自動(dòng)平臺(tái)樣品掃描成像、變溫臺(tái)、電化學(xué)反應(yīng)池、液體池、密封池等
配置靈活,測(cè)量范圍可擴(kuò)展至 190 nm~2100 nm
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