本文由 杭州九環(huán)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

2018-09-14 10:00 339閱讀次數(shù)

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  2018-10-13 10:00

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  標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T5170.14-2009中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)代替標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T5170.14-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái),標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本部分規(guī)定了振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)在進(jìn)行定型鑒定、出廠檢驗(yàn)和定期檢驗(yàn)時(shí)的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)時(shí)的一般規(guī)定、檢驗(yàn)方法及檢驗(yàn)結(jié)果等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.10《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分:試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)（正弦）》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)系統(tǒng)（以下簡(jiǎn)稱振動(dòng)臺(tái)）基本參數(shù)的檢驗(yàn)方法。對(duì)于帶有水平工作臺(tái)的振動(dòng)臺(tái),檢驗(yàn)項(xiàng)目中除頻率指示誤差、頻率穩(wěn)定度、振動(dòng)幅值指示誤差、掃頻速率誤差、臺(tái)面溫度外,其余均應(yīng)參照檢驗(yàn)方法中的相應(yīng)條款進(jìn)行檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)前言:GB/T5170分為如下部分:---GB/T5170.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則---GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.13電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)---GB/T5170.14電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)---GB/T5170.15電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)---GB/T5170.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)---GB/T5170.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.19電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.20電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備---GB/T5170.21電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)（隨機(jī)）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)本部分是GB/T5170的第14部分。本部分代替GB/T5170.14-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)》。本部分與GB/T5170.14-1985相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:---標(biāo)準(zhǔn)名稱《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)》改為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)》。---增加了范圍一章。---增加了規(guī)范性引用文件一章。---增加了術(shù)語(yǔ)和定義一章。---在檢驗(yàn)用主要儀器及要求一章中,給出了檢驗(yàn)用儀器的測(cè)量結(jié)果擴(kuò)展不確定度（d=2）的要求。---增加了檢驗(yàn)條件一章。---在一般規(guī)定一章,要求檢驗(yàn)用負(fù)載表面光潔度不低于7級(jí)改為表面粗糙度Ra優(yōu)于6.4μm;將第3條移至范圍一章。---在檢驗(yàn)方法一章,對(duì)圖1進(jìn)行了修改,刪除了圖2~圖7;關(guān)于Zda動(dòng)態(tài)力的檢驗(yàn),運(yùn)動(dòng)部件等效質(zhì)量改用動(dòng)圈質(zhì)量,并刪除了對(duì)應(yīng)的附錄運(yùn)動(dòng)部件等效質(zhì)量的測(cè)量方法;增加了8.3.4臺(tái)面一階共振頻率的檢驗(yàn)和圖2;加速度單位由改為m/s2;加速度波形失真度的檢驗(yàn)改為臺(tái)面加速度諧波失真度的檢驗(yàn);對(duì)臺(tái)面加速度幅值均勻度的檢驗(yàn)1條進(jìn)行了修改;本底噪聲加速度的檢驗(yàn)改為試驗(yàn)系統(tǒng)加速度信噪比的檢驗(yàn);修改了8.12掃頻速率誤差的檢驗(yàn)。---增加了數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果一章。---增加了檢驗(yàn)周期一章。---附錄A改為資料性附錄,并對(duì)檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇作出了修改。---附錄B改為資料性附錄,并對(duì)基本參數(shù)的指標(biāo)要求作出了修改。本部分的附錄A、附錄B為資料性附錄。本部分由ZG電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人:鄭術(shù)力、肖建紅。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:---GB/T5170.14-1985。引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過(guò)GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc:振動(dòng)（正弦）電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)（正弦）（IEC6006826:1995,IDT）GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):11次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2009-9-13[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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