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金涂布石英晶片校正
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本文由 美國Gamry電化學(xué) 整理匯編
2024-09-14 07:38 1496閱讀次數(shù)
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引言
本應(yīng)用報(bào)告涉及eQCM 10MTM,并假設(shè)您已經(jīng)閱讀且理解了《石英晶體微天平》應(yīng)用報(bào)告中講述的內(nèi)容。
本文闡述一個(gè)在金電極上實(shí)現(xiàn)的Cu2+/Cu間氧化還原的簡單實(shí)驗(yàn)。我們用測試結(jié)果計(jì)算晶體的校正因子。反過來,我們還展示了如何采用校正因子計(jì)算沉積物的摩爾質(zhì)量。
每一個(gè)晶體都有理論校正因子。然而,在典型實(shí)驗(yàn)條件下,這些校正因子略有差異。我們采用Cu2+計(jì)算校正因子,然后可以用到相同晶體的后續(xù)實(shí)驗(yàn)中。
Cu2+還原是兩電子反應(yīng):
CuSO 4 (aq) + 2 e- qcm pic1Cu (s) + SO 4 2- (aq)
我們的目標(biāo)是還原Cu2+到金電極上,然后用頻率的降低和通過的電荷計(jì)算校正因子。
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金涂布石英晶片校正
- 引言
本應(yīng)用報(bào)告涉及eQCM 10MTM,并假設(shè)您已經(jīng)閱讀且理解了《石英晶體微天平》應(yīng)用報(bào)告中講述的內(nèi)容。
本文闡述一個(gè)在金電極上實(shí)現(xiàn)的Cu2+/Cu間氧化還原的簡單實(shí)驗(yàn)。我們用測試結(jié)果計(jì)算晶體的校正因子。反過來,我們還展示了如何采用校正因子計(jì)算沉積物的摩爾質(zhì)量。
每一個(gè)晶體都有理論校正因子。然而,在典型實(shí)驗(yàn)條件下,這些校正因子略有差異。我們采用Cu2+計(jì)算校正因子,然后可以用到相同晶體的后續(xù)實(shí)驗(yàn)中。
Cu2+還原是兩電子反應(yīng):
CuSO 4 (aq) + 2 e- qcm pic1Cu (s) + SO 4 2- (aq)
我們的目標(biāo)是還原Cu2+到金電極上,然后用頻率的降低和通過的電荷計(jì)算校正因子。[詳細(xì)]
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2024-09-14 07:38
應(yīng)用文章
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石英晶體微天平QCM金晶片的校準(zhǔn)
- IntroductionThisApplicationNoteisthesecondinaseriesrelatingtotheeQCM10MandassumesthatyouhavereadandunderstandthematerialcoveredintheApplicationNote,BasicsofaQuartzCrystalMicrobalance.ThepurposeofthisApplicationNoteistoshowthereaderasimpleexperimentwherewereduceCu2+ontoanAuelectrodeandthenoxidizeCubackoff.Wewillthenusetheresulttocalculateacalibrationfactorforthecrystal.Conversely,wewillshowyouhowtocalculatethemolarmassofthespeciesdepositedusingacalibrationfactor.Eachcrystalhasatheoreticalcalibrationfactor,however,undertypicalexperimentalconditions,thesecalibrationfactorswillvaryslightly.WewilluseCu2+tocalculateacalibrationfactorwhichcouldthenbeusedinsubsequentexperimentsonthesamecrystal.Cu2+isreducedinatwoelectronreactionasshownbelow:CuSO4(aq)+2e-→Cu(s)+SO42-(aq)OurgoalistoreduceCu2+ontoanAuelectrode,thenusethefrequencydecreaseandthechargepassedtocalculateacalibrationfactor.[詳細(xì)]
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2024-09-13 16:37
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涂布復(fù)合行業(yè)
- 涂布復(fù)合行業(yè)[詳細(xì)]
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2024-09-10 23:06
操作手冊
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電子天平校正
- 在檢定(測試)中我們發(fā)現(xiàn),對天平進(jìn)行S次計(jì)量測試時(shí)誤差較大,究其原因,相當(dāng)一部分儀器,在較長的時(shí)間間隔內(nèi)未進(jìn)行校準(zhǔn),而且認(rèn)為天平顯示零位便可直接稱量。(需要指出的是,電子天平開機(jī)顯示零點(diǎn),不能說明天平稱量的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度符合測試標(biāo)準(zhǔn),只能說明天平零位穩(wěn)定性合格。因?yàn)楹饬恳慌_天平合格與否,還需綜合考慮其它技術(shù)指標(biāo)的符合性)。因存放時(shí)間較長,位置移動(dòng),環(huán)境變化或?yàn)楂@得極ng確測量,天平在使用前一般都應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)操作。校準(zhǔn)方法分為內(nèi)校準(zhǔn)和外校準(zhǔn)兩種。德國生產(chǎn)的沙特利斯,瑞士產(chǎn)的梅特勒,上海產(chǎn)的“JA"等系列電子天平均有校準(zhǔn)裝置。如果使用前不仔細(xì)閱讀說明書很容易忽略“校準(zhǔn)"操作,造成較大稱量誤差。下面以上海志碩物資的JA1203型電子天平為例說明如何對天平進(jìn)行外校準(zhǔn)。方法:輕按CAL鍵當(dāng)顯示器出現(xiàn)CAL-時(shí),即松手,顯示器就出現(xiàn)CAL-100其中“100"為閃爍碼,表示校準(zhǔn)砝碼需用100g的標(biāo)準(zhǔn)砝碼。此時(shí)就把準(zhǔn)備好“100g"校準(zhǔn)砝碼放上稱盤,顯示器即出現(xiàn)"----"等待狀態(tài),經(jīng)較長時(shí)間后顯示器出現(xiàn)100.000g,拿去校準(zhǔn)砝碼,顯示器應(yīng)出現(xiàn)0.000g,若出現(xiàn)不是為零,則再清零,再重復(fù)以上校準(zhǔn)操作。(注意:為了得到準(zhǔn)確的校準(zhǔn)結(jié)果**重復(fù)以上校準(zhǔn)操作步驟兩次。)以瑞士MettlerToledoAG系列電子天平為例說明如何進(jìn)行天平內(nèi)校準(zhǔn)。方法如下:天平置零位,然后持續(xù)按住“CAL"鍵直到CALint出現(xiàn)為止,下述情況將在校準(zhǔn)時(shí)顯示:天平置零內(nèi)部校準(zhǔn)砝碼裝載完畢天平重新檢查零位天平報(bào)告校準(zhǔn)過程天平報(bào)告校準(zhǔn)完畢天平自動(dòng)回復(fù)到稱重狀態(tài)1、有的人認(rèn)為在電子天平量程范圍內(nèi)稱量的物體越重對天平的損害也就越大。這種認(rèn)識是不完全正確的。一般衡器Zda安全載荷是它所能夠承受的、不致使其計(jì)量性能發(fā)生性改變的Zda靜載荷。由于電子天平采用了電磁力自動(dòng)補(bǔ)償電路原理,當(dāng)秤盤加載時(shí)(注意不要超過稱量范圍),電磁力會將秤盤推回到原來的平衡位置,使電磁力與被稱物體的重力相平衡,只要在允許范圍內(nèi)稱量大小對天平的影響是很小的,不會因長期稱重而影響電子天平的準(zhǔn)確度。二、電子天平的維護(hù)與保養(yǎng)1、將天平置于穩(wěn)定的工作臺上避免振動(dòng)、氣流及陽光照射。2、在使用前調(diào)整水平儀氣泡至中間位置。3、電子天平應(yīng)按說明書的要求進(jìn)行預(yù)熱。4、稱量易揮發(fā)和具有腐蝕性的物品時(shí),要盛放在密閉的容器中,以免腐蝕和損壞電子天平。5、經(jīng)常對電子天平進(jìn)行自?;蚨ㄆ谕庑#WC其處于**狀態(tài)。6、如果電子天平出現(xiàn)故障應(yīng)及時(shí)檢修,不可帶“病"工作。7、操作天平不可過載使用以免損壞天平。8、若長期不用電子天平時(shí)應(yīng)暫時(shí)收藏為好。[詳細(xì)]
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2018-09-03 10:00
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- 半導(dǎo)體晶片甩干機(jī)型號:MHY-26233功能:用于半導(dǎo)體晶片高速旋轉(zhuǎn)干燥。機(jī)理:高速旋轉(zhuǎn)使半導(dǎo)體晶片充分與空氣接觸,快速干燥。參數(shù):轉(zhuǎn)速可設(shè)置范圍:300-8000/分時(shí)間可設(shè)置范圍:2*999秒基片適用范圍:10mm-150mm.結(jié)構(gòu):半導(dǎo)體晶片卡裝。[詳細(xì)]
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2018-09-17 10:00
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