掃描電鏡全稱掃描電子顯微鏡(SEM),是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。
掃描電鏡是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細(xì)胞生物學(xué)究工具,主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài),即用極狹的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng),其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放形貌像,這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的,即使用逐成像的方法獲得放大像。

掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn):
1、能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu),樣品的尺寸120mm×80mm×50mm。
2、樣品制備過程簡單,不用切成薄片。
3、樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉(zhuǎn),因此,可以從各種角度對樣品進(jìn)行觀察。
4、景深大,圖象富有立體感。掃描電鏡的深較光學(xué)顯微鏡大幾百倍,比透射電鏡大幾十倍。
5、圖像的放大范圍廣,分辨率也比較高??煞糯笫畮妆兜綆资f倍,它基本上包括了從放大鏡、光學(xué)顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。分辨率介于光學(xué)顯微鏡與透射電鏡之間,可達(dá)3nm。
6、電子束對樣品的損傷與污染程度較小。
7、在觀察形貌的同時,還可利用從樣品發(fā)出的其他信號作微區(qū)成分分析。
掃描電鏡的缺點(diǎn):
1、異常反差。由于荷電效應(yīng),二次電子發(fā)射受到不規(guī)則影響,造成圖像一部分異常亮,另一部分變暗。
2、圖像畸形。由于靜電場作用使電子束被不規(guī)則地偏轉(zhuǎn),結(jié)果造成像畸變或出現(xiàn)階段差。
3、圖像漂移。由于靜電場作用使電子束不規(guī)則偏移引起圖像的漂移。
4、亮點(diǎn)與亮線。帶電樣品常常發(fā)生不規(guī)則放電,結(jié)果圖像中出現(xiàn)不規(guī)則的亮點(diǎn)和亮線。
透射電子顯微鏡,簡稱透射電鏡,是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān),因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射電子顯微鏡的分辨0.1~0.2nm,放大倍數(shù)為幾萬~百萬倍,用于觀察超微結(jié)構(gòu),即小于0.2微米、光學(xué)顯微鏡下無法看清的結(jié)構(gòu),又稱“亞顯微結(jié)構(gòu)”。
透射電鏡的優(yōu)點(diǎn):
光學(xué)顯微鏡和透射電子顯微鏡都使用用薄片的樣品,而透射電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)是,它比光學(xué)顯微鏡更大程度的放大標(biāo)本。放大10000倍或以上是可能的,這使科學(xué)家可以看到非常小的結(jié)構(gòu)。對于生物學(xué)家,如線粒體和細(xì)胞器,細(xì)胞,內(nèi)部運(yùn)作都清晰可見。透射電鏡標(biāo)本的晶體結(jié)構(gòu)提供了出色的分辨率,甚至可以顯示樣本內(nèi)的原子排列。
透射電鏡的缺點(diǎn):
透射電子顯微鏡需要在一個真空室制備標(biāo)本。由于這一要求,在顯微鏡可以用來觀察活標(biāo)本時,如原生動物一些微妙的樣品也可能被電子束損壞,必須先用化學(xué)染色或涂層來保護(hù)他們。這種ZL有時會破壞試樣。

在以存儲器器件為代表的集成電路芯片的電子顯微分,掃描電鏡由于使用方便,往往是微觀分析的shou選。另外不需要得到體內(nèi)信號,結(jié)構(gòu)信號,制樣方便,制樣周期短,需要非破性的分析,樣品表面結(jié)構(gòu)保存好,沒有變形和污染,樣品干燥并且有良好導(dǎo)電性能使用掃描電鏡比較合適。
對于目標(biāo)更小的分析需求以及要求高精度的場合,則必須進(jìn)行透射電鏡分析,那些需要得到樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的也需要選用透射電鏡。以前透射電鏡只是作為一種重要的科研儀器,然而當(dāng)今的半導(dǎo)體制造由于采用了各種先進(jìn)技術(shù),器具逐漸縮小,透射電鏡得到了更多的應(yīng)用。
在要求精度不是很高,制樣方便,有良好的形貌,不需要得到體內(nèi)信號,結(jié)構(gòu)信號場合。將掃描電鏡和透射電鏡有機(jī)的結(jié)合起來,相互補(bǔ)充,將能得到更加精確的分析結(jié)果。
全部評論(0條)
掃描電鏡-國儀量子鎢燈絲掃描電鏡SEM2100
報(bào)價:面議 已咨詢 763次
掃描電鏡-國儀量子鎢燈絲掃描電鏡
報(bào)價:面議 已咨詢 1830次
掃描電鏡-國儀量子鎢燈絲掃描電鏡 SEM3300
報(bào)價:面議 已咨詢 729次
Quattro掃描電鏡
報(bào)價:面議 已咨詢 3749次
場發(fā)射掃描電鏡-國儀量子場發(fā)射掃描電鏡 SEM5000Pro
報(bào)價:面議 已咨詢 947次
掃描電鏡 -國儀量子場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000X
報(bào)價:面議 已咨詢 263次
臺式掃描電鏡
報(bào)價:面議 已咨詢 310次
飛納臺式掃描電鏡高分辨率專業(yè)版 Phenom Pro
報(bào)價:面議 已咨詢 5046次
掃描電鏡使用方法
2025-10-21
掃描電鏡能譜分析
2025-10-22
掃描電鏡管理制度
2025-10-22
掃描電鏡分類
2025-10-19
掃描電鏡用途
2025-10-21
掃描電鏡應(yīng)用
2025-10-22
①本文由儀器網(wǎng)入駐的作者或注冊的會員撰寫并發(fā)布,觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表儀器網(wǎng)立場。若內(nèi)容侵犯到您的合法權(quán)益,請及時告訴,我們立即通知作者,并馬上刪除。
②凡本網(wǎng)注明"來源:儀器網(wǎng)"的所有作品,版權(quán)均屬于儀器網(wǎng),轉(zhuǎn)載時須經(jīng)本網(wǎng)同意,并請注明儀器網(wǎng)(m.sdczts.cn)。
③本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明來源的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
④若本站內(nèi)容侵犯到您的合法權(quán)益,請及時告訴,我們馬上修改或刪除。郵箱:hezou_yiqi
金相鑲嵌機(jī)不只是“包起來”:3大核心作用如何決定你樣品的成???
參與評論
登錄后參與評論