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資料庫>GB/T2423.9-2001 idt IEC 60068-2-56:1988 代替:GB/T 2423.9-1989
GB/T2423.9-2001 idt IEC 60068-2-56:1988 代替:GB/T 2423.9-1989
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GB/T2423.9-2001idtIEC60068-2-56:1988代替:GB/T2423.9-1989電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cb;設備用恒定濕熱本標準用于確定電工電子產(chǎn)品,主要是指設備在高濕條件下使用和儲存的適用性。本試驗主要用以觀察試驗樣品在恒定溫度、無凝露、經(jīng)規(guī)定時間及高濕環(huán)境下的影響。
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GB/T2423.9-2001 idt IEC 60068-2-56:1988 代替:GB/T 2423.9-1989
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2018-10-25 10:00
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GB/T2423.9-2001代替GB/T2423.9-1989免費下載
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2018-09-19 10:00
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GB/T 2423.43-2008/IEC 60068-2-47:2005代替GB/T2423.43-1955
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2018-09-19 10:00
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GB/T2423.8-1995 idt IEC68-2-32:1990 代替 GB 2423.8-81/GB 2424.6-81
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2018-10-25 10:00
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GB/T 2423. 27-2005/IEC 60068-2-39;1976
- GB/T2423.27-2006八EC60068-2-39:1976免費下載前言本部分是GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》的一部分。本部分等同采用IEC60068-2-39;1976《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分:試驗方法試驗Z/AMD:寒冷、低氣壓和濕熱連續(xù)綜合試驗》(英文版)。本部分技術內(nèi)容與IEC60068-2-39:1976《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分,試驗方法試驗Z/AMD:寒冷、低氣壓和濕熱連續(xù)綜合試驗)(英文版)相同,編寫格式與表達方式符合GB/T1.12000和GB/T20000.2-2001的有關規(guī)定。為便于使用,本部分對于IEC60068-2-39;1976作了下列編輯性修改:a)為了GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》各部分的名稱協(xié)調(diào)一致,本部分未完全采用IEC60068-2-39;1976的中文譯名,而改為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗》;b)刪除了IEC60068-2-39;1976的前言本部分發(fā)布實施后代替GB/T2423.27-1981《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法》。本部分與GB/T2423.27-1981相比主要變化如下:a)為了GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》各部分的名稱協(xié)調(diào)一致,本部分名稱改為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗》;b)第1章“目的”和第2章“試驗的一般說明”的文字敘述與原來有所不同。本部分由ZG電器工業(yè)協(xié)會提出。本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術標準化技術委員會歸口。本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人:邱福來、張錚本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:-GB/T2423.27-1981。[詳細]
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2018-10-02 10:03
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GB/T10485-2007代替GB/T10485-1989
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2018-09-29 10:02
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2018-09-19 10:00
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GB/T2423.6-1995idt IEC68-2-29:1987 代替GB 2423.6-81/GB 2424.4-81
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2018-10-25 10:00
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2018-09-29 10:01
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Zxin農(nóng)作物種子檢驗規(guī)程總則 GB/T 3543.1-1995(代替GB 3543- 83)
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2018-11-13 15:46
產(chǎn)品樣冊
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2018-09-29 10:01
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2014-05-28 00:00
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2018-09-02 10:00
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2018-09-19 10:00
產(chǎn)品樣冊
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2018-09-04 10:00
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2018-09-29 10:01
產(chǎn)品樣冊
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- GB/T2423.24-1995idtIEC68-2-5:1975電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射太陽輻射試驗是一項會直接危害試驗人員健康的試驗,為此試驗前必須仔細閱讀GB/T2424.14-1995[電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法太陽輻射試驗導則】第9章的內(nèi)容免費下載地址:www.010bjlh.com[詳細]
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2018-10-25 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB T 7141.pdf
- GB T 7141.pdf[詳細]
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2015-03-23 00:00
選購指南
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GB T 19394.pdf
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2015-03-13 00:00
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GB/T 8019-2008
- GB/T 8019-2008[詳細]
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2012-10-17 00:00
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