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ISOLAB移液管證書查詢指南
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2013-11-08 00:00 338閱讀次數(shù)
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ISOLAB移液管證書查詢指南
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ISOLAB移液管證書查詢指南
- ISOLAB移液管證書查詢指南[詳細]
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2013-11-08 00:00
操作手冊
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移液管使用說明
- 移液管使用說明[詳細]
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2014-08-18 00:00
標(biāo)準(zhǔn)
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移液管相關(guān)
- 基因組DNA相關(guān)基因組DNA提取試劑盒簡介:DNA是遺傳信息的載體,是Z重要的生物信息分子,是分子生物學(xué)研究的主要對象,為了進行測序、雜交、基因表達、文庫構(gòu)建等試驗,獲得高分子量和高純度的基因組DNA是非常重要的前提,因此基因組DNA的提取也是分子生物學(xué)試驗技術(shù)中Z重要、Z基本的操作之一。Solarbio公司提供各種不同樣品基因組DNA提取試劑盒,如植物、動物、細菌、細胞、血液、酵母等基因組DNA提取試劑盒。所提取的基因組純度高,片段大小在50kb左右。用戶可根據(jù)需要選用不同的試劑盒來進行不同樣品的抽提?;蚪MDNA提取的原則:1、保證核酸一級結(jié)構(gòu)的完整性(因為遺傳信息全部儲存在核酸一級結(jié)構(gòu)中,故完整的一級結(jié)構(gòu)是保證核酸結(jié)構(gòu)與功能研究的基礎(chǔ))。2、排除其它分子(如蛋白質(zhì)、多糖、脂類、有機溶劑等)的污染,使下游試驗順利進行?;蚪MDNA提取的原理和方法:DNA與組蛋白構(gòu)成核小體,核小體纏繞成中空的螺旋管狀結(jié)構(gòu),即染色絲,染色絲再與許多非組蛋白形成染色體。染色體存在于細胞核中,外有核膜及胞膜。從組織中提取DNA必須先將組織分散成單個細胞,然后破碎胞膜及核膜,使染色體釋放出來,同時去除與DNA結(jié)合的組蛋白及非組蛋白。1、樣品預(yù)處理從各種不同來源的樣品(如細菌、酵母、血液、動植物組織細胞等)中提取高純度的基因組DNA,因細胞結(jié)構(gòu)及其成分不同,樣品預(yù)處理方式也不同,以下簡單介紹常用提取材料的預(yù)處理方式,若需詳細了解,請參考本公司各基因組DNA提取試劑盒說明書。部分樣品預(yù)處理方式:植物材料液氮研磨動物材料勻漿、液氮研磨培養(yǎng)細胞蛋白酶K處理細菌溶菌酶破壁酵母破壁酶破壁、玻璃珠研磨血液紅細胞裂解液去紅細胞2、細胞裂解CTAB法:適用于植物組織、真菌等。CTAB是一種陽離子去污劑,可溶解細胞膜,并與核酸形成復(fù)合物。該復(fù)合物在高鹽溶液中(>0.7MNaCl)是可溶的,通過有機溶劑抽提,去除蛋白、多糖、多酚等雜質(zhì)后加入乙醇沉淀即可使核酸分離出來。SDS法:適用于細菌、血液、酵母、動物組織、細胞等。SDS是一種陰離子去污劑,可溶解細胞膜,裂解細胞,使蛋白質(zhì)變性、染色體解體。其它裂解方法:物理方式:機械剪切、超聲波破碎、研磨勻漿等化學(xué)方式:異硫氰酸胍、堿裂解等酶法:蛋白酶K3、DNA分離純化純化要求:核酸樣品中不應(yīng)存在對酶(如核酸內(nèi)切酶、DNA聚合酶等)有YZ作用的成分。其它生物大分子如蛋白質(zhì)、多糖、多酚和脂類分子等污染應(yīng)降低到Zdi程度。排除其它核酸分子的污染,如提DNA時應(yīng)去除RNA,反之亦然。純化方法:細胞破碎后,常使用吸附材料結(jié)合方法去除雜質(zhì)和純化DNA,主要有硅基質(zhì)材料、陰離子交換樹脂和磁珠等。因硅基質(zhì)材料可特異吸附核酸DNA,使用方便、快捷,不需要使用有毒溶劑如酚、氯仿等,使得提取基因組像過濾一樣簡單,因此硅基質(zhì)材料成為大規(guī)模分離純化DNA的通用方法。硅基質(zhì)材料吸附核酸的原理:主要利用DNA在高鹽低pH值環(huán)境下與硅基質(zhì)材料相結(jié)合,在低鹽高pH值環(huán)境下與硅基質(zhì)材料脫離的特征。其機理可能是高濃度鹽離子破壞了硅基質(zhì)水分子結(jié)構(gòu),形成陽離子橋,當(dāng)鹽被清除后,再水化的硅石破壞了基質(zhì)和DNA之間的吸引力,因而DNA從硅基質(zhì)上被洗脫下來。注意事項:盡量簡化操作步驟,縮短提取過程,以減少各種有害因素對核酸的破壞。減少化學(xué)物質(zhì)對DNA的降解,為避免過酸、過堿對DNA雙鏈中磷酸二酯鍵的破壞,操作多在pH值4.0-10.0的條件下進行。防止基因組DNA的生物降解,主要是DNase降解基因組DNA,DNase需二價金屬陽離子如Mg2+等的激活,可用EDTA等金屬離子螯合劑螯合Mg2+以YZDNase的活性。減少物理因素對DNA的降解,物理降解因素主要包括機械剪切力(如劇烈振蕩、攪拌等),細胞突然置于低滲液中導(dǎo)致的細胞爆炸式破裂,DNase大量釋放,樣品反復(fù)凍融和高溫等。4、DNA洗脫收集DNA的洗脫效率取決于以下重要因素:洗脫液成分:采用硅基質(zhì)膜吸附的DNA,可將DNA在低鹽高pH值條件下洗脫下來。pH值在7.0-8.5之間洗脫效率較高,pH值低于7.0則洗脫效率很低。一般基因組提取試劑盒中的洗脫緩沖液就是TE(pH8.0),既為DNA從硅基質(zhì)膜上洗脫下來提供良好的pH環(huán)境,其中的EDTA又能保證DNA不被DNase降解,同時由于EDTA濃度非常低,對核酸內(nèi)切酶、DNA聚合酶的影響非常微弱,不影響后續(xù)實驗,可放心使用。洗脫液體積:當(dāng)洗脫液體積小于30ul時,洗脫效率很低且不穩(wěn)定;當(dāng)洗脫液體積在50-200ul時,洗脫效率穩(wěn)定在80-90,并可保證得到Zda產(chǎn)量,因此洗脫液體積不能小于30ul。加洗脫液部位:100-200ul洗脫液能完全覆蓋硅基質(zhì)膜,DNA的洗脫量可得到保證,但當(dāng)洗脫液體積較少如30-50ul時,須在硅基質(zhì)膜中間部分懸空滴加洗脫液,以確保少量的洗脫液能完全覆蓋硅膠膜。洗脫液的溫度:在加洗脫液之前,先將洗脫液在60-75℃水浴中預(yù)熱10分鐘,可有效提高DNA的洗脫效率。洗脫時間和次數(shù):加入預(yù)熱的洗脫液后,可在室溫放置2-5分鐘使DNA完全溶解在洗脫液里通過離心而洗脫下來。同時可進行二次或三次洗脫,即將前次洗脫下來的洗脫液再上柱、離心,使前次沒有洗脫下來的DNA再次溶解在洗脫液里,從而提高DNA的產(chǎn)量。5、DNA的定量及檢測提取得到的DNA*片段需從分子質(zhì)量、濃度、純度等方面進行檢測,從而判斷DNA質(zhì)量。用瓊脂糖凝膠電泳分析DNA分子質(zhì)量:得到的基因組DNA*片段的大小與樣品保存時間、操作過程中的剪切力等因素有關(guān)。Solarbio公司的基因組DNA提取試劑盒提取的不同材料基因組DNA*片段大小一般在50kb左右,能很好地滿足后續(xù)試驗的要求。通常用瓊脂糖凝膠電泳分析DNA分子質(zhì)量時,以溴酚藍為示蹤染料,EB染色,紫外觀察,并與DNA分子量標(biāo)準(zhǔn)對照即可判斷所提DNA的平均分子量。高質(zhì)量的基因組DNA應(yīng)顯示為單一條帶,如DNA降解則表現(xiàn)為彌散條帶。用紫外分光光度計檢測DNA濃度和純度:濃度測定:DNA在OD260處有顯著吸收峰,OD260值為1相當(dāng)于大約50ug/ml雙鏈DNA。以下簡單介紹OD260的測定方法:所提基因組DNA樣品=100ul進行OD260值測定的待測樣品=20ul所提基因組DNA樣品+180ulTE=200ulDNA稀釋倍數(shù)=200ul/20ul=10倍如200ul待測樣品OD260值=0.2待測樣品濃度(即100ul基因組DNA樣品濃度)=50ug/ml×OD260值×稀釋倍數(shù)=100ug/ml所提100ul基因組DNA樣品總量=100ug/ml×100ul=10ugDNA純度測定:一般用OD260/OD280值檢測DNA樣品的純度。正常OD260/OD280值約為1.7-1.9,說明DNA純度較好;若OD260/OD280值小于1.7,說明可能有蛋白污染;若OD260/OD280值大于2.0,說明可能有RNA污染或DNA已經(jīng)降解。注:因為pH值和離子會影響光吸收值,因此洗脫時如不使用洗脫緩沖液,而使用去離子水,OD260/OD280值會偏低,但并不表示純度低。6、DNA的儲存儲存溶液:DNA為兩性解離分子,在堿性條件下較穩(wěn)定,因此一般用TE(pH8.0)保存。TE的成分為:10mMTris-HCl(Tris與鹽酸形成強的緩沖對);1mMEDTA(乙二胺四乙酸,能螯合二價金屬陽離子,YZDNase的活性);pH8.0(堿性條件可減少DNA的脫氨作用,防止降解)。ddH2O的正常pH值為7.0,可作為DNA的儲存液,但有些實驗室制備的ddH2O呈酸性(pH值小于7.0),這不僅影響DNA的洗脫效率,而且導(dǎo)致長時間保存的DNA容易發(fā)生降解。因此建議用TE作為DNA的長期儲存液。儲存條件:為避免DNA降解,提取的DNA應(yīng)先進行分裝,然后置于-20℃或-70℃保存,同時注意避免反復(fù)凍融造成DNA降解。[詳細]
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2024-09-25 13:16
產(chǎn)品樣冊
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產(chǎn)品介紹 - 移液管架及移液管筒
- 產(chǎn)品介紹 - 移液管架及移液管筒[詳細]
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2024-09-12 18:30
應(yīng)用文章
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GSR電磁閥型號查詢手冊
- GSR電磁閥常用型號:A8121/1701/.122-HA流量檢測裝置F4923/0801/.702-HA流量檢測裝置E24120404T402TH流量測量裝置D2206/0501/8005-EZ022.001023調(diào)節(jié)閥K0460530250V/3,0A變流器D4323.1001.012XX0-12bar,G1/2電磁閥D2208/0401/7008-EE0-4bar,DN80電磁閥A6325/2004/9305閥D40250801.032XX,0.3-20bar,230V,50-60Hz自動控制器G075.000136.090.099.090(withK0591490)油壓傳動閥032(K0510390)電磁閥D220404027505-LKDN32PN16D220404027505-LKDN32PN16K051189GO1014193K051189GO1014193A6327110117108XXG6/4DN400-16mpaGSR8450600A6327110117108XXG6/4DN400-16mpaGSR8450600G00911234(A632311047105VW)G00911234(A632311047105VW)AU712050(A632311047105VW)AU712050(A632311047105VW)G01000648100barDC24V1/313-24-0804-2727542/1004/.802-HD7823/0804/.7008-UN5021/1001/.0125243/1002/.0123521/1004/.8023521/1004/.802-N04622/0804/.802-N04021/1001/.182A52401004012XXDC24VK0510356AC24VD43231001322EJG1/2G00801078V0097.001158U2262400+KD51031024V11W1**%EDK0510390Pressure:0.5~16BarD4323/1001/702-OF-EEXG1/2DC24VgsrF4923/0801/.702-HAgsrA8121/1701/.122-HAgsrE24120404T402THgsrD2206/0501/8005-EZ022.001023gsrK0460530250V/3,0AgsrD2205/0402/7505-LKgsrA7231.1002.182.XX0-8barG1/8gsrD220604017005EET0-3barDN50gsrD4323.1001.012XX0-12bar,G1/2gsrD2208/0401/7008-EE0-4bar,DN80gsrA4825/1001/.322-QX,24VgsrB4327/1001/.322-HA,24VKO510142AC220V/18.5WGSR25DN255-90℃0.3-16barK051701024VDC25WE4325/1001/.0324328/1001/.322D2409/0401/272232PSIGO0705505,G072.000206.010.009.010,A72311002.182XX0-8barG1/8SERIAL:5.0824VDCA4025/0802.032NCG1DC24VA4025/0802.032NCG1DC24Vg00700212DN501.4581,DN25,K0510390(AU700521)230V50HZ,15VA,1**%ED6325/1101/7108SWXXG10-16barrg-5nbrThreadedconnection6327/1101/7108SWXXG3/20-16barrg-5nbrThreadedconnection6328/1101/7108SWXXG20-16barrg-5nbrThreadedconnectionGO1000009D220804017008XXTpressure:0-4barDN8[詳細]
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2018-12-31 10:00
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ISOLAB 產(chǎn)品圖錄 2015
- ISOLAB 產(chǎn)品圖錄 2015[詳細]
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2015-04-13 00:00
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德國ISOLAB品牌經(jīng)銷商招募政策 進口容量瓶 進口移液管 進口玻璃量筒 進口燒杯燒瓶誠招代理
- 德國ISOLAB品牌經(jīng)銷商招募政策 進口容量瓶 進口移液管 進口玻璃量筒 進口燒杯燒瓶誠招代理[詳細]
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2014-01-06 00:00
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2024-09-13 02:08
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2014-01-10 00:00
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2009-05-04 00:00
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2009-05-04 00:00
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2018-08-10 10:58
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河豚毒素證書
- 美國生產(chǎn)的河豚毒素標(biāo)準(zhǔn)品證書[詳細]
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2018-08-18 10:00
產(chǎn)品樣冊
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- 溫濕度檢定箱檢定證書-山東智拓儀器儀表有限公司[詳細]
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2024-09-20 00:04
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- <國際規(guī)范查詢目錄>GB-電氣、電子元器件、信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)號標(biāo)準(zhǔn)名稱32GB/T17625.3-1999電磁兼容試驗和測試技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗33GB/T17626.3-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗34GB/T17626.5-1999電磁兼容試驗和測試技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗35GB/T17626.12-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)振蕩波抗擾度試驗36GB/T1772-1979電子元器件失效率試驗方法KOWIN(快速溫變試驗箱,ESS應(yīng)力篩選試驗箱)37GB/T2036-1994印制電路術(shù)語38GB/T2471-1995電阻器和電容器優(yōu)先系數(shù)39GB/T2691-199l電阻器和電容器標(biāo)志代號40GB/T3388-1982壓電陶瓷材料型號命名方法41GB/T4210-1984電子設(shè)備用機電組件名詞術(shù)語42GB/T4475-1995敏感元器件術(shù)語43GB/T4588.3-1988印刷電路板設(shè)計和使用44GB/T4588.4-1996多層印制板分規(guī)范45GB/T4677.12-1988印刷電路板互連電阻測試方法46GB/T4677.16-1988印刷電路板一般檢驗方法47GB/T4706.1-1992家用和類似用途電器的安全通用要求48GB/T4793.1-1995測量、控制和試驗室用電氣設(shè)備的安全要求49GB/T5489-1985印刷電路板制圖50GB/T5965-2000半導(dǎo)體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路**篇雙極型單片數(shù)字集成電路門電路(不包括自由邏輯數(shù)組)空白詳細規(guī)范51GB/T6587.1電子測量儀器環(huán)境試驗總綱52GB/T6587.2電子測量儀器溫度試驗KOWIN(高低溫試驗箱,高溫老化箱,低溫試驗箱)53GB/T6587.3電子測量儀器濕度試驗KOWIN(溫濕度試驗箱,濕熱試驗箱,高低溫濕熱試驗箱)54GB/T6587.4電子測量儀器振動試驗KOWIN(電磁振動臺,垂直水平振動臺)55GB/T6587.5電子測量儀器沖擊試驗KOWIN(冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱)56GB/T6587.6電子測量儀器運輸試驗KOWIN(模擬運輸振動臺)57GB/T6587.7電子測量儀器基本安全試驗58GB/T6587.8電子測量儀器電源頻率與電壓試驗59GB/T6593-1996電子測量儀器質(zhì)量檢驗規(guī)則60GB/T6833.1-1986電子測量儀器電磁兼容性試驗規(guī)范總則61GB/T6833.2-1987電子測量儀器電磁兼容性試驗規(guī)范磁場敏感度試驗62GB/T6833.3-1987電子測量儀器電磁兼容性試驗規(guī)范靜電放電敏感度試驗63GB/T6833.4-1987電子測量儀器電磁兼容性試驗規(guī)范電源瞬態(tài)敏感度試驗64GB/T6833.5-1987電子測量儀器電磁兼容性試驗規(guī)范輻射敏感度試驗65GB/T6833.6-1987電子測量儀器電磁兼容性試驗規(guī)范傳導(dǎo)敏感度試驗66GB/T6833.7-1987電子測量儀器電磁兼容性試驗規(guī)范非工作狀態(tài)磁場干擾試驗67GB/T6833.8-1987電子測量儀器電磁兼容性試驗規(guī)范工作狀態(tài)磁場干擾試驗68GB/T6833.9-1987電子測量儀器電磁兼容性試驗規(guī)范傳導(dǎo)干擾試驗69GB/T6833.10-1987電子測量儀器電磁兼容性試驗規(guī)范輻射干擾試驗70GB/T6991-1986電子元器件可靠性資料表示法71GB/T6993-1986系統(tǒng)和設(shè)備研制生產(chǎn)中的可靠性程序72GB/T7269-1987電子設(shè)備控制臺的布局、型式和基本尺寸73GB/T93151988印刷電路板外形尺寸系列74GB/T11279-1989電子元器件環(huán)境試驗使用導(dǎo)則■其它類1SJ/T10149-199l電子元器件圖形庫半導(dǎo)體分立器件圖形2SJ/T10150-1991電子元器件圖形庫電阻器、電容器、電感器圖形3SJ/T10224-199lCAD繪制電子產(chǎn)品圖樣用圖形和符號庫標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)件圖形4SJ/T10225-1991電子元器件圖形庫機電元器件圖形5QJ/T1239-87電子設(shè)備環(huán)境試驗條件和方法www.kowintest.com6QJ/T1693-1989電子元器件防靜電要求7QJ/T1875-1990靜電測試方法8QJ/T1950-1990防靜電操作系統(tǒng)技術(shù)要求9QJ/T2245-1992電子儀器和設(shè)備防靜電要求[詳細]
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2018-10-11 10:00
產(chǎn)品樣冊
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