本文由 美國(guó)標(biāo)樂（原廠） 整理匯編

2024-09-14 08:57 655閱讀次數(shù)

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  2024-09-29 21:12

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  渦輪增壓器部件的失效分析[詳細(xì)]

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  2024-09-15 21:59

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• PCBA焊接失效分析

  目前SMT業(yè)界主流的電路板組裝技術(shù)應(yīng)該非全板回流焊接莫屬，其他當(dāng)然還有別的電路板焊接方法，而這種全板回流焊接又可以區(qū)分為單面板回焊及雙面板回焊，單面回焊的板子現(xiàn)在很少人使用了，因?yàn)殡p面回焊可以節(jié)省電路板的空間，也就是說(shuō)可以讓產(chǎn)品做到更小，所以市面上看到的板子大多屬于雙面回焊制程。 接下來(lái)我們一起來(lái)了解一下常用的焊點(diǎn)檢查方法： 1、X-ray射線檢測(cè)； 2、金相切片分析； 3、SAT超聲波掃描檢查； 4、掃描電鏡與能譜分析； 5、染色與滲透檢測(cè)。[詳細(xì)]

  2024-09-10 22:32

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• 6306軸承失效分析

  6306軸承失效分析[詳細(xì)]

  2024-09-28 01:24

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  減速機(jī)齒輪失效分析[詳細(xì)]

  2024-09-29 05:45

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• 土壤鑲嵌

  土壤鑲嵌[詳細(xì)]

  2016-03-17 00:00

  報(bào)價(jià)單

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• 電子元器件的密封性檢測(cè)儀

  MFY-02密封性測(cè)試儀測(cè)試原理：通過對(duì)真空室抽真空，使浸在水中的試樣產(chǎn)生內(nèi)外壓差，觀測(cè)試樣內(nèi)氣體外逸情況，以此判定試樣的密封性能;通過對(duì)真空室抽真空，使試樣產(chǎn)生內(nèi)外壓差，觀測(cè)試樣膨脹及釋放真空后試樣形狀恢復(fù)情況，以此判定試樣的密封性能。[詳細(xì)]

  2019-08-22 13:39

  應(yīng)用文章

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• Park NX-Hivac 失效分析和敏感材料研究的ZJ選擇

  Park NX-Hivac可使故障分析工程師在高真空環(huán)境中提高AFM測(cè)量的靈敏度和重復(fù)性。由于高真空測(cè)量比一般環(huán)境或干燥的氮?dú)鈼l件下具有更高的精確性、更好的重復(fù)性、更少的針尖和樣品損傷，用戶可以在各種失效分析應(yīng)用中測(cè)量更廣泛的信號(hào)響應(yīng)范圍，例如掃描擴(kuò)展電阻顯微鏡SSRM的摻雜濃度。 [詳細(xì)]

  2024-10-06 15:04

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 空壓機(jī)齒輪斷裂失效分析

  空壓機(jī)齒輪斷裂失效分析[詳細(xì)]

  2015-08-19 00:00

  期刊論文

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• 鑲嵌 應(yīng)用指南

  金相鑲樣有助于在金相試樣制備時(shí)保護(hù)和保持邊緣。保持試樣邊緣對(duì)于評(píng)估表面的結(jié)構(gòu)完整性非常重要。[詳細(xì)]

  2021-02-23 15:22

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• LNF失效分析實(shí)例：煉油廠油泵齒輪箱和發(fā)動(dòng)機(jī)油

  LNF失效分析實(shí)例：煉油廠油泵齒輪箱和發(fā)動(dòng)機(jī)油[詳細(xì)]

  2024-09-29 05:27

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• GJB 4027A-2006 電子元器件破壞性物理分析方法.

  GJB 4027A-2006 電子元器件破壞性物理分析方法.[詳細(xì)]

  2014-04-09 00:00

  操作手冊(cè)

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• 掃描電鏡在失效分析中的應(yīng)用案例

  飛納電鏡能譜一體機(jī)Phenom ProX可直觀地對(duì)選定范圍的不同問題進(jìn)行處理，例如，它的高分辨率和高景深。操作者可以在短時(shí)間內(nèi)接受培訓(xùn)，并避免在應(yīng)用過程中出現(xiàn)重大錯(cuò)誤。該設(shè)備的操作系統(tǒng)令人印象深刻。導(dǎo)航和光學(xué)相機(jī)功能有助于對(duì)測(cè)量點(diǎn)理解和選擇，并允許在SEM圖像之外記錄光學(xué)圖像。用戶可以使用鼠標(biāo)操作。根據(jù)任務(wù)和樣品的屬性，可以調(diào)整圖像質(zhì)量。該系統(tǒng)即使在高分辨率下也能提供出色的圖像，另一個(gè)特點(diǎn)是減輕荷電樣品杯，在不需要大倍數(shù)的塑料表面觀察時(shí)，濺射不是必需的。如果選擇濺射，得到更好的圖像質(zhì)量水平是可行的?？赏扑]的一種配件是夾具，作為導(dǎo)電膠粘劑表面的另一種用途，它要求接觸面積盡可能的光滑。使用EDX和AIM擴(kuò)展應(yīng)用程序也很簡(jiǎn)單，可在很短的時(shí)間內(nèi)會(huì)帶來(lái)好的結(jié)果。在報(bào)告和拼接圖像的擴(kuò)展方面，軟件的優(yōu)化將是未來(lái)使用的理想選擇。[詳細(xì)]

  2024-09-14 19:13

  應(yīng)用文章

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• 電子元器件測(cè)試方案

  電子元器件測(cè)試方案[詳細(xì)]

  2024-09-14 21:22

  選購(gòu)指南

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• 復(fù)合材料的切割

  復(fù)合材料的切割[詳細(xì)]

  2024-09-12 16:13

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• Park NX20 業(yè)界領(lǐng)先的針對(duì)失效分析和大樣本研究的原子力顯微鏡

  Park的串?dāng)_消除技術(shù)不僅改善了掃描器弓形彎曲的缺點(diǎn)，還能夠在不同掃描位置，掃描速率和掃描尺寸條件下進(jìn)行平直正交XY軸掃描。即使Z平坦的樣品也不會(huì)出現(xiàn)如光學(xué)平面,各種偏移掃描等曲率的背景。由此為您在研究中遇到的所有極具挑戰(zhàn)性的問題提供高精度的納米測(cè)量。 [詳細(xì)]

  2024-09-14 19:11

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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