掃描電鏡有多項性能和技術指標,例如:分辨率、放大倍率誤差、低倍畸變、束流穩(wěn)定性、樣品污染率、真空度、換樣品抽真空時間、開機到工作抽真空時間、樣品臺位移距離等,這些均有量化指標。其中,掃描電鏡的分辨率、放大倍數(shù)等參數(shù)又是選購考察的首位。
分辨率是掃描電鏡Z重要指標,它反映了儀器的綜合性能。各種類型的掃描電鏡分辨率不同,標識了儀器進入做微觀領域的尺度有差異,這也是不同檔次電鏡的賣點。用戶Z關心這個指標是否符合要求。對于廠方工程師,拍攝分辨率照片也是一項技術挑戰(zhàn),要把掃描電鏡各個環(huán)節(jié)求。對于廠方工程師,拍攝分辨率照片也是一項技術挑成,要把掃描電鏡各個環(huán)節(jié)調整到Z佳狀態(tài),選用幾乎極限的操作條件,反復拍照,直到拿出滿意照片。

電子源:
燈絲(電子槍)是電子源的提供者,也是掃描電鏡Z重要的部件,燈絲所發(fā)射電子的密度、束斑尺寸、能量分布將決定性影響掃描電鏡的分辨率。
1、鎢燈絲
鎢燈絲具有結構簡單、束流大、真空要求低、易更換等優(yōu)點,但是由于其束流密度小、信噪比差、化學穩(wěn)定性差、且使用壽命短(80-100h),因此,在使用過程中需要高頻率的更換燈絲,以確保掃描電鏡保持較為穩(wěn)定的分辨率。
2、CeB6燈絲
CeB6燈絲亮度為1000A/cm2,是鎢燈絲亮度的10倍,因此具有更高的分辨率。CeB6燈絲具有更好的抗干擾能力,工作溫度為1800K,遠低于鎢燈絲工作溫度(2800K),燈絲揮發(fā)量相對較小,因此使用壽命基本都可達到1500h,如果再加以規(guī)范管理,使用壽命可進一步延長。
電子光路系統(tǒng):
在電子光路系統(tǒng)中,電子槍柵極到陽極區(qū)間是受陰極蒸氣污染較為嚴重的區(qū)域,需要定時對韋氏帽、陽極等進行超聲、拋光清理才能維持掃描電鏡良好的狀態(tài)。如果清理時操作不當或者環(huán)境灰塵較多,還有可能造成光路系統(tǒng)的二次污染,更換燈絲的頻率越高,受污染的概率也會增大,這也是鎢燈絲掃描電鏡性能衰減嚴重的主要原因之一。
標樣為碳臺上的鍍金顆粒,這種標樣的優(yōu)點如下:碳與金的原子序數(shù)相差大,標樣木身的自然襯度高,便于掃描電鏡選擇Z小束斑進行高分辨成像;標樣導電導熱性能好,在電子束穩(wěn)定;金顆粒尺寸2nm~30nm,適用于放大倍數(shù)5萬倍以上的圖像。
另外一種標樣是碳臺上的錫球,樣品自然襯度高;比金顆粒更耐電子束輻照,高倍時在某一個部位反復消像散和聚焦,錫球不會污染變黑;錫球尺寸3nm~30um,這樣寬的尺寸范圍適用于放大倍率從低到高校準儀器,圓球便于消除像散。通??梢园堰@兩個標樣同時放入掃描電鏡,先利用錫球調整儀器,再用金顆粒拍分辨率照片。

分辨率照片為金顆粒的二次電子像,拍攝條件各公司略有不同,場發(fā)射掃描電鏡放大倍率選20萬倍或30萬倍;加速電壓15kV~30kV;工作距離2mm~5mm。對于常規(guī)掃描電鏡放大倍率只選10萬倍。金顆粒圖像邊緣要清晰,沒有明顯像散。
如何評定是否達到分辨率要求?(例如場發(fā)射電鏡為1nm,常規(guī)電鏡為3nm)有幾種方法:傳統(tǒng)方法是在光學比長儀或讀數(shù)顯微鏡下測量照片上兩個Z近顆粒的間距,除以圖像放大倍率?,F(xiàn)在掃描電鏡有尺度測量功能,在圖像上直接測量顆粒大小或者兩個Z近顆粒的間距,這兩種方法均會引入操作者的瞄準誤差,測試結果有時會有爭議;有的掃描電鏡具備分辨率檢測功能,利用圖像分析程序自動給出顆粒的Z小間距,結果無可爭議。如果嚴格要求,分辨率測定應該在圖像的三個同方向上均予滿足。
分辨率檢測還有低加速電壓的規(guī)定,場發(fā)射掃描電鏡在1kV、20萬倍或10萬倍下拍照,分辨率指標為2nm;常規(guī)掃描電鏡在3kV、5萬倍下拍照,分辨率要求5nm。
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